[發明專利]一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統

在審

• 申請號: 202010245887.6
• 申請日: 2020-03-31
• 公開（公告）號: CN111474181A
• 公開（公告）日: 2020-07-31
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 成都數之聯科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06T7/00
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 李朝虎

1.一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統，其特征在于，包括：前端服務單元、處理單元、判斷單元和輸出單元；

前端服務單元為處理單元提供面板多光源細節圖數據；

處理單元接收前端服務單元提供的面板多光源細節圖數據后預處理該數據，得到多個單一光源圖片數據；

處理單元統計單一光源圖片數據中的發光單元像素數目，并將單一光源圖片輸入預先構建好的面板基礎缺陷檢測模型得到單一光源圖片的基礎缺陷檢測結果，所述基礎缺陷檢測結果包括：缺陷類別、缺陷位置坐標、缺陷面積和置信度；

判斷單元基于單一光源圖片的基礎缺陷檢測結果和統計的發光單元像素數目，按照面板缺陷判斷規則確定對應的面板缺陷種類；判斷單元再根據面板缺陷種類依據面板等級判斷規則確定面板等級；面板等級按照嚴重度依次遞減分為：NG，RP，RL，Y0，Y1；

輸出單元輸出面板等級和該面板等級對應的面板缺陷種類和基礎缺陷檢測結果。

2.根據權利要求1所述的一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統，其特征在于，前端服務單元采集面板成盒制程階段生產線上的缺陷細節圖數據并解析得到面板多光源細節圖數據。

3.根據權利要求2所述的一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統，其特征在于，所述面板多光源細節圖數據包括：細節圖截取位置、細節圖截取尺寸和面板中的細節圖數量。

4.根據權利要求1所述的一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統，其特征在于，處理單元對面板多光源細節圖數據的預處理過程為：首先將多光源細節圖拆分為多個單一光源圖片數據，再重新組裝單一光源圖片數據的路徑和圖片名，最后讀取各單一光源圖片數據。

5.根據權利要求1所述的一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統，其特征在于，

所述面板缺陷種類包括：面板點類缺陷，面板線類缺陷；

對于面板點類缺陷，要求在多個灰階和黒階光源圖片中檢測出點類基礎缺陷，并且發光單元像素數目不低于1個；

對于面板線類缺陷，要求在多個灰階光源圖片中檢測出線類缺陷，并且發光單元像素數目不低于15個。

6.根據權利要求5所述的一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統，其特征在于，所述面板等級判斷規則包括：

對于面板線類缺陷，在整張面板中出現次數低于5次，判為Y0；在整張面板中出現次數大于5次低于7次，判為RL；在整張面板中出現次數大于7次，則判為NG；

對于面板點類缺陷，面板中所有點類缺陷發光單元像素數目總和低于10個，判為Y0；面板中所有點類缺陷發光單元像素數目總和大于10個小于15個，判為RP；面板中所有點類缺陷發光單元像素數目總和在15個以上，判為NG。

7.根據權利要求1所述的一種成盒制程階段的面板缺陷檢測及分類系統，其特征在于，還包括存儲單元，存儲單元用于存儲面板基礎缺陷檢測模型、整理面板基礎缺陷檢測模型輸出的輸出結果并保存。

8.一種成盒制程階段的面板基礎缺陷檢測模型構建方法，其特征在于，具體步驟包括：

S1、采集流水線上面板缺陷細節圖數據并樣本化處理該數據；

S2、利用樣本化處理后的數據訓練及迭代面板基礎缺陷檢測模型；

S3、輸出訓練后的面板基礎缺陷檢測模型。

9.根據權利要求8所述的一種成盒制程階段的面板基礎缺陷檢測模型構建方法，其特征在于，S1中樣本化處理圖片數據具體過程包括：

樣本數據確認：質檢流水線上采集的面板缺陷細節圖數據反復確認以確定其對應的缺陷類別；

樣本數據清洗：二次篩查質檢后的數據，剔除數據中的異常部分，異常部分包括但不限于：畫面過爆，畫面虛焦，畫面色彩異常；

樣本數據優化：通過分析缺陷成因和復雜程度確定不同缺陷的面板分布比例；

樣本數據標注：根據缺陷特征，使用標注工具標注樣本數據，標注時要求貼近缺陷邊緣標注。

10.根據權利要求8所述的一種成盒制程階段的面板基礎缺陷檢測模型構建方法，其特征在于，S2模型訓練及迭代使用Faster-RCNN檢測網絡和Resnet50網絡結構進行訓練。