[發(fā)明專利]一種光器件、光芯片損耗測試裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010225015.3 | 申請日： | 2020-03-26 |
| 公開（公告）號： | CN111256960B | 公開（公告）日： | 2022-04-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 周治平;楊豐赫 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京愛杰光電科技有限公司 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京睿智保誠專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11732 | 代理人： | 周新楣 |
| 地址： | 100089 北京市海淀區(qū)*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 器件 芯片 損耗 測試 裝置 方法 | ||
1.一種光器件、光芯片損耗測試方法，其特征在于：應(yīng)用該方法的裝置包括微環(huán)諧振系統(tǒng)、輸入系統(tǒng)、輸出系統(tǒng)；
所述輸入系統(tǒng)包括第一光纖和第一光耦合器；
所述輸出系統(tǒng)包括第二光纖、第二光耦合器、第三光耦合器；
所述第一光耦合器一端與第一光纖連接，另一端與所述微環(huán)諧振系統(tǒng)連接；
所述第二光耦合器設(shè)置于所述微環(huán)諧振系統(tǒng)上行端，其一端與第二光纖連接，另一端與所述微環(huán)諧振系統(tǒng)連接；
所述第三光耦合器設(shè)置于所述微環(huán)諧振系統(tǒng)下行端，其一端與第二光纖連接，另一端與所述微環(huán)諧振系統(tǒng)連接；
所述測試方法包括：
步驟1：將被測的光器件、光芯片嵌套進微環(huán)諧振系統(tǒng)；
步驟2：將激光發(fā)射器發(fā)射的激光輸入第一光纖通過第一光耦合器耦合進入微環(huán)諧振系統(tǒng)；
步驟3：用第二光纖承接第二光耦合器輸出的激光，并利用光譜儀記錄其光譜，記錄為“T”；
步驟4：再移動第二光纖并承接第三光耦合器輸出的激光，并利用光譜儀記錄其光譜，記錄為“D”；
步驟5：利用所述“T”與所述“D”擬合公式即可得到損耗；
其中，所述步驟5通過所述“T”與所述“D”結(jié)合以下步驟可獲得光器件、光芯片的損耗：
第一步：進行第一次線性擬合
構(gòu)造以下的線性擬合函數(shù)：
n和具有線性回歸關(guān)系，回歸系數(shù)即為；根據(jù)光譜記錄儀記錄的數(shù)據(jù)，選定一個特定的波長記為λ0，記其諧振階次n＝0，而后在它的兩側(cè)分別尋找若干諧振波長，并依次記錄；所對應(yīng)的諧振波長即為λn，依據(jù)上式進行線性回歸擬合，即可得到回歸系數(shù)；
第二步：進行第二次線性擬合
Γ＝KΛ
其中：
，
在光譜記錄儀記錄的數(shù)據(jù)中，取一段數(shù)據(jù)；為0.2(Dmax-Dmin)；通過對Γ和Λ的線性回歸分析，可以得到另一個回歸系數(shù)K；在這里，Λ的構(gòu)建用到了第一步得到的回歸系數(shù)；
其中，Dmax表示為第二光纖承接第三光耦合器輸出激光的最大光譜值、Dmin表示為第二光纖承接第三光耦合器輸出激光的最小光譜值；
第三步：得到損耗，具體表達式為：
即可得到最終損耗，其中：
其中，Tmax表示為第二光纖承接第二光耦合器輸出激光的最大光譜值；Tmin表示為第二光纖承接第二光耦合器輸出激光的最小光譜值；Tmin和Tmax在光譜記錄儀中記錄的數(shù)據(jù)顯示。
2.如權(quán)利要求1所述的一種光器件、光芯片損耗測試方法，其特征在于，所述第二光纖用來連接所述第二光耦合器或所述第三光耦合器。
3.如權(quán)利要求1所述的一種光器件、光芯片損耗測試方法，其特征在于，所述損耗測試裝置還包括激光發(fā)射器、光譜記錄儀。
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