[發(fā)明專利]一種設(shè)備鑒定方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010234879.1
• 申請(qǐng)日: 2020-03-30
• 公開（公告）號(hào): CN113468475A
• 公開（公告）日: 2021-10-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 邵拓;張瑞萍;呂愛國;王占元;劉愛芬
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華龍國際核電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F17/18
• 分類號(hào): G06F17/18;G06F30/20;G01R31/00;G01M7/02;G06F119/02;G06F119/04
• 代理公司: 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

本發(fā)明提供一種設(shè)備鑒定方法及裝置，該方法包括：基于待測(cè)試設(shè)備集的壽命周期的可靠性參數(shù)，確定所述待測(cè)試設(shè)備集在壽命測(cè)試中的測(cè)試數(shù)量以及在預(yù)設(shè)負(fù)荷參數(shù)下的模擬測(cè)試時(shí)間；其中，所述預(yù)設(shè)負(fù)荷參數(shù)與所述壽命周期相關(guān)，所述待測(cè)試設(shè)備集中包括至少一個(gè)待測(cè)試設(shè)備；基于所述模擬測(cè)試時(shí)間和所述測(cè)試數(shù)量對(duì)所述待測(cè)試設(shè)備集進(jìn)行壽命測(cè)試，獲得第一測(cè)試結(jié)果；基于所述第一測(cè)試結(jié)果，對(duì)所述待測(cè)試設(shè)備集的壽命周期的可靠性進(jìn)行鑒定。本發(fā)明實(shí)施例能夠提高設(shè)備鑒定的質(zhì)量可靠性，保證設(shè)備具有可信的壽命周期。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種設(shè)備鑒定方法及裝置。

背景技術(shù)

根據(jù)安全法規(guī)規(guī)定，一些重要設(shè)備如核安全級(jí)數(shù)字化儀控設(shè)備在正式工程應(yīng)用前必須經(jīng)過設(shè)備鑒定，以確保這些設(shè)備在規(guī)定的運(yùn)行條件及環(huán)境條件下完成其預(yù)定功能。這主要是通過在人工制造的特定環(huán)境下，對(duì)設(shè)備質(zhì)量的驗(yàn)證來確定設(shè)備的安全性、可靠性和可用性，從而保證其在正常工況下能保持自身執(zhí)行安全功能的能力，最大限度地減少可能出現(xiàn)的設(shè)備共因故障。

目前，設(shè)備鑒定測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中，僅羅列了部分測(cè)試項(xiàng)目及其測(cè)試要求，且設(shè)備鑒定的相關(guān)測(cè)試要求，僅對(duì)測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行了機(jī)械羅列，沒有對(duì)設(shè)備鑒定測(cè)試形成完整明晰的測(cè)試要求及測(cè)試方法，導(dǎo)致設(shè)備鑒定的質(zhì)量可靠性較低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供一種設(shè)備鑒定方法及裝置，能夠提高設(shè)備鑒定的質(zhì)量可靠性。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種設(shè)備鑒定方法，所述方法包括：

基于待測(cè)試設(shè)備集的壽命周期的可靠性參數(shù)，確定所述待測(cè)試設(shè)備集在壽命測(cè)試中的測(cè)試數(shù)量以及在預(yù)設(shè)負(fù)荷參數(shù)下的模擬測(cè)試時(shí)間；其中，所述預(yù)設(shè)負(fù)荷參數(shù)與所述壽命周期相關(guān)，所述待測(cè)試設(shè)備集中包括至少一個(gè)待測(cè)試設(shè)備；

基于所述模擬測(cè)試時(shí)間和所述測(cè)試數(shù)量對(duì)所述待測(cè)試設(shè)備集進(jìn)行壽命測(cè)試，獲得第一測(cè)試結(jié)果；

基于所述第一測(cè)試結(jié)果，對(duì)所述待測(cè)試設(shè)備集的壽命周期的可靠性進(jìn)行鑒定。

第二方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種設(shè)備鑒定裝置，所述裝置包括：

確定模塊，用于基于待測(cè)試設(shè)備集的壽命周期的可靠性參數(shù)，確定所述待測(cè)試設(shè)備集在壽命測(cè)試中的測(cè)試數(shù)量以及在預(yù)設(shè)負(fù)荷參數(shù)下的模擬測(cè)試時(shí)間；其中，所述預(yù)設(shè)負(fù)荷參數(shù)與所述壽命周期相關(guān)，所述待測(cè)試設(shè)備集中包括至少一個(gè)待測(cè)試設(shè)備；

壽命測(cè)試模塊，用于基于所述模擬測(cè)試時(shí)間和所述測(cè)試數(shù)量對(duì)所述待測(cè)試設(shè)備集進(jìn)行壽命測(cè)試，獲得第一測(cè)試結(jié)果；

鑒定模塊，用于基于所述第一測(cè)試結(jié)果，對(duì)所述待測(cè)試設(shè)備集的壽命周期的可靠性進(jìn)行鑒定。

第三方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種設(shè)備鑒定裝置，包括：處理器、存儲(chǔ)器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述設(shè)備鑒定方法的步驟。

第四方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述設(shè)備鑒定方法的步驟。

本發(fā)明實(shí)施例中，基于待測(cè)試設(shè)備集的壽命周期的可靠性參數(shù)，確定所述待測(cè)試設(shè)備集在壽命測(cè)試中的測(cè)試數(shù)量以及在預(yù)設(shè)負(fù)荷參數(shù)下的模擬測(cè)試時(shí)間；其中，所述預(yù)設(shè)負(fù)荷參數(shù)與所述壽命周期相關(guān)，所述待測(cè)試設(shè)備集中包括至少一個(gè)待測(cè)試設(shè)備；基于所述模擬測(cè)試時(shí)間和所述測(cè)試數(shù)量對(duì)所述待測(cè)試設(shè)備集進(jìn)行壽命測(cè)試，獲得第一測(cè)試結(jié)果；基于所述第一測(cè)試結(jié)果，對(duì)所述待測(cè)試設(shè)備集的壽命周期的可靠性進(jìn)行鑒定。