[發(fā)明專利]一種位置測定方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010301569.7 | 申請日: | 2020-04-16 |
| 公開(公告)號: | CN111537953A | 公開(公告)日: | 2020-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王侃 | 申請(專利權(quán))人: | 北京諾亦騰科技有限公司 |
| 主分類號: | G01S5/06 | 分類號: | G01S5/06 |
| 代理公司: | 北京華夏泰和知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11662 | 代理人: | 曾軍;李雪 |
| 地址: | 100102 北京市西*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 位置 測定 方法 裝置 | ||
本發(fā)明涉及虛擬現(xiàn)實技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種位置測定方法及裝置。該位置測定裝置包括參照部和至少三個測位機構(gòu),各所述測位機構(gòu)分別用于獲取所述參照部和待測定物體二者相對測位機構(gòu)自身的空間位置,以得到所述待測定物體與所述參照部之間的相對位置關(guān)系。采用這種位置測定裝置對待測定物體的空間位置進(jìn)行測定的過程中,即便測定機構(gòu)的位置發(fā)生變化,也基本不會影響測定結(jié)果的準(zhǔn)確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及虛擬現(xiàn)實技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種位置測定方法及裝置。
背景技術(shù)
隨著虛擬現(xiàn)實技術(shù)的不斷發(fā)展,許多場景下都可以借助虛擬現(xiàn)實技術(shù)輔助工作。例如,可以借助相機或紅外線攝像設(shè)備對移動的物體的位置進(jìn)行測定,具體來說,目前的三目位置標(biāo)定系統(tǒng)中,通常在空間內(nèi)的不同位置固定三個相機等具備獲取圖像的設(shè)備,然后通過借助三個相機分別對待測定物體的實際位置進(jìn)行測定,并統(tǒng)一傳輸至計算機等數(shù)據(jù)處理設(shè)備內(nèi),通過對三個相機所獲取的實時圖像進(jìn)行分析,可以得到待測定物體相對其自身的初始位置或上一時間點的位置所發(fā)生的相對改變。
但是,在位置測定過程中,可能會因為固定相機的安裝架發(fā)生晃動等原因,而造成相機的固定位置發(fā)生改變,這就會造成對物體所測定的物體位置的值出現(xiàn)偏差,進(jìn)而對后續(xù)工作的進(jìn)行產(chǎn)生較大的不利影響。
發(fā)明內(nèi)容
(一)本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:目前的三目位置標(biāo)定系統(tǒng)在工作過程中,一旦相機位置的位置發(fā)生變化,就會造成整個三目位置標(biāo)定系統(tǒng)對物體位置的測定出現(xiàn)偏差,影響后續(xù)工作進(jìn)程的進(jìn)行。
(二)技術(shù)方案
為了實現(xiàn)上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種位置測定方法,其包括:
S1、獲取參照部的初始空間位置A初;
S2、經(jīng)過設(shè)定時長,獲取所述參照部和待測定物體二者各自的測定空間位置A測和B測;
S3、計算所述A測與所述A初的差A(yù)差;
S4、求和所述B測和所述A差,得到待測定物體相對所述參照部的實際空間位置B實。
基于上述所提供的位置測定方法,本發(fā)明還提供一種位置測定裝置,其采用上述位置測定方法,其包括參照部和至少三個測位機構(gòu),各所述測位機構(gòu)分別用于獲取所述參照部和待測定物體二者相對所述測位機構(gòu)自身的空間位置,以得到所述待測定物體與所述參照部之間的相對位置關(guān)系。
可選地,本發(fā)明所提供的位置測定裝置還包括中控部,所述中控部與各所述測位機構(gòu)均連接,所述中控部用于對至少兩個空間位置進(jìn)行運算。
可選地,所述測位機構(gòu)設(shè)置有三個。
可選地,沿圍繞所述參照部的方向,任意相鄰的兩個所述測位機構(gòu)之間間隔的角度大于或等于60°。
可選地,沿豎直方向,各所述測位機構(gòu)均位于所述參照部的上方。
可選地,各所述測位機構(gòu)位于同一水平高度。
可選地,所述測位機構(gòu)為紅外攝像機。
可選地,各所述測位機構(gòu)轉(zhuǎn)動連接在安裝架上。
(三)有益效果
本發(fā)明提供一種位置測定方法及裝置,位置測定裝置采用該位置測定方法,在測定待測定物體空間位置的過程中,先得到參照部和待測定物體二者相對測定機構(gòu)的空間位置,進(jìn)而可以得到參照部和待測定物體之間的相對位置;然后,經(jīng)過設(shè)定時長后,采用同樣的方式和過程,再次得到參照部和待測定物體二者的相對空間位置。
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