[發(fā)明專利]磨耗量測量裝置以及磨耗量測量方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010186184.0 | 申請日： | 2020-03-17 |
| 公開（公告）號： | CN111721196A | 公開（公告）日： | 2020-09-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 手島俊行;豐田千惠 | 申請（專利權(quán)）人： | 株式會社捷太格特 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人： | 王瑋;蘇琳琳 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 磨耗 測量 裝置 以及 測量方法 | ||
本發(fā)明提供能夠高精度地自動測量刀具的刀尖的磨耗量的磨耗量測量裝置以及磨耗量測量方法。磨耗量測量裝置具有光源(1)、照相機(2)和運算部(3)。刀具(4)配置于工作臺(5)上，被調(diào)整為來自光源(1)的光照于刀具(4)的刀尖。光源(1)、照相機(2)以及刀具(4)的位置關(guān)系被設(shè)定為，在取代刀具(4)配置有替代刀具(7)時，光源(1)與照相機(2)的配置相對于替代刀具(7)的磨耗面(7a)成為正反射的關(guān)系。由于光源、照相機以及替代刀具的位置關(guān)系如上述那樣設(shè)定，所以光源、照相機以及刀具的位置關(guān)系被設(shè)定為光源與照相機的配置相對于刀具的磨耗面成為正反射的關(guān)系或者與之接近的關(guān)系。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測量刀具的磨耗量的磨耗量測量裝置或磨耗量測量方法。
背景技術(shù)
作為測量磨削刀具等的刀尖的磨耗量的方法，公知通過拍攝刀尖并解析其圖像數(shù)據(jù)來計算磨耗量的方法。
在專利文獻1中，記載了將照相機配置于與刀尖正對的位置，通過同軸反射方式、小型環(huán)形燈進行刀尖的照明，在該狀態(tài)下拍攝刀尖，根據(jù)拍攝到的圖像數(shù)據(jù)測量磨耗量。另外，針對磨耗量的測量，記載為通過將圖像數(shù)據(jù)二值化或者多值化求出切削刃的退刀面的磨耗寬度來進行。
在專利文獻2中，記載了一種方法，根據(jù)拍攝刀具的刀尖得到的圖像，提取成為測量磨耗量時的基準的刀尖部輪廓線。具體而言，如以下那樣進行提取。首先，根據(jù)拍攝刀具的刀尖得到的圖像，提取與刀尖方向交叉的三根以上的取出線。接下來，對該取出線上的線像素數(shù)據(jù)微分，求出刀具刀尖部與背景部的邊界候補點，從各邊界候補點的組合中選擇最位于直線上的點的組合，將它們作為刀尖部的引導直線。接下來，求出拍攝刀具的刀尖得到的圖像的微分圖像。微分方向是刀尖方向。接下來，通過提取在引導直線附近微分圖像的微分值較大的像素并將該像素連結(jié)，提取刀尖部輪廓線。
專利文獻1：日本特開平8－257876號公報
專利文獻2：日本特開平11－351835號公報
但是，在專利文獻1中，磨耗面比正常面暗地映現(xiàn)，難以僅選擇性地檢測磨耗面。因此，在專利文獻1的方法中，不容易自動測量磨耗量。
另外，在專利文獻2中，在想要自動測量磨耗量時，在刀具刀尖的圖像中磨耗面比正常面稍暗地映現(xiàn)，由此認為能夠檢測磨耗量。但是，磨耗面與正常面的邊界不明確，不一定能夠找到成為用于測量磨耗量的基準的刀尖部輪廓線。因此，難以高精度地檢測磨耗量。
發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供能夠高精度地自動測量刀具的刀尖的磨耗量的磨耗量測量裝置以及磨耗量測量方法。
本發(fā)明是一種磨耗量測量裝置，具有：光照射部，其將光照射于具有磨耗面的被測定物；拍攝部，其拍攝被測定物；以及運算部，其根據(jù)通過拍攝部得到的圖像確定被測定物的磨耗面來計算磨耗量，上述磨耗量測量裝置的特征在于，光照射部、拍攝部以及被測定物的位置關(guān)系被設(shè)定為，在取代被測定物而配置了具有磨耗面的替代被測定物時，光照射部與拍攝部的配置相對于替代被測定物的磨耗面成為正反射的關(guān)系，運算部根據(jù)圖像的亮度的不同確定磨耗面來計算磨耗量。
在本發(fā)明的磨耗量測量裝置中，也可以還具有進行減少光照射部相對于上述被測定物以及上述替代被測定物的預設(shè)角的控制的預設(shè)角調(diào)整部。容易如上述那樣設(shè)定光照射部、拍攝部以及被測定物的位置關(guān)系。
在本發(fā)明的磨耗量測量裝置中，也可以為，具有多個光照射部，根據(jù)各光照射部每個，光照射部、拍攝部以及被測定物的位置關(guān)系被設(shè)定為，在取代被測定物而配置了具有磨耗面的替代被測定物時，光照射部與拍攝部的配置相對于替代被測定物的磨耗面成為正反射的關(guān)系，并且被配置為來自各光照射部的光相對于替代被測定物的磨耗面的入射角彼此不同。即便在磨耗面由多個角度構(gòu)成時，也能高精度地確定磨耗面。
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