[發明專利]一種單管半導體激光器老化測試裝置

在審

• 申請號: 202010182915.4
• 申請日: 2020-03-16
• 公開（公告）號: CN111239581A
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發明（設計）人: 王智勇;楊逸飛;劉友強;秦文斌;曹銀花
• 申請（專利權）人: 北京工業大學
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 沈軍

本發明涉及半導體激光器制造領域，公開了一種單管半導體激光器老化測試裝置，包括搭載平臺、供電搭接件及探針組件；搭載平臺用于搭載預測試的單管半導體激光器；供電搭接件安裝在搭載平臺上，并與探針組件相連接；供電搭接件用于伸向預測試的單管半導體激光器上側的預設位置，以使得探針組件的端部與預測試的單管半導體激光器的電極相接觸；本發明結構簡單、成本低廉，可十分精細對預測試的單管半導體激光器進行通電操作，其操作便捷且精準可靠，并不會對預測試的單管半導體激光器的結構造成損壞，大大方便了對預測試的單管半導體激光器的老化測試。

技術領域

本發明涉及半導體激光器制造領域，特別是涉及一種單管半導體激光器老化測試裝置。

背景技術

半導體激光器的老化測試，是通過激光電源以預設的功率對半導體激光器供電，使得半導體激光器以預設的負荷連續工作，在此過程中，通過檢測半導體激光器的功率輸出狀態及其發光波段的偏移狀態，以此來判斷該半導體激光器是否存在缺陷。

半導體激光器通常在以未封裝的形式出廠時，會進行性能測試實驗。在實際使用時，往往會根據使用需求，將半導體激光器與用于散熱的熱沉焊裝為一體。在焊裝的過程中，半導體激光器自身的性能會有較大的概率發生變化，甚至在焊接過程中發生損壞。為了確保該半導體激光器在實際使用中達到相應的性能要求，并能穩定地工作，需要對其進行老化測試。

當前，半導體激光器的產品形式包括單管或激光Bar條形式，其中，激光Bar條相當于將多個單管半導體激光器并排形成的激光器單條，這種激光Bar條設置有明確的正負極引腳，從而便于對其供電，并進行出廠時的老化測試。然而，對于單管半導體激光器而言，通常采用COS封裝，由于體積相對較小，具體可達到毫米級，并且單管半導體激光器上沒有明顯的正負極引腳，只是在其表面設有用于正負極供電的微米級金線，由此，單管半導體激光器的如此設置結構，難以準確地進行通電操作，如果在通電中操作不當，就會損壞金線，導致單管半導體激光器的報廢，從而難以對其進行相應的老化測試。

發明內容

本發明實施例提供一種單管半導體激光器老化測試裝置，用于解決當前難以準確地對單管半導體激光器進行通電操作，從而導致難以對其進行相應的老化測試的問題。

為了解決上述技術問題，本發明實施例提供了一種單管半導體激光器老化測試裝置，包括搭載平臺、供電搭接件及探針組件；所述搭載平臺用于搭載預測試的單管半導體激光器；所述供電搭接件安裝在所述搭載平臺上，并與所述探針組件相連接；所述供電搭接件用于伸向預測試的單管半導體激光器上側的預設位置，以使得所述探針組件的端部與預測試的單管半導體激光器的電極相接觸。

其中，所述搭載平臺上設有定位槽，所述定位槽與預測試的單管半導體激光器相適配。

其中，所述定位槽包括多個，所述探針組件包括多組，所述探針組件與所述定位槽呈一一相對布置。

其中，所述探針組件安裝在供電板上，所述供電板與所述供電搭接件相連接；和/或，所述探針組件由陽極探針與陰極探針組成，所述陽極探針與所述陰極探針均為彈簧探針。

其中，所述搭載平臺內設置有散熱結構，所述散熱結構與所述定位槽相對應。

其中，所述散熱結構包括散熱通道，所述散熱通道中的至少一段與所述定位槽相對應。

其中，所述供電搭接件包括翻蓋，所述翻蓋的一端與所述搭載平臺相鉸接，所述翻蓋的另一端連接所述探針組件；其中，所述翻蓋用以沿著與所述搭載平臺的上表面相垂直的平面翻轉，所述翻蓋的端面與預測試的單管半導體激光器相對應，所述翻蓋與所述上表面相平行的位置為所述預設位置。

其中，所述搭載平臺的上表面設置有保護支撐柱，所述保護支撐柱用于在所述翻蓋達到所述預設位置時抵觸所述翻蓋。

其中，所述翻蓋與所述搭載平臺之間還設有鎖緊結構，所述鎖緊結構用以在所述翻蓋翻轉至所述預設位置時實現與所述搭載平臺的鎖緊。