[發明專利]一種存儲器老煉測試的電路板及方法

在審

• 申請號: 202010301192.5
• 申請日: 2020-04-16
• 公開（公告）號: CN111462810A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 趙五喜;劉剛奇;孟楠;張燕
• 申請（專利權）人: 西安太乙電子有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 房鑫

一種存儲器老煉測試的電路板及方法，電路板包括老煉主板，老煉主板上設置有主控制器和老煉輔板，老煉輔板上設置有主輔板接插件，老煉被測存儲器安裝在主輔板接插件上，主輔板接插件通過主板資源引出接口模塊連接主控制器，所述的主控制器連接程序存儲器，程序存儲器中設置有老煉向量，主控制器通過輸出結果指示模塊顯示老煉被測存儲器是否正常工作，主控制器通過設置在老煉主板上的主控制器電源電路進行供電。本發明存儲器老煉測試的電路板能夠產生不同頻率的高速時鐘信號，能夠模擬被測存儲器實際使用工作狀態，能夠實現器件內部高覆蓋率的邏輯節點翻轉，檢測老煉板上每一只器件所有管腳的輸入激勵信號和輸出信號，實際使用中方便易用。

技術領域

本發明屬于微電子器件可靠性篩選試驗領域，涉及一種存儲器老煉測試的電路板及方法。

背景技術

存儲器包括EPROM、FLASH、SRAM、SDRAM和DDR等器件，廣泛應用于軍工和航空航天整機裝備中，并且是該類裝備的重要部件，對其可靠性要求非常嚴格，而老煉是保證其可靠性的重要篩選手段。但由于存儲器存儲容量大(幾百兆到幾個G)、工作速度高(如DDR器件工作時鐘都在nS級)、通訊接口多樣(有并口、串口、SPI、I2C、串并結合)、時序復雜等，國產集成電路老煉設備存在工作頻率較低、老煉向量圖形編輯能力弱、I/O驅動能力差的問題，所以無法產生有效的老煉激勵信號實現對存儲器的動態老煉。老煉測試是將老煉與電性能測試有機結合在一起的方法，老煉時，給被測存儲器輸入一系列的時鐘、控制信號、地址信號等，在輸出端檢查信號是否和預測的正常輸出相符，整個老煉試驗過程中，模擬芯片的實際工作狀態，對老煉板上所有器件每個管腳的輸入輸出信號進行采樣并檢測，繼而實現對每一老煉電路進行功能測試，此方法能夠實現器件內部單元高覆蓋率的邏輯節點翻轉，能檢測故障到單元級，可檢測到“可恢復性”故障，也被認為是最有效的動態老煉方法。由于進行這種老煉所需要的設備既要有測試功能又要有老煉功能，試驗設備昂貴且環境要求特別苛刻，實現起來比較困難，所以對存儲器進行老煉測試，國內很少開展這方面的試驗研究。

發明內容

本發明的目的在于針對上述現有技術中存儲器老煉測試不便及成本較高的問題，提供一種存儲器老煉測試的電路板及方法，可靠性高，操作方便，能夠重復被同類器件重復使用。

為了實現上述目的，本發明存儲器老煉測試的電路板，包括老煉主板，老煉主板上設置有主控制器和老煉輔板，老煉輔板上設置有主輔板接插件，老煉被測存儲器安裝在主輔板接插件上，主輔板接插件通過主板資源引出接口模塊連接主控制器，所述的主控制器連接程序存儲器，程序存儲器中設置有老煉向量，主控制器通過輸出結果指示模塊顯示老煉被測存儲器是否正常工作，主控制器通過設置在老煉主板上的主控制器電源電路進行供電。

作為上述本發明電路板的一種優選方案，所述的老煉向量是一種根據被測器件時序和測試圖形而編程出的軟件代碼，由輸入測試矢量與輸出響應組成，其內容包括檢測存儲單元陣列中所有單元是否能正常地讀、寫和保持數據，行列地址譯碼器、寫驅動器及其他外圍電路是否正常工作，該軟件代碼在調試完成后被下載到程序存儲器中。

所述的輸出結果指示模塊通過指示燈進行顯示，老煉被測存儲器按照老煉向量遍歷完所有地址，進行寫、讀控制，寫進去的數據和讀出來的數據通過指示燈進行判斷，若數據一致，則判定老煉被測存儲器工作正常，若數據不一致，則判定老煉被測存儲器工作不正常。

在老煉測試時將該電路板連同老煉被測存儲器放置到高溫箱內進行。

本發明同時提供了所述存儲器老煉測試的電路板的測試方法，包括以下步驟：

根據老煉被測存儲器的時鐘速度、地址位、數據位選擇主控制器；

將需要進行測試的老煉向量編寫到程序存儲器當中；

對老煉被測存儲器進行初始化；

將老煉被測存儲器安裝在主輔板接插件上，并將電路板放置到高溫箱中；