[發明專利]一種芯片壓蓋治具及其工藝方法在審
| 申請號: | 202010311691.2 | 申請日: | 2020-04-20 |
| 公開(公告)號: | CN111415891A | 公開(公告)日: | 2020-07-14 |
| 發明(設計)人: | 徐堃;丹尼羅;沈國強;薛文華 | 申請(專利權)人: | 星科金朋半導體(江陰)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/50;H01L21/56 |
| 代理公司: | 南京經緯專利商標代理有限公司 32200 | 代理人: | 趙華 |
| 地址: | 214434 江蘇省無錫*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 芯片 壓蓋 及其 工藝 方法 | ||
1.一種芯片壓蓋治具,其特征在于,其由下而上依次包括載具(10)、漏字板(20)和壓字板(30),所述載具(10)和漏字板(20)之間設置基板(40),所述基板(40)的芯片貼片區域朝上,所述載具(10)、漏字板(20)和壓字板(30)的形狀與基板(40)的形狀一致;
所述載具(10)上設有若干個載具固定件Ⅰ(11)、若干個載具固定件Ⅱ(12)、若干個導正銷(13)、若干個定位長針(16)和若干個真空孔陣列(18),所述載具固定件Ⅰ(11)和載具固定件Ⅱ(12)分別均勻設置于載具(10)的上沿和下沿,固定其上方的漏字板(20),所述定位長針(16)分別設置于相鄰載具固定件Ⅰ(11)之間、相鄰載具固定件Ⅱ(12)之間,定位其上方的漏字板(20)和壓字板(30),所述真空孔陣列(18)設置于載具(10)的內圍,與基板(40)的陣列對應,所述導正銷(13)設置于每一真空孔陣列(18)的對角線上,定位基板(40);
所述漏字板(20)上設有若干個漏字板固定件Ⅰ(21)、若干個漏字板固定件Ⅱ(22)、若干個定位孔26)、若干個盲孔(23)和漏字孔陣列,所述漏字板(20)的背面上下兩側各設有外臺階(24)和內臺階(25),并形成容納基板(40)的容納區間(29), 所述漏字板固定件Ⅰ(21)、漏字板固定件Ⅱ(22)分別均勻設置于漏字板(20)的外臺階(24),所述定位孔(26)設置于漏字板(20)的外臺階(24)上,與載具(10)上的定位長針(16)位置對應,所述盲孔(23)設置于漏字板(20)的內臺階(25)上,與載具(10)上的導正銷(13)位置對應,并與導正銷(13)配對使用;
所述漏字孔陣列設置于漏字板(20)的內圍,每個漏字孔陣列內的漏字孔(27)也按陣列排布,與基板(40)的芯片貼片區域對應,所述漏字孔(27)的尺寸大于芯片(41)的尺寸且小于基板(40)上的芯片貼片區域;
所述壓字板(30)上設有若干個壓字板固定件Ⅰ(31)、若干個壓字板固定件Ⅱ(32)、若干個定位孔(36)和凸塊陣列,所述壓字板固定件Ⅰ(31)、壓字板固定件Ⅱ(32)分別均勻設置于壓字板(30)的上沿和下沿,所述定位孔(36)分布于壓字板(30)的對角線上,與載具(10)上的定位長針(16)位置對應,所述凸塊陣列設置于壓字板(30)的背面,每個凸塊陣列內的凸塊(37)也按陣列排布,所有凸塊(37)的厚度一致,且與漏字板(20)的漏字孔(27)的分布對應,其尺寸小于漏字孔(27)的口徑大小。
2.根據權利要求1所述的芯片壓蓋治具,其特征在于,所述載具固定件Ⅰ(11)包括但不限于磁鐵塊、卡扣,載具固定件Ⅱ(12)包括但不限于磁鐵塊、卡扣,所述載具固定件Ⅰ(11)與載具固定件Ⅱ(12)對稱設置。
3.根據權利要求1所述的芯片壓蓋治具,其特征在于,所述漏字板固定件Ⅰ(21)包括但不限于磁鐵塊,漏字板固定件Ⅱ(22)包括但不限于磁鐵塊,漏字板固定件Ⅰ(21)與漏字板固定件Ⅱ(22)對稱設置。
4.根據權利要求1所述的芯片壓蓋治具,其特征在于,所述定位長針(16)設置于載具(10)對角線兩端。
5.根據權利要求1所述的芯片壓蓋治具,其特征在于,所述漏字板(20)的漏字板固定件Ⅰ(21)和漏字板固定件Ⅱ(22)與載具(10)的載具固定件Ⅰ(11)和載具固定件Ⅱ(12)對應。
6.根據權利要求1所述的芯片壓蓋治具,其特征在于,所述凸塊(37)的橫截面呈圓形、矩形或多邊形。
7.根據權利要求1所述的芯片壓蓋治具,其特征在于,所述壓字板固定件Ⅰ(31)包括但不限于磁鐵塊,壓字板固定件Ⅱ(32)包括但不限于磁鐵塊,所述壓字板固定件Ⅰ(31)與壓字板(30)的壓字板固定件Ⅱ(32)對稱設置。
8.根據權利要求1所述的芯片壓蓋治具,其特征在于,所述漏字孔(27)的橫截面呈龜狀、縱截面呈喇叭狀。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
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H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





