[發明專利]一種建筑物尺寸測量方法

有效

• 申請號: 202010335323.1
• 申請日: 2020-04-24
• 公開（公告）號: CN111412888B
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發明（設計）人: 武一葦
• 申請（專利權）人: 武漢派涅爾科技有限公司
• 主分類號: G01C1/00
• 分類號: G01C1/00;G01C15/00;G01S15/88;G01S17/88
• 代理公司: 成都頂峰專利事務所(普通合伙) 51224
• 代理人: 左正超

1.一種建筑物尺寸測量方法，其是基于一種建筑物尺寸測量系統作出的，其特征在于：建筑物尺寸測量系統包括視覺檢測裝置(1)和與視覺檢測裝置(1)對應設置的標靶(2)，所述視覺檢測裝置(1)設置在建筑物(3)的待檢測點上，所述標靶(2)設置在遠離建筑物(3)的任一基準點上，所述標靶(2)為多面體結構，所述視覺檢測裝置(1)可移動地設置在建筑物(3)上；建筑物尺寸測量方法包括以下步驟：

使視覺檢測裝置(1)與建筑物(3)的待檢測點對應；

使標靶(2)與遠離建筑物(3)的任一基準點對應，在標靶(2)上預設多個特征點，得到標靶(2)的各特征點之間的距離；

視覺檢測裝置(1)測量標靶(2)的各特征點的方位信息；

根據標靶(2)的各特征點之間的距離和標靶(2)的各特征點的方位信息，得到標靶(2)相對于視覺檢測裝置(1)的第一位姿；

得到視覺檢測裝置(1)相對于標靶(2)的第一位姿。

2.根據權利要求1所述的一種建筑物尺寸測量方法，其特征在于：所述得到視覺檢測裝置(1)相對于標靶(2)的第一位姿的步驟后，還包括以下步驟：

移動視覺檢測裝置(1)，使視覺檢測裝置(1)與建筑物(3)的其他待檢測點對應；

視覺檢測裝置(1)再次測量標靶(2)的各特征點的方位信息；

根據標靶(2)的各特征點之間的距離和再次測量到的標靶(2)的各特征點的方位信息，得到標靶(2)相對于視覺檢測裝置(1)的第二位姿；

得到視覺檢測裝置(1)相對于標靶(2)的第二位姿；

根據視覺檢測裝置(1)相對于標靶(2)的第一位姿和視覺檢測裝置(1)相對于標靶(2)的第二位姿，得到視覺檢測裝置(1)相對于標靶(2)的平均位姿。

3.根據權利要求1所述的一種建筑物尺寸測量方法，其特征在于：所述使標靶(2)與遠離建筑物(3)的任一基準點對應的步驟中，還包括以下步驟：

調整標靶(2)的位置，使標靶(2)的底面與水平面平行。

4.根據權利要求3所述的一種建筑物尺寸測量方法，其特征在于：所述根據標靶(2)的各特征點之間的距離和標靶(2)的各特征點的方位信息，得到標靶(2)相對于視覺檢測裝置(1)的第一位姿的步驟包括：

根據標靶(2)的各特征點之間的距離和標靶(2)的各特征點的方位信息，計算各特征點的坐標；

根據各特征點的坐標，得到標靶(2)的體心的坐標；

根據標靶(2)的體心的坐標，得到標靶(2)繞指定軸的旋轉角度；

根據標靶(2)的體心的坐標和標靶(2)繞指定軸的旋轉角度，得到標靶(2)相對于視覺檢測裝置(1)的第一位姿。

5.根據權利要求1或2所述的一種建筑物尺寸測量方法，其特征在于：所述標靶(2)設置有多個，多個所述標靶(2)分散設置，多個所述標靶(2)分別設置在遠離建筑物(3)的多個基準點上；所述得到視覺檢測裝置(1)相對于標靶(2)的第一位姿的步驟后，還包括以下步驟：

得到各標靶(2)之間的位置信息；

在其他標靶(2)上預設多個特征點，得到其他標靶(2)的各特征點之間的距離；

視覺檢測裝置(1)測量其他標靶(2)的各特征點的方位信息；

根據其他標靶(2)的各特征點之間的距離和標靶(2)的各特征點的方位信息，得到其他標靶(2)相對于視覺檢測裝置(1)的第一位姿；

得到視覺檢測裝置(1)相對于其他標靶(2)的第一位姿；

根據視覺檢測裝置(1)相對于標靶(2)的第一位姿、視覺檢測裝置(1)相對于其他標靶(2)的第一位姿和各標靶(2)之間的位置信息，得到視覺檢測裝置(1)相對于所有標靶(2)的平均第一位姿。

6.根據權利要求5所述的一種建筑物尺寸測量方法，其特征在于：所述得到視覺檢測裝置(1)相對于所有標靶(2)的平均第一位姿的步驟后，還包括以下步驟：

采用最小二乘法對視覺檢測裝置(1)相對于所有標靶(2)的平均第一位姿進行誤差修正。