[發明專利]進樣裝置及粒度分析儀

在審

• 申請號: 202010211425.2
• 申請日: 2020-03-24
• 公開（公告）號: CN111272618A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 吳愛斌
• 申請（專利權）人: 珠海歐美克儀器有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N35/10
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 陳慧華

1.一種進樣裝置，其特征在于，包括：

料倉(100)，包括外殼(101)，所述外殼(101)具有一內腔，所述內腔內設有隔板(102)，所述隔板(102)將所述內腔分隔為前倉(103)和后倉(104)，所述前倉(103)內設有若干周向分布的斜板(107)，所述后倉(104)內設有若干周向分布的斜齒槽(105)，所述斜齒槽(105)和所述前倉(103)連通；

驅動部(200)，用于驅動所述料倉(100)圍繞自身中心軸旋轉；

進料部(300)，和所述前倉(103)連通；

出料部(400)，和所述后倉(104)連通。

2.根據權利要求1所述的一種進樣裝置，其特征在于：所述驅動部(200)包括電機(202)、第一支承軸(201)和支架(204)，所述電機(202)和第一支承軸(201)均設置在所述支架(204)上，所述電機(202)的輸出軸和所述第一支承軸(201)連接，所述電機(202)驅動所述第一支承軸(201)旋轉，所述第一支承軸(201)和所述外殼(101)相抵觸，所述第一支承軸(201)的軸向和所述料倉(100)的軸向相平行。

3.根據權利要求2所述的一種進樣裝置，其特征在于：所述驅動部(200)還包括設置在所述支架(204)上的第二支承軸(203)，所述第二支承軸(203)的軸向和所述第一支承軸(201)的軸向相平行，所述料倉(100)設置在所述第一支承軸(201)及第二支承軸(203)的上方，所述料倉(100)分別和所述第一支承軸(201)及第二支承軸(203)抵觸。

4.根據權利要求1所述的一種進樣裝置，其特征在于：所述出料部(400)包括出料管(401)，所述后倉(104)設有出料口，所述出料管(401)的一端從出所述料口進入后倉(104)。

5.根據權利要求4所述的一種進樣裝置，其特征在于：所述后倉(104)上設有出料口的一側設有固定板(500)，所述固定板(500)和所述出料管(401)通過銷釘連接。

6.根據權利要求1所述的一種進樣裝置，其特征在于：所述進料部(300)包括管體(301)和漏斗(302)，所述管體(301)的一端和所述漏斗(302)連通，另一端和所述前倉(103)連通。

7.根據權利要求1所述的一種進樣裝置，其特征在于：相鄰所述斜齒槽(105)間設有斜塊(106)，全部斜齒槽(105)和斜塊(106)形成一個內齒環，隔板(102)外圓固定在內齒環。

8.根據權利要求1所述的一種進樣裝置，其特征在于：所述斜板(107)或斜齒槽(105)和所述料倉(100)的軸線所成夾角范圍為15-75度。

9.根據權利要求1或8所述的一種進樣裝置，其特征在于：所述斜齒槽(105)和所述斜板(107)的傾斜方向相同。

10.一種粒度分析儀，其特征在于：包括如權利要求1至9任一所述的進樣裝置。