[發明專利]進樣裝置及粒度分析儀

在審

• 申請號: 202010211425.2
• 申請日: 2020-03-24
• 公開（公告）號: CN111272618A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 吳愛斌
• 申請（專利權）人: 珠海歐美克儀器有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N35/10
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 陳慧華

本發明公開了一種進樣裝置及粒度分析儀，進樣裝置包括：料倉，包括外殼，所述外殼具有一內腔，所述內腔內設有隔板，所述隔板將所述內腔分隔為前倉和后倉，所述前倉內設有若干周向分布的斜板，所述后倉內設有若干周向分布的斜齒槽，所述斜齒槽和所述前倉連通；驅動部，用于驅動所述料倉圍繞自身中心軸旋轉；進料部，和所述前倉連通；出料部，和所述后倉連通。本發明結構簡單，體積小，能夠在不振動進料系統的同時滿足大顆粒的粒度的進樣，有利于光學窗口和進樣系統一體化。

技術領域

本發明涉及顆粒進樣領域，特別涉及進樣裝置及粒度分析儀。

背景技術

粒度分析儀是研究細粒物料粒度組成所用的儀器，需要送樣裝置將樣品送入儀器。普通粉體粒度的干法分析，采用振動進樣或氣流分散送樣，普通的振動進樣由于需要振動料倉，不利于光學窗口和進樣系統一體化。氣流分散送樣雖然不用使進樣系統振動，但在擴展到大顆粒的粒度分析時，氣流分散送樣已不能滿足其要求；也有采用垂直面內的重力蛇形流分散裝置，需要入料口到光學分析窗口有大的垂直高度，這就要求窗口有很大的結構尺寸，使用操作極不方便。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本發明提出一種進樣裝置，結構簡單，體積小，能夠在不振動進料系統的同時滿足大顆粒的粒度的進樣，有利于光學窗口和進樣系統一體化。

本發明還提出一種粒度分析儀，具有上述進樣裝置。

本發明實施例第一方面的一種進樣裝置，包括：料倉，包括外殼，所述外殼具有一內腔，所述內腔內設有隔板，所述隔板將所述內腔分隔為前倉和后倉，所述前倉內設有若干周向分布的斜板，所述后倉內設有若干周向分布的斜齒槽，所述斜齒槽和所述前倉連通；驅動部，用于驅動所述料倉圍繞自身中心軸旋轉；進料部，和所述前倉連通；出料部，和所述后倉連通。

根據本發明實施例第一方面的一種進樣裝置，至少具有如下有益效果：工作時，料倉受驅動部驅動旋轉，當順著斜齒槽的傾斜方向旋轉時，可以混合和分散樣品顆粒，同時驅動樣品顆粒向前倉或后倉運動，由于向心力和顆粒與斜齒槽側壁的摩擦力和壓力樣品不會下落，當反方向旋轉時則由于缺少斜齒槽側壁的摩擦力和壓力，樣品進樣，可以通過調節料倉旋轉速度控制樣品分散和混合的強度以及進樣速度。本發明結構簡單，體積小，能夠在不振動進料系統的同時滿足大顆粒的粒度的進樣，有利于光學窗口和進樣系統一體化。

根據本發明實施例第一方面的一種進樣裝置，所述驅動部包括電機、第一支承軸和支架，所述電機和第一支承軸均設置在所述支架上，所述電機的輸出軸和所述第一支承軸連接，驅動所述第一支承軸旋轉，所述第一支承軸和所述料倉相抵觸，所述第一支承軸的軸向和所述外殼的軸向相平行。

根據本發明實施例第一方面的一種進樣裝置，所述驅動部還包括設置在所述支架上的第二支承軸，所述第二支承軸的軸向和所述第一支承軸的軸向相平行，所述料倉設置在所述第一支承軸及第二支承軸的上方，所述料倉分別和所述第一支承軸及第二支承軸抵觸。

根據本發明實施例第一方面的一種進樣裝置，所述出料部包括出料管，所述后倉設有出料口，所述出料管的一端從出所述料口進入后倉。

根據本發明實施例第一方面的一種進樣裝置，所述后倉上設有出料口的一側設有固定板，所述固定板和所述出料管通過銷釘連接。

根據本發明實施例第一方面的一種進樣裝置，所述進料部包括管體和漏斗，所述管體的一端和所述漏斗連通，另一端和所述前倉連通。

根據本發明實施例第一方面的一種進樣裝置，相鄰所述斜齒槽間設有斜塊，全部斜齒槽105和斜塊106形成一個內齒環，隔板102外圓固定在內齒環內。

根據本發明實施例第一方面的一種進樣裝置，所述斜板或斜齒槽和所述料倉的軸線所成夾角范圍為15-75度。

根據本發明實施例第一方面的一種進樣裝置，所述斜齒槽和所述斜板的傾斜方向相同。