[發明專利]一種基于正交基函數處理標量磁異常梯度信號的方法

有效

• 申請號: 202010260844.5
• 申請日: 2020-04-03
• 公開（公告）號: CN111399066B
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: 樊黎明;趙維娜;王惠剛;劉建國;劉星;胡浩
• 申請（專利權）人: 西北工業大學青島研究院;西北工業大學;上海交通大學
• 主分類號: G01V3/08
• 分類號: G01V3/08;G01V3/38
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 劉新瓊

1.一種基于正交基函數處理標量磁異常梯度信號的方法，其特征在于步驟如下：

步驟1：采集磁場數據，獲得磁性目標在X、Y和Z方向磁異常梯度G_x,G_y,G_z；

步驟2：構建4個正交基函數，如下：

其中，D＝|D|表示位于測線上的梯度傳感器距離最近點的距離，R₀＝|R₀|表示目標到測線的最近點的距離；

步驟3：利用正交基函數和磁場梯度信號，獲得對應正交基函數的系數，如下：

其中，m表示窗口的中心值，l表示數據處理窗口的長度；

步驟4：利用磁異常梯度的正交基函數對應的系數，構建磁性目標的探測指數，如下：

將E與閾值T進行比較來判斷是否探測到磁異常：當E≥T，磁異常存在，即存在磁性目標；當E＜T，無磁異常，即不存在磁性目標；

步驟5：當E≥T，根據正交基函數的系數的關系，構建目標的方位指數：

當D_θ＞0時，目標位于磁梯度儀運動測線的北側；當D_θ＜0時，目標位于磁梯度儀運動測線的南側。