[發明專利]一種基于三層微芯片檢測的LAMP檢測芯片及其控制方法

有效

• 申請號: 202010330178.8
• 申請日: 2020-04-24
• 公開（公告）號: CN111363664B
• 公開（公告）日: 2023-06-30
• 發明（設計）人: 趙臣;孟桂先;趙陽;張津豪;李志強;趙佳琪;蔣克明;周武平;劉聰;劉怡辰;李曉敏;黃淑瑜;王喆;劉春苗;盧欣博;趙鑫怡
• 申請（專利權）人: 吉林醫藥學院
• 主分類號: C12M1/00
• 分類號: C12M1/00;C12M1/34;C12Q3/00;C12Q1/6851
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理有限公司 11369
• 代理人: 許小東

1.一種基于三層微芯片檢測的LAMP檢測芯片，其特征在于，包括：

第一層注入層，其包括第一加樣孔、第一加油孔和多個第一廢液池排氣孔；

第二層負載層，其包括與所述第一加樣孔相連通的第二加樣孔、與所述第一加油孔相連通的第二加油孔和與所述第一廢液池排氣孔對應設置的多個負載區；

其中，所述負載區包括與所述第二加油孔相連通的第一分油孔和與所述第一廢液池排氣孔相連通的第二廢液池排氣孔；

第三層反應層，其包括所述第二加樣孔相連通的第三加樣孔和與所述負載區對應設置的多個反應區；

其中，所述反應區包括：

試劑微室，其一端與所述第三加樣孔連通；

混合室，其一端與所述試劑微室的另一端連通；

第二分油孔，其與所述混合室的一端連通，且與所述第一分油孔連通；

LAMP反應區，其一端與所述混合室的另一端連通；

廢液池，其與所述LAMP反應區的另一端連通；

第三廢液池排氣孔，其設置在所述廢液池上，且與所述第二廢液池排氣孔連通；

所述負載區還包括：

多條分油通道，其一端均與所述第二加油孔連通，另一端與所述第一分油孔連通；

所述混合室呈螺旋排布；

所述多個反應區中任意一個LAMP反應區均包括：

相連通的多個反應微室，其呈蛇形排布。

2.根據權利要求1所述的基于三層微芯片檢測的LAMP檢測芯片，其特征在于，還包括：

多個第一存氣室，其分別對應設置在所述負載區中；

多個第二存氣室，其分別對應設置在所述反應區中，且設置在連通所述混合室和所述LAMP反應區之間的通道上；

其中，所述第一存氣室與所述第二存氣室相連通。

3.根據權利要求2所述的基于三層微芯片檢測的LAMP檢測芯片，其特征在于，所述反應微室為通過長方體結構的凸起分隔成的多個反應空間，所述長方體結構的長度為375～425μm，寬度為100～150μm，高度為69～79μm。

4.根據權利要求3所述的基于三層微芯片檢測的LAMP檢測芯片，其特征在于，所述長方體結構之間的間隔為80～120μm。

5.一種基于三層微芯片檢測的LAMP檢測芯片的控制方法，其特征在于，使用如權利要求1-4中任一項所述的基于三層微芯片檢測的LAMP檢測芯片，包括如下步驟：

步驟一、進行進油過程，油相通過所述第一加油孔進行注油，通過所述第二加油孔進入所述第二層負載層，由所述分油通道分成多條油道連接的所述第一分油孔，由所述第一分油孔進入所述第三層反應層中；

其中，所述第二分油孔用于接收所述第二層負載層的油相，并通過所述第二分油孔進入主通道，流經所述混合室進入所述LAMP反應區并充滿整個反應微室，多余的油相流入所述廢液池，且在油相充滿反應微室后密封所述第一加油孔保證壓強；

步驟二、進行進樣過程，樣品通過所述第一加樣孔流經所述第二加樣孔，直接進入位于所述第三加樣孔，樣品流經試劑微室沖走位于所述試劑微室的試劑干粉，并進入所述混合室進行充分混勻，此時，所述第一加油孔處于密封狀態，樣品繼續進入所述LAMP反應區，并取代所述反應微室中的油相，多余的水相流入所述廢液池；

步驟三、再次進行進油過程，通過所述第一加油孔注入油相，依次流經第二加油孔、分油通道、第一分油孔、進油通道、第二分油孔、混合室到達LAMP反應區切割水相，與殘留在反應微室中的油層結合密封，包裹密封反應體系；

步驟四、進行LAMP反應檢測。