[發明專利]基于貝葉斯框架下序貫網圖檢驗的測試性驗證方法及裝置

在審

• 申請號: 202010266656.3
• 申請日: 2020-04-07
• 公開（公告）號: CN111506877A
• 公開（公告）日: 2020-08-07
• 發明（設計）人: 王康;史賢俊;肖支才;聶新華;秦亮
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍海軍航空大學
• 主分類號: G06F17/18
• 分類號: G06F17/18;G06N7/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 楊明月

1.一種基于貝葉斯框架下序貫網圖檢驗的測試性驗證方法，其特征在于，包括：

對指標參數空間進行劃分，將原始檢驗問題劃分為m對假設檢驗問題；

計算序貫網圖的所有相關參數，所述相關參數是基于貝葉斯因子及對應的閾值、插入點位置選擇策略以及截尾策略計算得到；

根據所述序貫網圖的所有相關參數，設計測試性驗證方案，對所述假設檢驗問題進行驗證。

2.根據權利要求1所述的基于貝葉斯框架下序貫網圖檢驗的測試性驗證方法，其特征在于，所述對指標參數空間進行劃分，將原始檢驗問題劃分為m對假設檢驗問題，包括：

在給定的指標參數空間中插入m-1個點，以將原始檢驗問題劃分為m對假設檢驗問題。

3.根據權利要求1所述的基于貝葉斯框架下序貫網圖檢驗的測試性驗證方法，其特征在于，所述計算序貫網圖的所有相關參數，包括：

根據先驗信息，計算貝葉斯因子及對應的閾值；

設置插入點位置選擇策略；

設置截尾策略。

4.根據權利要求3所述的基于貝葉斯框架下序貫網圖檢驗的測試性驗證方法，其特征在于，所述根據先驗信息，計算貝葉斯因子及對應的閾值，包括：

根據先驗信息確定裝備試驗信息的先驗分布，計算貝葉斯因子及其閾值。

5.根據權利要求3所述的基于貝葉斯框架下序貫網圖檢驗的測試性驗證方法，其特征在于，所述設置插入點位置選擇策略，包括：

選取故障率檢測率指標插入點，以使樣本量的上界達到最小。

6.根據權利要求3所述的基于貝葉斯框架下序貫網圖檢驗的測試性驗證方法，其特征在于，所述設置截尾策略，包括：

基于使用方風險和承制方風險的約束條件，設置截尾策略，以得到截尾樣本量和最大允許截尾檢測失敗數。

7.一種基于貝葉斯框架下序貫網圖檢驗的測試性驗證裝置，其特征在于，包括：

空間劃分模塊，用于對指標參數空間進行劃分，將原始檢驗問題劃分為m對假設檢驗問題；

參數計算模塊，用于計算序貫網圖的所有相關參數，所述相關參數是基于貝葉斯因子及對應的閾值、插入點位置選擇策略以及截尾策略計算得到；

驗證模塊，用于根據所述序貫網圖的所有相關參數，設計測試性驗證方案，對所述假設檢驗問題進行驗證。

8.一種電子設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1至6任一項所述貝葉斯框架下序貫網圖檢驗的測試性驗證方法的步驟。

9.一種非暫態計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至6任一項所述貝葉斯框架下序貫網圖檢驗的測試性驗證方法的步驟。