[發明專利]一種尺寸測量機構

在審

• 申請號: 202010190565.6
• 申請日: 2020-03-18
• 公開（公告）號: CN111238376A
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發明（設計）人: 蔡金輝
• 申請（專利權）人: 漳州捷龍自動化技術有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/06;G01B21/04
• 代理公司: 泉州市潭思專利代理事務所(普通合伙) 35221
• 代理人: 林麗英

本發明提出一種尺寸測量機構，突破傳統厚度等尺寸測量裝置的構造形式，標定厚度為d0；1、將標定件伸入到第一探頭和第二探頭之間，通過第一探頭檢測到標定件的第一表面的距離A11，通過第二探頭檢測到標定件的第二表面的距離A12，算出標定件的厚度d1；2、算出d1與d0的差值P1＝d1?d0：3、通過第一探頭檢測到第1塊板的第一表面的距離B11，通過第二探頭檢測到第1塊板的第二表面的距離B12，算出第1塊板的厚度D1，并減去差值P1得到第1塊板的真實厚度Z1＝D1?d1+d0。將人造板輸送至第一探頭和第二探頭之間，在對人造板進行厚度測量前，將標定件從第一探頭和第二探頭之間撤出。可對人造板進行連續的精準測量，可以克服震動和溫度變化等因素造成的測量誤差。

技術領域

本發明涉及產品測量領域，具體涉及一種尺寸測量機構。

背景技術

產品的尺寸測量，如人造板等板件的厚度測量是工業生產中常見的作業工序。現有的厚度等測量手段包括物理接觸測量、超聲波測量、X射線測量和激光測量等，其中激光測量因具有一定的效率優勢而越來越廣泛普及。激光測厚儀的結構已為公知，其一般是由兩個激光傳感器上下對射的方式組成的，上下的兩個激光傳感器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置，通過計算得到被測體的厚度。激光測厚儀的優點在于它采用的是非接觸的測量，相對接觸式測厚儀更精準，不會因為磨損而損失精度。相對超聲波測厚儀精度更高。相對X射線測厚儀沒有輻射污染。但是無論是激光測厚儀還是其他尺寸測量裝置的兩個探頭很容易因為震動和溫度變化等產生偏移，造成最初設置的基準值發生變化，產生零點漂移現象，進而造成測量誤差，很難實現高精度測量，尤其是連續的高精度測量。

鑒于此，本案發明人對上述問題進行深入研究，遂有本案產生。

發明內容

本發明的目的在于提供一種可對產品尺寸進行精準測量，尤其可對連續輸送的產品進行精準測量，高效實用的尺寸測量機構。

為了達到上述目的，本發明采用這樣的技術方案：

一種尺寸測量機構，包括第一探頭和第二探頭，還包括間歇式處于所述第一探頭和第二探頭之間的標定件。

還包括用于驅動所述標定件移動的驅動件，所述標定件具有標定位置和非標定位置兩種狀態，所述驅動件驅動所述標定件在標定位置和非標定位置之間切換。

所述標定件為厚度均勻的板狀結構。

所述驅動件驅動所述標定件在標定件所在平面內移動。

所述標定件與所述第一探頭和第二探頭發出的探測信號傳輸方向相垂直。

所述第一探頭和第二探頭為激光探頭。

所述第一探頭和第二探頭發出的激光探測線相平行或重合。

處于標定位置時，所述標定件將所述第一探頭和第二探頭發出的探測線均遮擋住；處于非標定位置時，所述標定件將所述第一探頭和第二探頭發出的探測線均未被遮擋住。

所述第一探頭位于第二探頭上方。

所述標定件水平設置。

所述驅動件包括水平設置的流體壓缸，所述標定件安裝在所述流體壓缸的活動端上。

所述標定件配設有導向裝置。

所述導向裝置包括水平設置的導軌，和設于所述標定件上并與導軌相配合的滑塊。

所述導軌包括處于所述標定件上方的上軌，和處于標定件下方并與上軌相平行的下軌；所述滑塊包括與所述上軌相配合的上塊，和與所述下軌相配合的下塊。

兩個以上的所述上塊沿所述上軌排列設置，兩個以上的所述下塊沿所述下軌排列設置。

所述上軌包括兩個相平行的上軌單體，所述下軌包括兩個相平行的下軌單體。