[發明專利]加工系統和加工方法在審
| 申請號: | 202010326967.4 | 申請日: | 2020-04-23 |
| 公開(公告)號: | CN111857044A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發明(設計)人: | 前川進;佟正 | 申請(專利權)人: | 發那科株式會社 |
| 主分類號: | G05B19/402 | 分類號: | G05B19/402 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 加工 系統 方法 | ||
本發明提供一種加工系統和加工方法,能夠在不增大加工的循環時間的情況下準確地測定出工件的位置。加工系統具備:治具,用于保持多個工件;測定裝置,測定保持在治具上的多個工件;以及加工裝置,加工所述多個工件,治具具有被加工裝置進行定位或位置檢測的基準部,測定裝置具有:測定部,測定保持在治具上的多個工件相對于基準部的位置關系;以及輸入部,使用存儲介質或通信來向加工裝置輸入測定部測定出的多個工件的位置信息,加工裝置具有:治具坐標系指定部,通過對治具的基準部進行定位或位置測定來指定治具的坐標系;以及工件坐標系設定部,基于治具坐標系指定部指定的治具的坐標系和從輸入部輸入的位置信息,來單獨設定多個工件的坐標系。
技術領域
本發明涉及一種加工系統和加工方法。
背景技術
例如在加工中心等加工裝置中加工工件時,有時需要測定保持在加工裝置內的工件的位置(包括姿勢信息),來決定工具與工件的相對位置。當在加工裝置內測定工件的形狀時,由于循環時間變長,因此加工效率有可能下降。另外,當長時間休止加工來進行工件的測定時,在測定期間加工裝置的溫度下降,加工時溫度再次上升,因此有可能由于熱位移導致加工精度下降。
作為以比較短的時間來測定工件的位置的方法,存在使用圖像處理技術的方法。作為示例,在下述專利文獻1中公開了一種具備工件校正裝置的加工裝置,其特征在于,具備:移動單元,其用于保持工件;攝像單元,其配置于對保持于該移動單元的工件的被加工部位進行攝像的攝像區;以及位置偏差檢測單元,其根據由該攝像單元拍攝到的圖像,來檢測所述被加工部位的位置偏差,所述加工裝置根據所述位置偏差以及從所述攝像區至用于加工所述被加工部位的加工區的規定的移動距離來驅動所述移動單元,由此對所述位置偏差進行校正,并且使工件從所述攝像區移動到所述加工區。
專利文獻1:日本特開2007-265237號公報
發明內容
如專利文獻1所記載的那樣,如果在加工裝置內設置攝像單元,則例如有可能由于切屑、切削油等造成的攝像單元的污損、工件的照明不良以及振動等導致無法適當地對工件進行攝像,從而無法準確地測定出工件的位置。因此,謀求一種能夠不增大加工的循環時間而準確地測定出工件的位置的技術。
本公開的一個方式所涉及的加工系統具備:治具,其用于保持多個工件;測定裝置,其測定保持在所述治具上的多個工件;以及加工裝置,其加工保持在所述治具上的多個工件,其中,所述治具具有被所述加工裝置進行定位或位置檢測的基準部,所述測定裝置具有:測定部,其測定保持在所述治具上的所述多個工件相對于所述基準部的位置關系;以及輸入部,其使用記錄介質或通信來向所述加工裝置輸入所述測定部測定出的所述多個工件的位置信息,所述加工裝置具有:治具坐標系指定部,其通過對所述治具的基準部進行定位或位置測定來指定所述治具的坐標系;以及工件坐標系設定部,其基于所述治具坐標系指定部指定的所述治具的坐標系和從所述輸入部輸入的所述位置信息,來單獨設定所述多個工件的坐標系。
本公開的其它方式所涉及的加工方法具備以下工序:在具有被加工裝置進行定位或位置檢測的基準部的治具上保持多個工件;測定保持在所述治具上的所述多個工件相對于所述基準部的位置關系;將所述治具移動到所述加工裝置;通過由所述加工裝置對所述治具的基準部進行定位或位置測定,來指定所述治具的坐標系;基于所述治具的坐標系、以及所述多個工件相對于所述基準部的位置關系,來單獨設定所述多個工件的坐標系;以及使用所述工件的坐標系由所述加工裝置加工所述工件。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于發那科株式會社,未經發那科株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010326967.4/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:電子照相帶和電子照相圖像形成設備
- 下一篇:電子裝置





