[發明專利]一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統

在審

• 申請號: 202010245887.6
• 申請日: 2020-03-31
• 公開（公告）號: CN111474181A
• 公開（公告）日: 2020-07-31
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 成都數之聯科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06T7/00
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 李朝虎

本發明公開了一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統，包括前端服務單元、處理單元、判斷單元和輸出單元；處理單元統計單一光源圖片中的發光單元像素數目并將單一光源圖片輸入預先構建好的面板基礎缺陷檢測模型得到單一光源圖片的缺陷類別、缺陷位置坐標、缺陷面積和置信度；基于單一光源圖片的缺陷類別、缺陷位置坐標、缺陷面積和置信度和統計的發光單元像素數目，按照面板缺陷判斷規則確定對應的面板缺陷種類；再基于面板缺陷種類依據面板等級判斷規則確定面板等級，實現了對面板缺陷的高效分類識別。將多光源細節圖拆分為多個單一光源圖片，將所有單一光源圖片輸入檢測模型進行檢測，有效解決了細節圖的圖片小且缺陷細微的問題；提升了工廠缺陷檢測效率及準確率。

技術領域

本發明涉及智能制造與人工智能技術領域，具體涉及一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統。

背景技術

隨著社會信息化的普及，作為信息顯示和傳播媒介的顯示終端已發展成不可或缺的重要角色。液晶顯示屏因其功耗低、體積小、清晰度高、失真度低等優點，成為智能手機，個人電腦，智能手表，數碼相機，大屏電視等大部分顯示終端設備。

隨著需求量與競爭壓力的不斷增加，行業迫切需要液晶屏生產流程中更加穩定高效的缺陷檢測技術。Cell作為液晶屏生產制程的三階段之一，包含工序最復雜，是故障和缺陷的頻發階段。

近些年，由于機器視覺領域的快速發展，采用自動光學檢測(AOI)技術輔助傳統人工質檢的方式進行面板缺陷檢測與分類已是工廠生產中必不可少的一道環節；而在缺陷檢測環節中又因為細節圖的圖片小且缺陷細微的問題導致對細節圖的分類準確率低；同時人工質檢過程中因人眼結構差異、情緒狀態、疲勞等造成的檢測結果不穩定及判斷標準難以統一和量化；使得細節圖的檢測存在準確率低、效率低的問題。如何高效、快速、精準的解決細節圖的缺陷檢測問題迫在眉睫。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：現有缺陷檢測環節中因為細節圖的圖片小且缺陷細微的問題，導致對細節圖的分類準確率低；同時人工質檢過程中因人眼結構差異、情緒狀態、疲勞等造成的檢測結果不穩定的問題及判斷標準難以統一和量化；使得細節圖的檢測存在準確率低、效率低的問題。

為解決上述技術問題。

本發明通過下述技術方案實現：

本發明提供一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統，其特征在于，包括：前端服務單元、處理單元、判斷單元和輸出單元；

前端服務單元為處理單元提供面板多光源細節圖數據；

處理單元接收前端服務單元提供的面板多光源細節圖數據后預處理該數據，得到多個單一光源圖片數據；

處理單元統計單一光源圖片數據中的發光單元像素數目，并將單一光源圖片輸入預先構建好的面板基礎缺陷檢測模型得到單一光源圖片的基礎缺陷檢測結果，所述基礎缺陷檢測結果包括：缺陷類別、缺陷位置坐標、缺陷面積和置信度；

判斷單元基于單一光源圖片的基礎缺陷檢測結果和統計的發光單元像素數目，按照面板缺陷判斷規則確定對應的面板缺陷種類；判斷單元再根據面板缺陷種類依據面板等級判斷規則確定面板等級；面板等級按照嚴重度依次遞減分為：NG，RP，RL，Y0，Y1；

輸出單元輸出面板等級和該等級對應的面板缺陷種類和基礎缺陷檢測結果。