[發明專利]一種尺寸測量機構在審
| 申請號： | 202010190565.6 | 申請日： | 2020-03-18 |
| 公開（公告）號： | CN111238376A | 公開（公告）日： | 2020-06-05 |
| 發明（設計）人： | 蔡金輝 | 申請（專利權）人： | 漳州捷龍自動化技術有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00;G01B11/06;G01B21/04 |
| 代理公司： | 泉州市潭思專利代理事務所(普通合伙) 35221 | 代理人： | 林麗英 |
| 地址： | 363000 福建省漳州市薌城區金峰開發區前山*** | 國省代碼： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 尺寸 測量 機構 | ||
1.一種尺寸測量機構，包括第一探頭和第二探頭，其特征在于：還包括間歇式處于所述第一探頭和第二探頭之間的標定件。
2.根據權利要求1所述的一種尺寸測量機構，其特征在于：還包括用于驅動所述標定件移動的驅動件，所述標定件具有標定位置和非標定位置兩種狀態，所述驅動件驅動所述標定件在標定位置和非標定位置之間切換。
3.根據權利要求2所述的一種尺寸測量機構，其特征在于：所述標定件為厚度均勻的板狀結構。
4.根據權利要求3所述的一種尺寸測量機構，其特征在于：所述驅動件驅動所述標定件在標定件所在平面內移動。
5.根據權利要求4所述的一種尺寸測量機構，其特征在于：所述標定件與所述第一探頭和第二探頭發出的探測信號傳輸方向相垂直。
6.根據權利要求5所述的一種尺寸測量機構，其特征在于：所述第一探頭和第二探頭為激光探頭。
7.根據權利要求6所述的一種尺寸測量機構，其特征在于：所述第一探頭和第二探頭發出的激光探測線相平行或重合。
8.根據權利要求7所述的一種尺寸測量機構，其特征在于：處于標定位置時，所述標定件將所述第一探頭和第二探頭發出的探測線均遮擋住；處于非標定位置時，所述標定件將所述第一探頭和第二探頭發出的探測線均未被遮擋住。
9.根據權利要求3-8中任一項所述的一種尺寸測量機構，其特征在于：所述第一探頭位于第二探頭上方。
10.根據權利要求9所述的一種尺寸測量機構，其特征在于：所述標定件水平設置。
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