[發(fā)明專利]納米線晶體管元件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010258051.X | 申請(qǐng)日: | 2015-01-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111584625B | 公開(公告)日: | 2023-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮立偉;蔡世鴻;洪世芳;林昭宏;鄭志祥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 聯(lián)華電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/775 | 分類號(hào): | H01L29/775;H01L29/786;H01L29/423;H01L29/06;H01L21/02;H01L21/335;H01L21/336;B82Y10/00;H01L21/8238 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 陳小雯 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 納米 晶體管 元件 | ||
本發(fā)明公開一種納米線晶體管元件。具體是公開一種互補(bǔ)式金屬氧化物半導(dǎo)體元件,包含基底,包括第一元件區(qū)和第二元件區(qū)。多個(gè)第一納米線形成于該基底上并位于該第一元件區(qū)中,各該第一納米線分別包含第一半導(dǎo)體核心以及第二半導(dǎo)體核心,其中該第二半導(dǎo)體核心環(huán)繞該第一半導(dǎo)體核心,且該第二半導(dǎo)體核心的一晶格常數(shù)不同于該第一半導(dǎo)體核心的一晶格常數(shù)。多個(gè)第二納米線,形成于該基底上并位于該第二元件區(qū)中,其中各該第二納米線包含該第一半導(dǎo)體核心。第一柵極,環(huán)繞部分的各該第一納米線。第二柵極,環(huán)繞部分的各該第二納米線。
本申請(qǐng)是中國(guó)發(fā)明專利申請(qǐng)(申請(qǐng)?zhí)枺?01510037261.5,申請(qǐng)日:2015年01月26日,發(fā)明名稱:納米線晶體管元件及其制作方法)的分案申請(qǐng)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種納米線晶體管元件,尤其是涉及一種多核心(multiple?core)納米線晶體管元件。
背景技術(shù)
當(dāng)元件發(fā)展至65納米技術(shù)世代后,使用傳統(tǒng)平面式(planar)的金屬氧化物半導(dǎo)體(metal-oxide-semiconductor,MOS)晶體管制作工藝難以持續(xù)微縮,因此,現(xiàn)有技術(shù)提出以立體或非平面(non-planar)多柵極晶體管元件取代平面晶體管元件的解決途徑。舉例來說,雙柵極(dual-gate)鰭式場(chǎng)效晶體管(Fin?Field?effect?transistor,以下簡(jiǎn)稱為FinFET)元件、三柵極(tri-gate)FinFET元件、以及Ω(omega)式FinFET元件等都已被提出。現(xiàn)在,則更發(fā)展出利用納米線作為通道的全柵極(gate-all-around,GAA)晶體管元件,作為繼續(xù)提升元件積成度與元件效能的方案。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種納米線晶體管元件及其制作方法。
為達(dá)上述目的,本發(fā)明提供了一種互補(bǔ)式金屬氧化物半導(dǎo)體元件,包含基底,包括第一元件區(qū)和第二元件區(qū)。多個(gè)第一納米線形成于該基底上并位于該第一元件區(qū)中,各該第一納米線分別包含第一半導(dǎo)體核心以及第二半導(dǎo)體核心,其中該第二半導(dǎo)體核心環(huán)繞該第一半導(dǎo)體核心,且該第二半導(dǎo)體核心的一晶格常數(shù)不同于該第一半導(dǎo)體核心的一晶格常數(shù)。多個(gè)第二納米線,形成于該基底上并位于該第二元件區(qū)中,其中各該第二納米線包含該第一半導(dǎo)體核心。第一柵極,環(huán)繞部分的各該第一納米線。第二柵極,環(huán)繞部分的各該第二納米線。
為達(dá)上述目的,本發(fā)明又提供了一種納米線晶體管元件,包括基底,該基底包含凹槽。納米線,懸置于該凹槽上,其中該納米線包含第一半導(dǎo)體核心以及第二半導(dǎo)體核心,其中該第二半導(dǎo)體核心環(huán)繞該第一半導(dǎo)體核心,且該第二半導(dǎo)體核心的一晶格常數(shù)不同于該第一半導(dǎo)體核心的一晶格常數(shù)。柵極,環(huán)繞部分的該納米線。
根據(jù)本發(fā)明所提供的納米線晶體管元件的制作方法,對(duì)已形成有納米線的基底進(jìn)行至少一次SEG制作工藝,而于納米線表面形成另一晶格常數(shù)不同于納米線的半導(dǎo)體外延層,用以增加納米線通道的載流子遷移率。是以,本發(fā)明所提供的納米線晶體管元件為一多核心(multiple?core)納米線晶體管元件,該多核心納米線晶體管元件的各納米線通道分別包含至少第一半導(dǎo)體核心與第二半導(dǎo)體核心,第一半導(dǎo)體核心被第二半導(dǎo)體核心環(huán)繞與包覆,而第二半導(dǎo)體核心則作為具有較高載流子遷移率(carrier?mobility)的納米線通道(nanowire?channel)。
附圖說明
圖1A至圖2C為本發(fā)明所提供的一納米線晶體管元件及其制作方法的一第一優(yōu)選實(shí)施例的示意圖,其中
圖1B為圖1A中沿A-A’切線獲得的剖視圖;
圖2B為圖2A中沿A-A’切線獲得的剖面放大圖;以及
圖2C為圖2A中沿B-B’切線獲得的剖視圖;
圖3A至圖3C,圖3A至圖3C為本發(fā)明所提供的一納米線晶體管元件及其制作方法的一第二優(yōu)選實(shí)施例的示意圖,其中
圖3B為圖3A中沿A-A’切線獲得的剖視圖;以及
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





