[發明專利]手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置

在審

• 申請號: 202010315487.8
• 申請日: 2020-04-21
• 公開（公告）號: CN111398754A
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發明（設計）人: 王建峰
• 申請（專利權）人: 深圳市嘉德真空光電有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;B65G15/20;B23K26/362;B23K26/70
• 代理公司: 廣州市南鋒專利事務所有限公司 44228
• 代理人: 鄭學偉;葉利軍

本發明公開手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置；包括主控制器、用以輸送真空鍍膜手機后蓋來料的來料輸送裝置、用以感應真空鍍膜手機后蓋來料并對真空鍍膜手機后蓋來料進行定位的來料感應及定位裝置、用以測量定位好的真空鍍膜手機后蓋來料納米膜層電阻值的電阻自動測量裝置、用以對絕緣性能檢測合格的真空鍍膜手機后蓋來料邊緣打產品標識碼的激光打碼裝置及用以對絕緣性能檢測合格并打有產品標識碼的真空鍍膜手機后蓋來料及絕緣性能檢測不合格的真空鍍膜手機后蓋來料背面進行覆膜的來料背面覆膜裝置；效果：本發明可自動測量真空鍍膜手機后蓋來料電阻值以評估其絕緣性能，使得節省人力，降低勞動成本。

技術領域

本發明涉及自動化設備技術領域，具體地講，涉及一種手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置。

背景技術

在現有技術中，對于采用塑料材質、亞克力材質或PC材質制作的真空鍍膜后的手機后蓋，因其外表需要預先嵌入手機天線，所以為了不影響手機天線的信號強度，就需要相應材質制作的真空鍍膜后的手機后蓋具有很好的絕緣性能，而判斷相應材質制作的真空鍍膜后的手機后蓋的絕緣性能主要指標則為測定其電阻值，當其電阻值高于行業所規定的4000歐姆時，則判斷其絕緣性能良好。

而在現階段，對于相應材質制作的真空鍍膜后的手機后蓋的電阻值的測量，一般均是通過電阻值測量儀一個個的手動進行測量，如此一來，則使得浪費人力，增加人工勞動成本，且使得不能有效提高測量速度而加快測量周期，同時，人工手動測量時還易觸碰壞或劃壞相應材質制作的真空鍍膜后的手機后蓋，使得額外增加不良品，并且，在電阻值測量完畢后，還需要對電阻值所測過的相應材質制作的真空鍍膜后的手機后蓋背面進行覆膜，以保護其不易被外物碰壞或劃壞，而傳統的覆膜工藝同樣為人工手動進行，使得同樣浪費人力、增加人工勞動成本，并使得覆膜效率低下。

因此，現有問題有待解決。

發明內容

本發明的目的在于克服上述現有技術之不足而提供的一種手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置。

本發明解決現有技術問題所采用的技術方案是：一種手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置，用以對手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能進行檢測，包括主控制器，還包括：

來料輸送裝置；所述來料輸送裝置沿前后方向設置，與所述主控制器相連，用以向前輸送真空鍍膜手機后蓋來料；

來料感應及定位裝置；所述來料感應及定位裝置設于所述來料輸送裝置前中部，與所述主控制器相連，用以感應真空鍍膜手機后蓋來料，并對真空鍍膜手機后蓋來料進行定位；

電阻自動測量裝置；所述電阻自動測量裝置架設于所述來料輸送裝置上，并位于所述來料感應及定位裝置正上方，與所述主控制器相連，用以測量定位好的真空鍍膜手機后蓋來料納米膜層電阻值，以評估其絕緣性能；

激光打碼裝置；所述激光打碼裝置架設于所述來料輸送裝置上，并位于所述電阻自動測量裝置前側，與所述主控制器相連，用以對經過其下方的絕緣性能檢測合格的真空鍍膜手機后蓋來料邊緣打產品標識碼；

來料背面覆膜裝置；所述來料背面覆膜裝置設于所述來料輸送裝置前側，與所述來料輸送裝置相銜接，并與所述主控制器相連，用以對所述來料輸送裝置向前輸送的絕緣性能檢測合格并打有產品標識碼的真空鍍膜手機后蓋來料及絕緣性能檢測不合格的真空鍍膜手機后蓋來料背面進行覆膜。

下面對以上技術方案作進一步闡述：

優選地，所述來料輸送裝置包括機架A、與所述主控制器相連的驅動電機A、多個主動輪A、多個從動輪A及多根用以輸送真空鍍膜手機后蓋來料的傳動輪帶A；