[發明專利]偽距粗差的探測方法、裝置及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010214973.0
• 申請日: 2020-03-24
• 公開（公告）號: CN111352135A
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發明（設計）人: 胡新喬
• 申請（專利權）人: 廣東星輿科技有限公司
• 主分類號: G01S19/37
• 分類號: G01S19/37;G01S19/25;G01S19/40
• 代理公司: 佛山幫專知識產權代理事務所(普通合伙) 44387
• 代理人: 喻振興

本公開涉及粗差探測的技術領域，公開了一種偽距粗差的探測方法，包括以下步驟：獲取前一歷元k0的定位數據O_k0及后一歷元k1的觀測數據O_k1；確定衛星i作為參考星，確定衛星j作為非參考星；根據所述定位數據O_k0及所述觀測數據O_k1，進行衛星i、衛星j的星間求差處理以及歷元k0、歷元k1的歷元間求差處理，得到檢驗量F；通過假設檢驗方法判斷檢驗量F是否通過假設檢驗；當不通過假設檢驗時，進行粗差標記。本公開的一些技術效果在于：直接采用獲取前一歷元k0有效的定位數據O_k0與后一歷元k1的觀測數據O_k1進行相應的作差處理而得到檢驗量F，方法簡便、且消耗的計算資源較少；同時使檢驗量F具有高斯白噪聲的特征，易于執行假設檢驗方法。

技術領域

本公開涉及粗差探測的技術領域，特別涉及偽距粗差探測技術。

背景技術

在GNSS(Global Navigation Satellite System，全球導航衛星系統)定位解算過程中經常會不可避免地受到各種誤差的影響，這些誤差分為系統誤差、偶然誤差和粗差。對于偶然誤差，可以通過大量的重復觀測來進行削弱和消除其影響；對于系統誤差，有些誤差可以通過現有的模型加以修正，如對流層延遲誤差、電離層延遲誤差等，有的誤差可以通過參數進行估計，如接收機鐘差等；但是對于粗差，特別是偽距粗差及載波相位的周跳等則不能通過上述方法進行改正或估計，需要進行探測確認然后進行剔除或相應的處理才能進行定位解算最后得到相對精準的定位結果。

傳統的偽距粗差探測方法主要有距離比較法、最小二乘殘差法、奇偶矢量法和最大間隔法等方法，但是這些方法都是針對單個粗差的探測效果較為明顯，對于含有多個粗差的觀測值并不理想甚至不可用，因為多個粗差經過平差處理之后誤差出現了相互轉移，殘差之間具有相關性，可區分性也會大大減弱，影響探測的準確性。

發明內容

為解決前述的至少一個技術問題，本公開在一個方面提出了一種偽距粗差的探測方法，其技術方案如下：偽距粗差的探測方法，包括以下步驟：獲取前一歷元k0的定位數據O_k0及后一歷元k1的觀測數據O_k1；確定衛星i作為參考星，確定衛星j作為非參考星；根據所述定位數據O_k0及所述觀測數據O_k1，進行衛星i、衛星j的星間求差處理以及歷元k0、歷元k1的歷元間求差處理，得到檢驗量F；通過假設檢驗方法判斷檢驗量F是否通過假設檢驗；當不通過假設檢驗時，進行粗差標記。

優選地，根據所述定位數據O_k0得到歷元k0下，衛星i及衛星j對應的偽距觀測值及衛地距計算值根據所述觀測數據O_k1得到歷元k1下，衛星i及衛星j對應的偽距觀測值及衛地距計算值根據第一關系計算得到檢驗量F；所述第一關系包括第一公式：

所述第一關系還包括：dP與檢驗量F存在特定映射關系；上式中，dP表示雙差處理后的位置偏差量。

優選地，所述假設檢驗方法包括判斷檢驗量F是否服從高斯分布F～N(0,σ_F),若服從，則確認檢驗量F通過假設檢驗，其中，σ_F表示檢驗量F的計算標準差，被根據第二關系而獲得，所述第二關系包括第二公式：

其中，σ_dP表示所述位置偏差量dP的計算標準差，分別表示的計算方差，表示偽距觀測值的觀測方差。

優選地，分別根據以下第三公式獲得

其中，表示或分別表示衛星S的X、Y、Z三個方向的位置坐標的方差；分別表示接收機r的X、Y、Z三個方向的位置坐標的方差；l、m、n分別表示對應于X、Y、Z三個方向的方向余弦。