[發明專利]目標物軌跡相似度的獲取方法、裝置及電子設備

有效

• 申請號: 202010250352.8
• 申請日: 2020-04-01
• 公開（公告）號: CN111461222B
• 公開（公告）日: 2023-05-02
• 發明（設計）人: 戴鵬;翁仁亮;林元慶
• 申請（專利權）人: 北京愛筆科技有限公司
• 主分類號: G06V10/74
• 分類號: G06V10/74;G06T7/292
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李金

1.一種目標物軌跡相似度的獲取方法，其特征在于，所述方法包括：

獲得目標時長對應的檢測數據；其中，所述檢測數據包括至少一組數據對，一組所述數據對包括：第一數據和第二數據，所述第一數據包括：第一檢測框中第一位置的坐標數據和所述第一檢測框的尺寸數據；所述第一檢測框為第一采集裝置所采集的圖像幀中第一目標物所在的檢測框；所述第二數據包括：第二檢測框中第二位置的坐標數據和所述第二檢測框的尺寸數據；所述第二檢測框為第二采集裝置所采集的圖像幀中第二目標物的檢測框；所述第二位置與所述第一位置相對應；所述第一數據與所述第二數據均對應于所述目標時長內的同一時刻，且所述第一數據所對應的第一檢測框中能夠識別出所述第一目標物，所述第二數據所對應的第二檢測框中能夠識別出所述第二目標物；

將所述檢測數據中的數據對作為預先訓練完成的相似度量模型的檢測輸入數據，以得到所述相似度量模型輸出的檢測結果，所述檢測結果表征所述第一目標物與所述第二目標物之間的相似度；

其中，所述相似度量模型為預先構建且利用至少兩組具有樣本標識的樣本對進行訓練所得到的模型，一組所述樣本對包括：第一樣本和第二樣本，所述第一樣本包括：第一樣本框中所述第一位置的坐標數據和所述第一樣本框的尺寸數據；所述第二樣本包括：第二樣本框中所述第二位置的坐標數據和所述第二樣本框的尺寸數據；所述第一樣本框為所述第一采集裝置所采集的樣本幀中第一樣本物所在的檢測框；所述第二樣本框為所述第二采集裝置所采集的樣本幀中第二樣本物所在的檢測框；所述樣本對的樣本標識表征所述第一樣本物和第二樣本物是否為同一樣本物。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述數據對中，所述第一數據與所述第二數據均對應于所述目標時長內的同一時刻。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述數據對中，所述第一數據所對應的第一檢測框中能夠識別出所述第一目標物，且所述第二數據所對應的第二檢測框中能夠識別出所述第二目標物。

4.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，將所述檢測數據中的數據對作為預先訓練完成的相似度量模型的檢測輸入數據，以得到所述相似度量模型輸出的檢測結果，包括：

將所述檢測數據中的所述數據對的第一數據和第二數據作為所述相似度量模型的檢測輸入數據，以得到相似度量模型輸出的所述數據對所對應的輸出結果；

根據所述檢測數據中的所述數據對所對應的輸出結果，獲得所述第一目標物和所述第二目標物的檢測結果。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，根據所述檢測數據中的所述數據對所對應的輸出結果，獲得所述第一目標物和所述第二目標物的檢測結果，包括：

在所述檢測數據中的數據對為多組的情況下，按照預設的結果處理策略，對多組所述數據對所對應的輸出結果進行取值，以得到所述檢測結果。