[發明專利]一種存儲器老煉測試的電路板及方法

在審

• 申請號: 202010301192.5
• 申請日: 2020-04-16
• 公開（公告）號: CN111462810A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 趙五喜;劉剛奇;孟楠;張燕
• 申請（專利權）人: 西安太乙電子有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 房鑫

1.一種存儲器老煉測試的電路板，其特征在于：包括老煉主板(1)，老煉主板(1)上設置有主控制器(2)和老煉輔板(3)，老煉輔板(3)上設置有主輔板接插件(4)，老煉被測存儲器(5)安裝在主輔板接插件(4)上，主輔板接插件(4)通過主板資源引出接口模塊(8)連接主控制器(2)，所述的主控制器(2)連接程序存儲器(7)，程序存儲器(7)中設置有老煉向量，主控制器(2)通過輸出結果指示模塊(6)顯示老煉被測存儲器(5)是否正常工作，主控制器(2)通過設置在老煉主板(1)上的主控制器電源電路(9)進行供電。

2.根據權利要求1所述存儲器老煉測試的電路板，其特征在于：老煉向量是一種根據被測器件時序和測試圖形而編程出的軟件代碼，由輸入測試矢量與輸出響應組成，其內容包括檢測存儲單元陣列中所有單元是否能正常地讀、寫和保持數據，行列地址譯碼器、寫驅動器及其他外圍電路是否正常工作，該軟件代碼在調試完成后被下載到程序存儲器(7)中。

3.根據權利要求1所述存儲器老煉測試的電路板，其特征在于：所述的輸出結果指示模塊(6)通過指示燈進行顯示，老煉被測存儲器(5)按照老煉向量遍歷完所有地址，進行寫、讀控制，寫進去的數據和讀出來的數據通過指示燈進行判斷，若數據一致，則判定老煉被測存儲器(5)工作正常，若數據不一致，則判定老煉被測存儲器(5)工作不正常。

4.根據權利要求1所述存儲器老煉測試的電路板，其特征在于：

老煉測試時將該電路板連同老煉被測存儲器(5)放置到高溫箱內進行。

5.一種基于權利要求1-4中任意一項所述存儲器老煉測試的電路板的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

根據老煉被測存儲器(5)的時鐘速度、地址位、數據位選擇主控制器(2)；

將需要進行測試的老煉向量編寫到程序存儲器(7)當中；

對老煉被測存儲器(5)進行初始化；

將老煉被測存儲器(5)安裝在主輔板接插件(4)上，并將電路板放置到高溫箱中；

主控制器電源電路(9)進行供電，所述的主控制器(2)按照老煉向量產生老煉被測存儲器(5)所需的信號，老煉被測存儲器(5)按照老煉向量遍歷完所有地址，進行寫、讀控制，對比寫進去的數據和讀出來的數據進行判斷，如果數據一致，判定老煉被測存儲器(5)工作正常，如果數據不一致，則判定老煉被測存儲器(5)工作不正常。

6.根據權利要求5所述的測試方法，其特征在于，對老煉被測存儲器(5)進行初始化的具體步驟如下：通過邏輯控制模塊對其模式寄存器進行突發長度、突發類型、列延遲、工作模式和寫突發模式進行設置，然后再進行預充電、刷新、讀和寫操作，上述一系列的所有操作命令都同步于時鐘，根據時鐘上升沿控制管腳和地址輸入的狀態。