[發(fā)明專(zhuān)利]印刷電路板及孔圓柱度測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010280858.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-04-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113513975B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-07-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊之誠(chéng);林淡填;劉海龍;廖志強(qiáng);吳杰 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 深南電路股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01B7/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01B7/28;H05K1/02 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 瞿璨 |
| 地址: | 518117 廣東省深*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 印刷 電路板 圓柱 測(cè)試 方法 | ||
1.一種印刷電路板孔圓柱度測(cè)試方法,其特征在于,所述印刷電路板包括多層層疊設(shè)置的子印刷電路板層(10),所述印刷電路板上定義有穿設(shè)多層所述子印刷電路板層(10)的目標(biāo)孔(20),在每一所述子印刷電路板層(10),圍繞所述目標(biāo)孔(20)設(shè)置有多周測(cè)試導(dǎo)線(30),每周測(cè)試導(dǎo)線(30)間隔設(shè)置,每一周測(cè)試導(dǎo)線(30)均包括多段子測(cè)試導(dǎo)線(31);所述印刷電路板還設(shè)置有測(cè)試通孔(40),所述測(cè)試導(dǎo)線(30)由所述測(cè)試通孔(40)導(dǎo)出;所述測(cè)試方法包括:
對(duì)所述目標(biāo)孔(20)進(jìn)行鉆孔,檢測(cè)所述測(cè)試導(dǎo)線(30)的信號(hào)是否發(fā)生變化;
根據(jù)每一子印刷電路板層(10)測(cè)試導(dǎo)線(30)的信號(hào)變化,確定每一子印刷電路板層(10)的鉆孔偏離情況;
根據(jù)每一子印刷電路板層(10)的鉆孔偏離情況,擬合所述目標(biāo)孔(20)的圓柱度,
其中,所述根據(jù)每一子印刷電路板層(10)測(cè)試導(dǎo)線(30)的信號(hào)變化,確定每一子印刷電路板層(10)的鉆孔偏離情況,包括:
根據(jù)每一子印刷電路板層(10)每段子測(cè)試導(dǎo)線(31)的信號(hào)變化,確定每一子印刷電路板層(10)的鉆孔偏離方向,根據(jù)每一子印刷電路板層(10)中每周測(cè)試導(dǎo)線(30)的信號(hào)變化,確定每一子印刷電路板層(10)的鉆孔偏離距離。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述測(cè)試導(dǎo)線(30)的一端作為測(cè)試端(32)由所述測(cè)試通孔(40)導(dǎo)出;所述對(duì)所述目標(biāo)孔(20)進(jìn)行鉆孔,檢測(cè)所述測(cè)試導(dǎo)線(30)的信號(hào)是否發(fā)生變化,包括:
在對(duì)所述目標(biāo)孔(20)進(jìn)行鉆孔的過(guò)程中,檢測(cè)所述測(cè)試導(dǎo)線(30)的信號(hào)是否發(fā)生變化;
所述根據(jù)每一子印刷電路板層(10)測(cè)試導(dǎo)線(30)的信號(hào)變化,確定每一子印刷電路板層(10)的鉆孔偏離情況,包括:
若所述測(cè)試導(dǎo)線(30)導(dǎo)通,則確定鉆孔偏離,鉆頭(50)與所述測(cè)試導(dǎo)線(30)導(dǎo)通。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述測(cè)試導(dǎo)線(30)的兩端均作為測(cè)試端(32)由所述測(cè)試通孔(40)導(dǎo)出;所述對(duì)所述目標(biāo)孔(20)進(jìn)行鉆孔,檢測(cè)所述測(cè)試導(dǎo)線(30)的信號(hào)是否發(fā)生變化,包括:
在對(duì)所述目標(biāo)孔(20)完成鉆孔后,檢測(cè)所述測(cè)試導(dǎo)線(30)的信號(hào)是否發(fā)生變化;
所述根據(jù)每一子印刷電路板層(10)測(cè)試導(dǎo)線(30)的信號(hào)變化,確定每一子印刷電路板層(10)的鉆孔偏離情況,包括:
若所述測(cè)試導(dǎo)線(30)斷開(kāi),則確定鉆孔偏離,鉆頭(50)使所述測(cè)試導(dǎo)線(30)斷開(kāi)。
4.一種印刷電路板,其特征在于,用于權(quán)利要求1-3任意一項(xiàng)所述的印刷電路板孔圓柱度測(cè)試方法,所述印刷電路板包括多層層疊設(shè)置的子印刷電路板層(10),所述印刷電路板上定義有穿設(shè)多層所述子印刷電路板層(10)的目標(biāo)孔(20),在每一所述子印刷電路板層(10),圍繞所述目標(biāo)孔(20)設(shè)置有多周測(cè)試導(dǎo)線(30),每一周測(cè)試導(dǎo)線(30)均包括多段子測(cè)試導(dǎo)線(31);所述印刷電路板還設(shè)置有測(cè)試通孔(40),所述測(cè)試導(dǎo)線(30)由所述測(cè)試通孔(40)導(dǎo)出。
5.如權(quán)利要求4所述的印刷電路板,其特征在于,每段所述子測(cè)試導(dǎo)線(31)均由所述測(cè)試通孔(40)導(dǎo)出。
6.如權(quán)利要求4所述的印刷電路板,其特征在于,所述測(cè)試導(dǎo)線(30)的一端作為測(cè)試端(32)由所述測(cè)試通孔(40)導(dǎo)出。
7.如權(quán)利要求4所述的印刷電路板,其特征在于,所述測(cè)試導(dǎo)線(30)的兩端均作為測(cè)試端(32)由所述測(cè)試通孔(40)導(dǎo)出。
8.如權(quán)利要求4所述的印刷電路板,其特征在于,所述在每一所述子印刷電路板層(10),圍繞所述目標(biāo)孔(20)設(shè)置有多周測(cè)試導(dǎo)線(30),每周測(cè)試導(dǎo)線(30)間隔設(shè)置。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于深南電路股份有限公司,未經(jīng)深南電路股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010280858.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





