[發明專利]一種設備鑒定方法及裝置

在審

• 申請號: 202010234879.1
• 申請日: 2020-03-30
• 公開（公告）號: CN113468475A
• 公開（公告）日: 2021-10-01
• 發明（設計）人: 邵拓;張瑞萍;呂愛國;王占元;劉愛芬
• 申請（專利權）人: 華龍國際核電技術有限公司
• 主分類號: G06F17/18
• 分類號: G06F17/18;G06F30/20;G01R31/00;G01M7/02;G06F119/02;G06F119/04
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

1.一種設備鑒定方法，其特征在于，所述方法包括：

基于待測試設備集的壽命周期的可靠性參數，確定所述待測試設備集在壽命測試中的測試數量以及在預設負荷參數下的模擬測試時間；其中，所述預設負荷參數與所述壽命周期相關，所述待測試設備集中包括至少一個待測試設備；

基于所述模擬測試時間和所述測試數量對所述待測試設備集進行壽命測試，獲得第一測試結果；

基于所述第一測試結果，對所述待測試設備集的壽命周期的可靠性進行鑒定。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一測試結果，對所述待測試設備集的壽命周期的可靠性進行鑒定，包括：

在所述第一測試結果滿足預設條件的情況下，確定所述待測試設備集的壽命周期的可靠性達到要求；

在所述第一測試結果不滿足所述預設條件的情況下，確定所述待測試設備集的壽命周期的可靠性未達到要求；

其中，所述預設條件為在所述待測試設備集中存在預設數量的目標待測試設備，所述目標待測試設備為在所述模擬測試時間內出現故障的概率小于預設閾值的待測試設備。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述壽命測試中包括至少一個測試項目；所述基于待測試設備集的壽命周期的可靠性參數，確定所述待測試設備集在壽命測試中的測試數量，以及在預設負荷參數下的模擬測試時間，包括：

基于待測試設備集的壽命周期的可靠性參數，確定所述待測試設備集在每一所述測試項目的測試數量；以及，

計算所述待測試設備集在每一所述測試項目相關的預設負荷參數下的模擬測試時間。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述模擬測試時間和所述測試數量對所述待測試設備集進行壽命測試，獲得第一測試結果，包括：

針對所述待測試設備集在每一所述測試項目的測試數量，分別在所述測試項目相關的預設負荷參數下的模擬測試時間內對所述待測試設備集進行壽命測試，獲得第一測試結果。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于待測試設備集的壽命周期的可靠性參數，計算所述待測試設備集在每一所述測試項目相關的預設負荷參數下的模擬測試時間，包括：

基于待測試設備集的壽命周期的可靠性參數，確定所述待測試設備集在預設負荷參數下的實際測試時間；

計算所述待測試設備集在每一所述測試項目相關的預設負荷參數下單位壽命周期對應的模擬時間；

基于所述實際測試時間和每一所述測試項目相關的預設負荷參數下單位壽命周期對應的模擬時間，計算所述待測試設備集在每一所述測試項目相關的預設負荷參數下的模擬測試時間。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述可靠性參數包括A和B，所述基于待測試設備集的壽命周期的可靠性參數，確定所述待測試設備集在壽命測試中的測試數量以及在預設負荷參數下的模擬測試時間，包括：

根據確定所述待測試設備集在壽命測試中的測試數量以及在預設負荷參數下的模擬測試時間；

其中，所述n為所述待測試設備集在壽命測試中的測試數量，所述t為所述待測試設備集在預設負荷參數下的實際測試時間，所述實際測試時間用于確定所述待測試設備集在預設負荷參數下的模擬測試時間，所述T為所述待測試設備集的壽命周期，所述β為韋布爾行為因子。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于待測試設備集的壽命周期的可靠性參數，確定所述待測試設備集在壽命測試中的測試數量以及在預設負荷參數下的模擬測試時間之前，所述方法還包括：

對所述待測試設備集進行功能測試，獲得第二測試結果；

在所述第二測試結果表明所述待測試設備集測試成功的情況下，執行所述基于待測試設備集的壽命周期的可靠性參數，確定所述待測試設備集在壽命測試中的測試數量以及在預設負荷參數下的模擬測試時間的步驟。