[發明專利]基于光學分度頭的測斜儀校準裝置及校準方法

有效

• 申請號: 202010198751.4
• 申請日: 2020-03-20
• 公開（公告）號: CN111322986B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: 張擁軍;楊璐;陳勇;李婷;陳靜
• 申請（專利權）人: 湖南省計量檢測研究院
• 主分類號: G01C9/00
• 分類號: G01C9/00;G01C25/00
• 代理公司: 長沙智路知識產權代理事務所(普通合伙) 43244
• 代理人: 楊毅宇

1.一種基于光學分度頭的測斜儀校準裝置，其特征在于，包括工作平臺、設置于所述工作平臺的光學分度頭以及安裝于所述光學分度頭的旋轉主軸的測斜儀裝夾定位裝置，所述測斜儀裝夾定位裝置包括安裝于所述旋轉主軸的安裝板以及設置于所述安裝板的上部的上測斜管和設置于所述安裝板的下部的下測斜管，所述上測斜管和下測斜管各自包括相同的管體，所述管體的內側表面上沿所述管體的圓周方向以90°依次間隔設置有用于固定被校準測斜儀的第一定位槽、第二定位槽、第三定位槽和第四定位槽，所述第一定位槽和第三定位槽處于垂直于所述安裝板的板面的平面，所述第二定位槽和第四定位槽處于平行于所述安裝板的板面的平面，所述第二定位槽和第四定位槽對應被校準測斜儀的X方向，所述第一定位槽和第三定位槽對應被校準測斜儀的垂直于所述X方向的Y方向，所述安裝板的板面垂直于所述旋轉主軸的軸線，所述上測斜管的第三定位槽與所述下測斜管的第三定位槽的連接線還垂直于所述旋轉主軸的軸線；所述上測斜管通過上裝夾組件設置于所述安裝板上，所述下測斜管通過下裝夾組件設置于所述安裝板上，所述上裝夾組件包括母V型座和子V型座，所述母V型座通過第一固定螺紋件連接于所述安裝板，所述子V型座通過穿設于所述安裝板的微調螺紋件可升降地安裝于所述母V型座的開口中，所述母V型座的一側穿設有第二固定螺紋件，所述第二固定螺紋件的端部能夠壓向所述子V型座以將所述子V型座固定于所述母V型座，所述上測斜管通過2個第一定位銷安裝于所述子V型座的開口中，所述2個第一定位銷位于上測斜管的第三定位槽所在直線上，所述下裝夾組件包括固定于所述安裝板的下V型座，所述下測斜管通過2個第二定位銷安裝于所述下V型座的開口中，所述2個第二定位銷位于下測斜管的第三定位槽所在直線上。

2.根據權利要求1所述的基于光學分度頭的測斜儀校準裝置，其特征在于，所述基于光學分度頭的測斜儀校準裝置還包括連接于所述安裝板的下端的用于對被校準測斜儀的底部定位的定位板。

3.根據權利要求2所述的基于光學分度頭的測斜儀校準裝置，其特征在于，所述基于光學分度頭的測斜儀校準裝置還包括設置于所述工作平臺上的對應所述光學分度頭的數顯裝置。

4.根據權利要求1至2中任意一項所述的基于光學分度頭的測斜儀校準裝置，其特征在于，所述安裝板和定位板上分別具有多個減重孔。

5.一種根據權利要求3所述的基于光學分度頭的測斜儀校準裝置的校準方法，其特征在于，所述校準方法包括步驟：

a、先粗調轉動光學分度頭的旋轉主軸，直至安裝板垂直于水平面并且上測斜管在下測斜管上方；

b、將被校準測斜儀安裝于上測斜管和下測斜管內，其中被校準測斜儀的安裝滑輪與第二定位槽和第四定位槽安裝以實現X方向安裝，直到被校準測斜儀的底部與定位板接觸；

c、對微調螺紋件和光學分度頭進行微調，直到被校準測斜儀在X方向和Y方向的讀數均為零，鎖緊第二固定螺紋件，此時，光學分度頭的讀數也清零；

d、設定被校測斜儀的量程為：±θ°，正向旋轉光學分度頭的旋轉主軸直至光學分度頭的數顯裝置的讀數為θ/10°，此時測斜儀的讀數為X1°，X1°為第一個校準點的測斜儀的讀數，該校準點對應被校準測斜儀的示值誤差為(X1-θ/10)°；

e、以θ/10°為間隔疊加，依次完成量程θ°范圍內余下X方向的正向10個校準點的校準，第n個校準點測斜儀的絕對示值誤差為[Xn-(n×θ/10)]°，其中，第n個校準點的測斜儀的讀數為Xn，第n個校準點對應的光學分度頭的集顯裝置的讀數為(n×θ/10)°；

f、重復以上步驟完成X方向的負向的10個校準點的校準，其中不同的操作為反向旋轉光學分度頭。

6.根據權利要求5所述的基于光學分度頭的測斜儀校準裝置的校準方法，其特征在于，所述校準方法還包括重復步驟a至f完成Y方向的校準，其中不同的操作為被校準測斜儀的安裝滑輪與第一定位槽和第三定位槽安裝以實現Y方向安裝。