[發(fā)明專利]檢測單元有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010225545.8 | 申請日: | 2020-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN111746638B | 公開(公告)日: | 2023-07-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 藤田敏博 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社電裝 |
| 主分類號: | B62D15/02 | 分類號: | B62D15/02;H02K11/215;H02K11/30;H02K11/33 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 王萍;楊林森 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測 單元 | ||
1.一種檢測單元,包括:
傳感器(131、231),其包括:
檢測元件(141、142、241、242),被配置成檢測物理量的變化,并且包括主元件(141、241)和監(jiān)測所述主元件的副元件(142、242);
計算器單元(151、152、251、252),被配置成根據(jù)所述檢測元件檢測到的物理量來計算檢測值;
傳感器存儲器(155、156、255、256),被配置成存儲傳感器間誤差校正值,所述傳感器間誤差校正值與所述主元件、所述副元件和所述計算器單元一起校正在所述主元件和所述副元件當(dāng)中的檢測誤差,以及
控制器(70、170、270),其包括:
非易失性存儲器(75、175、275),被配置成存儲用于校正同一檢測值的檢測誤差的多個校正值;
異常確定器(72、172、272),被配置成確定所述校正值的異常;以及
控制計算器(71、171、271),被配置成通過使用由確定為正常的校正值進(jìn)行了校正的檢測值來執(zhí)行控制計算,其中
所述傳感器通過存儲在所述傳感器存儲器中的所述傳感器間誤差校正值來校正所述副元件的檢測值,并將校正后的值輸出至所述控制器,
所述校正值被以預(yù)定比率分為控制器側(cè)校正值和傳感器側(cè)校正值,
所述控制器側(cè)校正值被存儲在所述非易失性存儲器中,并且
所述傳感器側(cè)校正值被存儲在所述傳感器存儲器中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測單元,其中,
所述主元件(141、241)產(chǎn)生常態(tài)確定用于在所述控制計算器的計算中使用的檢測值;并且
所述校正值是用于校正所述主元件的檢測誤差的值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的檢測單元,其中,
傳感器和從所述傳感器接收所述檢測值的控制器以多組提供,
在所述傳感器中利用參考值進(jìn)行校正后的檢測值從所述傳感器輸出至所述控制器,并且
以多組提供的所述控制器通過通信共享所述校正值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的檢測單元,其中,
所述控制器以多個單元提供,
用于校正同一檢測值的所述多個校正值分別存儲在不同控制器的非易失性存儲器中。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的檢測單元,其中,
用于校正同一檢測值的所述多個校正值分別存儲為不同的數(shù)據(jù)。
6.一種使用傳感器和控制器來確保檢測精度的方法,包括:
使用所述傳感器的檢測元件來檢測物理量的變化,所述檢測元件包括主元件和監(jiān)測所述主元件的副元件;
使用所述傳感器的計算器單元根據(jù)檢測到的物理量來計算檢測值;
在所述傳感器的傳感器存儲器中存儲傳感器間誤差校正值,所述傳感器間誤差校正值與所述主元件、所述副元件和所述計算器單元一起校正在所述主元件和所述副元件當(dāng)中的檢測誤差;
在所述控制器的非易失性存儲器中存儲用于校正同一檢測值的檢測誤差的多個校正值;
使用所述控制器的異常確定器來確定所述校正值的異常;以及
使用所述控制器的控制計算器通過使用由確定為正常的校正值進(jìn)行了校正的檢測值來執(zhí)行控制計算,其中:
所述傳感器通過存儲在所述傳感器存儲器中的所述傳感器間誤差校正值來校正所述副元件的檢測值,并將校正后的值輸出至所述控制器,
所述校正值被以預(yù)定比率分為控制器側(cè)校正值和傳感器側(cè)校正值,
所述控制器側(cè)校正值被存儲在所述非易失性存儲器中,并且
所述傳感器側(cè)校正值被存儲在所述傳感器存儲器中。
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