[發明專利]基于光學分度頭的測斜儀校準裝置及校準方法

有效

• 申請號: 202010198751.4
• 申請日: 2020-03-20
• 公開（公告）號: CN111322986B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: 張擁軍;楊璐;陳勇;李婷;陳靜
• 申請（專利權）人: 湖南省計量檢測研究院
• 主分類號: G01C9/00
• 分類號: G01C9/00;G01C25/00
• 代理公司: 長沙智路知識產權代理事務所(普通合伙) 43244
• 代理人: 楊毅宇

本發明公開了一種基于光學分度頭的測斜儀校準裝置及校準方法，包括工作平臺、設置于所述工作平臺的光學分度頭以及安裝于所述光學分度頭的旋轉主軸的測斜儀裝夾定位裝置，所述測斜儀裝夾定位裝置包括安裝于所述旋轉主軸的安裝板以及設置于所述安裝板的上部的上測斜管和設置于所述安裝板的下部的下測斜管，所述上測斜管和下測斜管各自包括相同的管體，所述管體的內側表面上沿所述管體的圓周方向以90°依次間隔設置有用于固定被校準測斜儀的第一定位槽、第二定位槽、第三定位槽和第四定位槽。該校準裝置旨在解決現有技術中的測斜儀校準裝置誤差大、結構復雜、操作繁瑣且無法反應測斜儀的實際使用狀態的技術問題。

技術領域

本發明涉及測斜儀校準領域，尤其涉及一種基于光學分度頭的測斜儀校準裝置及校準方法。

背景技術

測斜儀是用于測量預埋測斜管傾斜程度的精密儀器，可以實現X和Y兩個方向的測量(X和Y方向互相垂直)，測斜儀兩個方向的量程均可達±60°。目前已有的測斜儀校準裝置所采用的標準器有：光學分度頭、陀螺儀、角光柵等。根據測斜儀的裝夾方式總體可以劃分為兩類，其中一類裝夾結構和方式都比較簡單，只是實現了測斜儀的固定，實施校準時的X和Y方向沒有清晰劃分；另外一類的裝夾機構和方式比較復雜，可以實現實施校準時的X和Y方向的清晰劃分。現在技術缺陷基本如下：

1、已有校準裝置的其中一類裝夾結構和方式比較簡單，只是實現了測斜儀的固定，其實施校準時的X和Y方向沒有清晰的劃分，所以當實施相應的校準時，容易造成測斜儀的安裝不當從而存在較大的校準誤差。

2、已有校準裝置的另外一類裝夾結構和方式比較復雜，可以實現X和Y方向的清晰劃分，但是結構復雜，操作繁瑣，自身重量也較大，實施校準時其自重都加載在標準器旋轉主軸上，會加大其主軸的負載和磨損。

3、上述兩類校準裝置，在實施校準時，均不能反應測斜儀的實際使用狀態。

發明內容

(一)要解決的技術問題

基于此，本發明提出了一種基于光學分度頭的測斜儀校準裝置，該基于光學分度頭的測斜儀校準裝置旨在解決現有技術中的測斜儀校準裝置誤差大、結構復雜、操作繁瑣且無法反應測斜儀的實際使用狀態的技術問題。

(二)技術方案

為解決上述技術問題，本發明提出了一種基于光學分度頭的測斜儀校準裝置，其中，包括工作平臺、設置于所述工作平臺的光學分度頭以及安裝于所述光學分度頭的旋轉主軸的測斜儀裝夾定位裝置，所述測斜儀裝夾定位裝置包括安裝于所述旋轉主軸的安裝板以及設置于所述安裝板的上部的上測斜管和設置于所述安裝板的下部的下測斜管，所述上測斜管和下測斜管各自包括相同的管體，所述管體的內側表面上沿所述管體的圓周方向以90°依次間隔設置有用于固定被校準測斜儀的第一定位槽、第二定位槽、第三定位槽和第四定位槽，所述第一定位槽和第三定位槽處于垂直于所述安裝板的板面的平面，所述第二定位槽和第四定位槽處于平行于所述安裝板的板面的平面，所述第二定位槽和第四定位槽對應被校準測斜儀的X方向，所述第一定位槽和第三定位槽對應被校準測斜儀的垂直于所述X方向的Y方向，所述安裝板的板面垂直于所述旋轉主軸的軸線，所述上測斜管的第三定位槽與所述下測斜管的第三定位槽之間的連接線還垂直于所述旋轉主軸的軸線。

優選地，所述上測斜管通過上裝夾組件設置于所述安裝板上，所述下測斜管通過下裝夾組件設置于所述安裝板上，所述上裝夾組件包括母V型座和子V型座，所述母V型座通過第一固定螺紋件連接于所述安裝板，所述子V型座通過穿設于所述安裝板的微調螺紋件可升降地安裝于所述母V型座的開口中，所述母V型座的一側穿設有第二固定螺紋件，所述第二固定螺紋件的端部能夠壓向所述子V型座以將所述子V型座固定于所述母V型座，所述上測斜管通過2個第一定位銷安裝于所述子V型座的開口中，所述2個第一定位銷位于上測斜管的第三定位槽所在直線上，所述下裝夾組件包括固定于所述安裝板的下V型座，所述下測斜管通過2個第二定位銷安裝于所述下V型座的開口中，所述2個第二定位銷位于下測斜管的第三定位槽所在直線上。