[發明專利]彩色圖像的直線檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010327974.6
• 申請日: 2020-04-23
• 公開（公告）號: CN111696072B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: 馮大政;張煥煥
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13
• 代理公司: 西安嘉思特知識產權代理事務所(普通合伙) 61230
• 代理人: 李園園

1.一種彩色圖像的直線檢測方法，其特征在于，包括：

獲取彩色圖像；

對所述彩色圖像進行彩色圖像邊緣檢測得到三個通道的彩色邊緣圖像；

對所述三個通道的彩色邊緣圖像分別進行正/逆漏斗變換得到三個通道的正/逆參數空間；

對所述三個通道的正/逆參數空間分別進行融合得到彩色圖像的二維正/逆參數空間；

對所述彩色圖像的二維正/逆參數空間進行峰值點檢測得到檢測峰值列表，所述檢測峰值列表中包括若干參數點；

對所述檢測峰值列表中若干參數點進行驗證以完成所述彩色圖像中直線的檢測；其中，

對所述三個通道的彩色邊緣圖像分別進行正/逆漏斗變換得到三個通道的正/逆參數空間，包括：對所述三個通道的彩色邊緣圖像分別進行正漏斗變換得到三個通道的正參數空間；對所述三個通道的彩色邊緣圖像分別進行逆漏斗變換得到三個通道的逆參數空間；

對所述三個通道的正/逆參數空間分別進行融合得到彩色圖像的二維正/逆參數空間，包括：采用向量二范數融合算子對所述三個通道的正參數空間分別進行融合得到彩色圖像的二維正參數空間；采用所述向量二范數融合算子對所述三個通道的逆參數空間分別進行融合得到彩色圖像的二維逆參數空間；

對所述檢測峰值列表中若干參數點進行驗證以完成所述彩色圖像中直線的檢測，包括：根據所述檢測峰值列表中每個參數點和預設直線的關系，得到所述檢測峰值列表中每個參數點對應的直線參數信息；根據所述直線參數信息創建一預設寬度的矩形條帶，所述直線參數信息對應的直線位于所述矩形條帶的中間位置；沿著預設方向對所述矩形條帶內的彩色圖像作一維積分得到積分結果；根據所述積分結果判斷彩色圖像中真實直線的存在情況，響應于彩色圖像中存在真實直線，確定所述直線參數信息對應的參數點為真峰值點并保留；根據所述保留的真峰值點得到彩色圖像中最終的檢測直線以完成所述彩色圖像中直線的檢測。

2.根據權利要求1所述的彩色圖像的直線檢測方法，其特征在于，對所述彩色圖像進行彩色圖像邊緣檢測得到三個通道的彩色邊緣圖像，包括：

對所述彩色圖像進行平滑去噪處理得到去噪后的彩色圖像；

分別計算所述去噪后的彩色圖像中三個通道的梯度矢量，由所述梯度矢量構成雅可比矩陣，并對所述雅可比矩陣進行梯度融合得到三個通道的彩色圖像邊緣梯度像素集合；

對所述三個通道的彩色圖像邊緣梯度像素集合進行篩選得到所述三個通道的彩色邊緣圖像。

3.根據權利要求1所述的彩色圖像的直線檢測方法，其特征在于，對所述彩色圖像的二維正/逆參數空間進行峰值點檢測得到檢測峰值列表，所述檢測峰值列表中包括若干參數點，包括：

將所述彩色圖像的二維正/逆參數空間中所有參數點進行降序排序得到候選峰值列表；

構建一狀態矩陣，根據所述狀態矩陣標記所述候選峰值列表中參數點的訪問情況得到所述檢測峰值列表。

4.根據權利要求3所述的彩色圖像的直線檢測方法，其特征在于，根據所述狀態矩陣標記所述候選峰值列表中參數點的訪問情況得到所述檢測峰值列表，包括：

對所述候選峰值列表中參數點逐一進行訪問；

響應于所述候選峰值列表中參數點在所述狀態矩陣對應位置的預設領域內未被訪問過，由未被訪問過的所有參數點得到所述檢測峰值列表。