[發明專利]偽距粗差的探測方法、裝置及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010214973.0
• 申請日: 2020-03-24
• 公開（公告）號: CN111352135A
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發明（設計）人: 胡新喬
• 申請（專利權）人: 廣東星輿科技有限公司
• 主分類號: G01S19/37
• 分類號: G01S19/37;G01S19/25;G01S19/40
• 代理公司: 佛山幫專知識產權代理事務所(普通合伙) 44387
• 代理人: 喻振興

1.偽距粗差的探測方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取前一歷元k0的定位數據O_k0及后一歷元k1的觀測數據O_k1；

確定衛星i作為參考星，確定衛星j作為非參考星；

根據所述定位數據O_k0及所述觀測數據O_k1，進行衛星i、衛星j的星間求差處理以及歷元k0、歷元k1的歷元間求差處理，得到檢驗量F；

通過假設檢驗方法判斷檢驗量F是否通過假設檢驗；

當不通過假設檢驗時，進行粗差標記。

2.根據權利要求1所述的探測方法，其特征在于：

根據所述定位數據O_k0得到歷元k0下，衛星i及衛星j對應的偽距觀測值及衛地距計算值

根據所述觀測數據O_k1得到歷元k1下，衛星i及衛星j對應的偽距觀測值及衛地距計算值

根據第一關系計算得到檢驗量F；

所述第一關系包括第一公式：

所述第一關系還包括：dP與檢驗量F存在特定映射關系；

上式中，dP表示雙差處理后的位置偏差量。

3.根據權利要求2所述的探測方法，其特征在于：

所述假設檢驗方法包括判斷檢驗量F是否服從高斯分布F～N(0,σ_F),若服從，則確認檢驗量F通過假設檢驗，

其中，σ_F表示檢驗量F的計算標準差，被根據第二關系而獲得，所述第二關系包括第二公式：

其中，σ_dP表示所述位置偏差量dP的計算標準差，分別表示的計算方差，表示偽距觀測值的觀測方差。

4.根據權利要求3所述的探測方法，其特征在于：

分別根據以下第三公式獲得

其中，表示或

分別表示衛星S的X、Y、Z三個方向的位置坐標的方差；

分別表示接收機r的X、Y、Z三個方向的位置坐標的方差；

l、m、n分別表示對應于X、Y、Z三個方向的方向余弦。

5.根據權利要求4所述的探測方法，其特征在于：

將所述定位數據O_k0中接收機r的最終位置坐標，代替歷元k1下接收機r的位置坐標，通過所述第三公式計算獲得

6.根據權利要求3所述的探測方法，其特征在于：

所述假設檢驗方法包括根據第三關系判斷檢驗量F是否服從高斯分布F～N(0,σ_F)；

所述第三關系包括第四公式以及第五公式；

所述第四公式為

H₀:w＝F:N(0,σ_F)；

所述第五公式為

其中，H₀表示零假設，w表示零假設對應的檢驗標準，表示置信概率，α表示顯著性水平。

7.根據權利要求6所述的探測方法，其特征在于：

α＝0.05。

8.根據權利要求1所述的探測方法，其特征在于：

選擇不同的非參考星j，得到對應的不同的檢驗量F；

通過假設檢驗方法逐一判斷所述檢驗量F是否通過假設檢驗；

當某檢驗量F不通過假設檢驗時，將相應的非參考星j所對應偽距觀測數據進行粗差標記。