[發明專利]手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置

在審

• 申請號: 202010315487.8
• 申請日: 2020-04-21
• 公開（公告）號: CN111398754A
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發明（設計）人: 王建峰
• 申請（專利權）人: 深圳市嘉德真空光電有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;B65G15/20;B23K26/362;B23K26/70
• 代理公司: 廣州市南鋒專利事務所有限公司 44228
• 代理人: 鄭學偉;葉利軍

1.一種手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置，用以對手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能進行檢測，包括主控制器，其特征在于，還包括：

來料輸送裝置；所述來料輸送裝置沿前后方向設置，與所述主控制器相連，用以向前輸送真空鍍膜手機后蓋來料；

來料感應及定位裝置；所述來料感應及定位裝置設于所述來料輸送裝置前中部，與所述主控制器相連，用以感應真空鍍膜手機后蓋來料，并對真空鍍膜手機后蓋來料進行定位；

電阻自動測量裝置；所述電阻自動測量裝置架設于所述來料輸送裝置上，并位于所述來料感應及定位裝置正上方，與所述主控制器相連，用以測量定位好的真空鍍膜手機后蓋來料納米膜層電阻值，以評估其絕緣性能；

激光打碼裝置；所述激光打碼裝置架設于所述來料輸送裝置上，并位于所述電阻自動測量裝置前側，與所述主控制器相連，用以對經過其下方的絕緣性能檢測合格的真空鍍膜手機后蓋來料邊緣打產品標識碼；

來料背面覆膜裝置；所述來料背面覆膜裝置設于所述來料輸送裝置前側，與所述來料輸送裝置相銜接，并與所述主控制器相連，用以對所述來料輸送裝置向前輸送的絕緣性能檢測合格并打有產品標識碼的真空鍍膜手機后蓋來料及絕緣性能檢測不合格的真空鍍膜手機后蓋來料背面進行覆膜。

2.根據權利要求1所述的手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置，其特征在于，所述來料輸送裝置包括機架A、與所述主控制器相連的驅動電機A、多個主動輪A、多個從動輪A及多根用以輸送真空鍍膜手機后蓋來料的傳動輪帶A；

所述機架A包括沿前后方向相并排設置的左護圍A、右護圍A、立于所述左護圍A底部的左支腳A、立于所述右護圍A底部的右支腳A、可轉動的連接于所述左護圍A右端面后部與所述右護圍A左端面后部之間的后轉桿A及可轉動的連接于所述左護圍A右端面前部與所述右護圍A左端面前部之間的前轉桿A；所述前轉桿A與所述后轉桿A相齊平并相平行設置；多個所述主動輪A均勻套固于所述后轉桿A上；多個所述從動輪A均勻套固于所述前轉桿A上；所述驅動電機A朝右固設于所述左護圍A左端面后部，其右端轉軸與所述后轉桿A左端固定連接；多根所述傳動輪帶A對應套固于前后位置相對的相應主動輪A與相應從動輪A之間。

3.根據權利要求2所述的手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置，其特征在于，所述機架A還包括固定于所述左護圍A右端面后部與所述右護圍A左端面后部之間的后連接板A、固定于所述左護圍A右端面前部與所述右護圍A左端面前部之間的前連接板A及均勻連接于所述后連接板A與所述前連接板A之間的多根橫條；

所述后連接板A位于所述后轉桿A前側并鄰近所述后轉桿A而穿套于多根所述傳動輪帶A后端內；所述前連接板A位于所述前轉桿A后側并鄰近所述前轉桿A而穿套于多根所述傳動輪帶A前端內；多根所述橫條對應位于多根所述傳動輪帶A內，其上端面對應抵貼多根所述傳動輪帶A內頂面。

4.根據權利要求3所述的手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置，其特征在于，所述來料感應及定位裝置包括與所述主控制器相連的來料感應器、與所述主控制器相連的升降氣缸A、升降板A及多根定位柱；

所述左護圍A右端面前下沿與所述右護圍A左端面前下沿之間水平的固設有一托板；所述來料感應器及所述升降氣缸A從后至前依次朝上固于所述托板上；所述升降板A水平的固設于所述升降氣缸A上端氣缸桿頂部，其高度低于多根所述傳動輪帶A下底面所在高度；多根所述定位柱從左至右均勻豎向固設于所述升降板A上，并對應位于多根所述傳動輪帶A之間，且其高度均略低于多根所述傳動輪帶A上端面所在高度。