[發明專利]一種測試機臺及芯片測試方法

在審

• 申請號: 202010198793.8
• 申請日: 2020-03-19
• 公開（公告）號: CN111208414A
• 公開（公告）日: 2020-05-29
• 發明（設計）人: 張悅
• 申請（專利權）人: 合肥悅芯半導體科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;G01M11/04;G01M11/02
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 唐正瑜

本申請提供一種測試機臺及芯片測試方法，涉及芯片測試技術領域。測試機臺包括：機臺外殼；設置于所述機臺外殼內部的PCB板；固定安裝于所述機臺外殼內部的光源裝置，所述光源裝置的安裝方向與所述機臺外殼的第一表面成第一預設角度；所述第一表面為出光面，所述出光面上設有出光口，所述光源裝置發出的光線從所述出光口透出。本申請提供的測試機臺內集成了測試所需的光源裝置，集成度高，且由于機臺內專門留出了光源結構的空間，光源本身可以做得更大，有利于在機臺內放置光質量更好的光源，相較于現有技術中外置的小光源，光信號質量得到提升，同時，還能減少測試時間，提高測試效率。

技術領域

本申請涉及芯片測試技術領域，具體而言，涉及一種測試機臺及芯片測試方法。

背景技術

CIS(CMOS Image Sensor)芯片是攝像頭的關鍵零部件，CIS芯片通過將光信號轉換為數字電信號以捕捉圖像信息，其作為攝像頭產品的核心芯片，決定著攝像頭的成像品質。對CIS芯片的測試是CIS芯片生產環節中的重要一環。現有的對CIS芯片進行測試的測試機臺，所使用的光源一般是外置光源，外置光源的放置在PCB板與機臺之間不到10公分的空間中，受限于此，使用的外置光源通常較小且較短，光直徑也較小，這將直接導致光源的信號質量較差，光源均勻度不夠好等問題，無法有效地測試高像素的CIS芯片。

發明內容

本申請實施例的目的在于提供一種測試機臺及芯片測試方法，用以改善現有技術中存在的光源信號質量差的問題。

第一方面，本申請實施例提供了一種測試機臺，包括：

機臺外殼；

設置于所述機臺外殼內部的PCB板；

固定安裝于所述機臺外殼內部的光源裝置，所述光源裝置的安裝方向與所述機臺外殼的第一表面成第一預設角度；所述第一表面為出光面，所述出光面上設有出光口，所述光源裝置發出的光線從所述出光口透出。

在上述技術方案中，測試機臺內集成了測試所需的光源裝置，集成度高，且由于機臺內專門留出了光源結構的空間，光源本身可以做得更大，有利于在機臺內放置光質量更好的光源，相較于現有技術中外置的小光源，光信號質量得到提升。同時，更大的光源會帶來更大的出射光斑面積，使得單次可測試的芯片數量得到增加，有效減少了測試時間，提高了測試效率。

在一種可能的實施方式中，所述機臺外殼的內部還設置有插槽，其中，槽體的延伸方向與所述機臺外殼的第一表面成第二預設角度，所述插槽用于插接所述PCB板。在上述技術方案中，在測試機臺內部設有插槽，以便于實現PCB板的靈活安裝。

在一種可能的實施方式中，所述插槽包括第一插槽和第二插槽，所述第一插槽和所述第二插槽分別固定安裝于所述光源裝置的兩側，所述機臺外殼的內部還設置有第一固定件和第二固定件，所述第一固定件與所述光源裝置的一端抵持，所述第二固定件與所述光源裝置的另一端抵持，所述第一固定件的第一端和所述第二固定件的第一端固定于第一插槽上，所述第一固定件的第二端和所述第二固定件的第二端固定于第二插槽上。

在上述技術方案中，兩個固定件的延伸方向均垂直于第一插槽和第二插槽，利用第一插槽、第二插槽、第一固定件和第二固定件可將光源裝置兩端牢牢固定。

在一種可能的實施方式中，所述第一固定件的第一端和所述第二固定件的第一端通過螺釘固定于第一插槽上，所述第一固定件的第二端和所述第二固定件的第二端通過螺釘固定于第二插槽上。

在一種可能的實施方式中，所述光源裝置包括：光源和光源控制器，所述光源控制器與所述光源電連接，所述光源控制器用于控制所述光源發光。