[發明專利]一種測試機臺及芯片測試方法

在審

• 申請號: 202010198793.8
• 申請日: 2020-03-19
• 公開（公告）號: CN111208414A
• 公開（公告）日: 2020-05-29
• 發明（設計）人: 張悅
• 申請（專利權）人: 合肥悅芯半導體科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;G01M11/04;G01M11/02
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 唐正瑜

1.一種測試機臺，其特征在于，包括：

機臺外殼；

設置于所述機臺外殼內部的PCB板；

固定安裝于所述機臺外殼內部的光源裝置，所述光源裝置的安裝方向與所述機臺外殼的第一表面成第一預設角度；所述第一表面為出光面，所述出光面上設有出光口，所述光源裝置發出的光線從所述出光口透出。

2.根據權利要求1所述的測試機臺，其特征在于，所述機臺外殼的內部還設置有插槽，其中，槽體的延伸方向與所述機臺外殼的第一表面成第二預設角度，所述插槽用于插接所述PCB板。

3.根據權利要求2所述的測試機臺，其特征在于，所述插槽包括第一插槽和第二插槽，所述第一插槽和所述第二插槽分別固定安裝于所述光源裝置的兩側，所述機臺外殼的內部還設置有第一固定件和第二固定件，所述第一固定件與所述光源裝置的一端抵持，所述第二固定件與所述光源裝置的另一端抵持，所述第一固定件的第一端和所述第二固定件的第一端固定于第一插槽上，所述第一固定件的第二端和所述第二固定件的第二端固定于第二插槽上。

4.根據權利要求3所述的測試機臺，其特征在于，所述第一固定件的第一端和所述第二固定件的第一端通過螺釘固定于第一插槽上，所述第一固定件的第二端和所述第二固定件的第二端通過螺釘固定于第二插槽上。

5.根據權利要求1所述的測試機臺，其特征在于，所述光源裝置包括：光源和光源控制器，所述光源控制器與所述光源電連接，所述光源控制器用于控制所述光源發光。

6.根據權利要求1所述的測試機臺，其特征在于，所述測試機臺還包括：

蓋板，所述蓋板設置于所述出光口的遠離機臺外殼的一側，所述蓋板用于遮蓋所述出光口。

7.根據權利要求6所述的測試機臺，其特征在于，所述蓋板與所述機臺外殼的第一表面可拆卸連接。

8.根據權利要求6所述的測試機臺，其特征在于，所述蓋板與所述機臺外殼的第一表面活動連接。

9.根據權利要求1所述的測試機臺，其特征在于，所述機臺外殼的第二表面和與第二表面相對的第三表面均分別設置有至少一個通風風扇，所述第二表面和所述第三表面與所述第一表面相接。

10.一種芯片測試方法，其特征在于，應用于芯片測試系統，所述系統包括：測試終端、信號處理裝置以及如權利要求1-9任一項所述的測試機臺，所述測試終端分別與所述信號處理裝置和所述測試機臺連接，所述信號處理裝置與所述測試機臺連接；

所述測試終端向所述測試機臺發送測試指令，以使所述測試機臺內的光源裝置發出光線；

所述測試機臺接收相連的待測芯片返回的數字信號，并將所述數字信號發給所述信號處理裝置，所述數字信號是所述待測芯片基于所述光線生成的；

所述信號處理裝置對所述數字信號進行參數計算，并將計算結果發給所述測試終端；

所述測試終端根據所述計算結果對所述待測芯片進行測試。