[發(fā)明專利]一種基于正交基函數(shù)處理標(biāo)量磁異常梯度信號的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010260844.5 | 申請日: | 2020-04-03 |
| 公開(公告)號: | CN111399066B | 公開(公告)日: | 2022-05-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 樊黎明;趙維娜;王惠剛;劉建國;劉星;胡浩 | 申請(專利權(quán))人: | 西北工業(yè)大學(xué)青島研究院;西北工業(yè)大學(xué);上海交通大學(xué) |
| 主分類號: | G01V3/08 | 分類號: | G01V3/08;G01V3/38 |
| 代理公司: | 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 61204 | 代理人: | 劉新瓊 |
| 地址: | 266200 山東省青*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 正交 函數(shù) 處理 標(biāo)量 異常 梯度 信號 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種基于正交基函數(shù)處理標(biāo)量磁異常梯度信號的方法,通過分析目標(biāo)產(chǎn)生的磁異常梯度,設(shè)計了磁異常梯度的4個基函數(shù)。由于4個基函數(shù)為線性無關(guān),通過格拉姆?施密特正交化和歸一化,獲得標(biāo)量磁異常梯度信號的正交基函數(shù)。根據(jù)正交基函數(shù)的性質(zhì)和測量磁異常梯度信號,計算出對應(yīng)正交基函數(shù)的系數(shù)。利用該系數(shù)設(shè)計了磁性目標(biāo)的探測指數(shù)及目標(biāo)方位參數(shù)。當(dāng)探測指數(shù)大于設(shè)置閾值時,實現(xiàn)磁異常的探測。然后,根據(jù)正交基函數(shù)的系數(shù)獲得目標(biāo)的方位信息。本發(fā)明能夠有效抑制磁噪聲對目標(biāo)探測的影響,提高輸出信噪比,實現(xiàn)對弱磁異常的探測與定位。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明所涉及到一種基于正交基函數(shù)處理標(biāo)量磁異常梯度信號的方法。該方法可廣泛用于能源礦藏勘測、水下各種管線探測、水下目標(biāo)探測、水下考古、沉船勘測、掃雷反潛等領(lǐng)域。
背景技術(shù)
地磁場是地球的一個天然的物理場,它有各種不同的起源,由不同變化規(guī)律的磁場成分疊加而成。按照場源位置劃分,地磁場可以分為內(nèi)源場和外源場。如果考慮地磁場隨時間的變化特征,將隨時間變化較快的地磁場成為地球的變化磁場,隨時間變化較慢或者基本不變的地磁場成為地球的穩(wěn)定磁場。同時地磁場是反映宇宙演變、地球演變、地質(zhì)結(jié)構(gòu)演變以及地震活動等過程的重要物理量之一。地磁場研究成果在航海、航空、航天、能源礦產(chǎn)、安全、考古等領(lǐng)域中有著廣泛而重要的應(yīng)用。
磁性目標(biāo)產(chǎn)生的磁場疊加到地磁場上,使得其周圍空間的磁場分布發(fā)生變化,形成磁異常。通過對磁異常的探測與反演,可以實現(xiàn)目標(biāo)的識別、定位與追蹤。由于磁異常隨距離的三次方快速衰減,這就導(dǎo)致遠(yuǎn)距離目標(biāo)產(chǎn)生的磁異常通過掩埋在磁噪聲中。傳統(tǒng)的噪聲抑制方法在一定程度上能夠提高磁異常的探測能力。但當(dāng)信噪比小于1dB,基于噪聲抑制的探測方法對目標(biāo)的探測能力就變得非常有限。同時,傳統(tǒng)的探測方法不能給出目標(biāo)的方位信息,不能滿足對目標(biāo)定位的需求。因此,需要有效的弱磁異常探測方法提高低信噪比下的磁性目標(biāo)的探測與定位的能力。
發(fā)明內(nèi)容
要解決的技術(shù)問題
針對現(xiàn)有技術(shù)在低信噪比下的目標(biāo)探測能力不足,本發(fā)明提供一種基于正交基函數(shù)處理標(biāo)量磁異常梯度信號的方法,提高低信噪比下目標(biāo)探測能力。
技術(shù)方案
一種基于正交基函數(shù)處理標(biāo)量磁異常梯度信號的方法,其特征在于步驟如下:
步驟1:采集磁場數(shù)據(jù),獲得磁性目標(biāo)在X、Y和Z方向磁異常梯度Gx,Gy,Gz;
步驟2:構(gòu)建4個正交基函數(shù),如下:
其中,D=|D|表示位于測線上的梯度傳感器距離最近點的距離,R0=|R0|表示目標(biāo)到測線的最近點的距離;
步驟3:利用正交基函數(shù)和磁場梯度信號,獲得對應(yīng)正交基函數(shù)的系數(shù),如下:
其中,m表示窗口的中心值,l表示數(shù)據(jù)處理窗口的長度;
步驟4:利用磁異常梯度的正交基函數(shù)對應(yīng)的系數(shù),構(gòu)建磁性目標(biāo)的探測指數(shù),如下:
將E與閾值T進行比較來判斷是否探測到磁異常:當(dāng)E≥T,磁異常存在,即存在磁性目標(biāo);當(dāng)E<T,無磁異常,即不存在磁性目標(biāo);
步驟5:當(dāng)E≥T,根據(jù)正交基函數(shù)的系數(shù)的關(guān)系,構(gòu)建目標(biāo)的方位指數(shù):
當(dāng)Dθ>0時,目標(biāo)位于磁梯度儀運動測線的北側(cè);當(dāng)Dθ<0時,目標(biāo)位于磁梯度儀運動測線的南側(cè)。
有益效果
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西北工業(yè)大學(xué)青島研究院;西北工業(yè)大學(xué);上海交通大學(xué),未經(jīng)西北工業(yè)大學(xué)青島研究院;西北工業(yè)大學(xué);上海交通大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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