[發明專利]基準比較電路

有效

• 申請號: 202010189073.5
• 申請日: 2020-03-18
• 公開（公告）號: CN111061333B
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: 劉海波
• 申請（專利權）人: 南京華瑞微集成電路有限公司
• 主分類號: G05F3/26
• 分類號: G05F3/26
• 代理公司: 江蘇舜點律師事務所 32319
• 代理人: 孫丹

本發明提供了一種基準比較電路，通過電壓檢測模塊、與所述電壓檢測模塊連接的比較模塊，及與所述比較模塊連接的輸出模塊；所述電壓檢測模塊，包括分壓電阻，所述電壓檢測模塊用于提供與所述輸入電壓相關的第一電壓和分壓電阻產生的第二電壓；所述比較模塊，包括電流轉換模塊和與所述電流轉換模塊連接的電流鏡模塊；其中，所述電流轉換模塊用于將所述第二電壓轉換為對應的第一電流和第二電流，所述比較模塊用于將所述電流鏡模塊對所述第一電流鏡像后與所述第二電流比較，并根據所述比較結果輸出電壓；輸出模塊，用于根據所述輸出電壓輸出對應的電平值，可省去占芯片面積較大的比較器電路，節省版圖面積。

技術領域

本發明涉及比較電路技術領域，尤其涉及一種基準比較電路。

背景技術

通?？沙潆婋姵匦枰懈鞣N保護電路來保護電池的正常工作，如過充電電壓保護電路、過放電電壓保護電路、過電流保護電路，短路保護電路等。電壓檢測保護電路的工作原理是將輸入電壓經過電阻分壓后將其與一個和溫度無關的基準電壓通過比較器進行比較，比較器的輸出端輸出高低電平狀態來表示電壓過壓/欠壓狀態。

現有技術中，需要同時用到帶隙基準電壓產生電路和比較器電路這兩種電路結構。這兩個電路結構將耗費較多的芯片面積，不利于降低成本以及封裝的小型化。

發明內容

本發明實施例提供一種基準比較電路，減小了電路結構的復雜程度以及芯片占用面積，可以降低成本以及封裝的小型化。

本發明實施例提供一種基準比較電路，包括：電壓檢測模塊、與所述電壓檢測模塊連接的比較模塊，及與所述比較模塊連接的輸出模塊；

所述電壓檢測模塊，包括分壓電阻，所述電壓檢測模塊用于提供與所述輸入電壓相關的第一電壓和所述分壓電阻產生的第二電壓；

所述比較模塊，包括電流轉換模塊和與所述電流轉換模塊連接的電流鏡模塊；其中，所述電流轉換模塊用于將所述第二電壓轉換為對應的第一電流和第二電流，所述比較模塊用于將所述電流鏡模塊對所述第一電流鏡像后與所述第二電流比較，并根據所述比較結果輸出電壓；

輸出模塊，用于根據所述輸出電壓輸出對應的電平值。

可選地，所述電壓檢測模塊包括第三電阻和分壓電阻，其中，所述分壓電阻包括第四電阻；

其中，所述第三電阻一端與所述輸入電壓連接，另一端與所述第四電阻連接，所述第四電阻一端與所述第三電阻連接，另一端接地；

所述電壓檢測模塊根據所述第三電阻獲取輸入電壓相關的所述第一電壓，并與根據所述第四電阻獲取所述第二電壓。

可選地，所述電流轉換模塊包括晶體管組，所述晶體管組用于將所述第二電壓轉換為對應的第一電流和第二電流。

可選地，所述晶體管組包括第一三極管、第二三極管、第一電阻和第二電阻；

其中，所述第一三極管的基極和所述第二三極管的基極連接，同時與所述第三電阻和第四電阻的中間節點連接，所述第一三極管的發射極與第一電阻和第二電阻的中間節點連接，所述第一三極管的集電極與所述電流鏡模塊連接；

所述第二三極管的發射極與所述第一電阻遠離所述第二電阻的一端連接；

所述第二電阻遠離所述第一電阻的一端，與所述第四電阻遠離所述第三電阻的一端連接；

所述電流轉換模塊根據所述第一三極管和所述第二電壓獲取所述第一電流，根據所述第二三極管和所述第二電壓獲取所述第二電流。

可選地，所述晶體管組包括第一N型mos管、第二N型mos管、第一電阻和第二電阻；