[發(fā)明專利]一種單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置

在審

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• 申請日: 2020-03-16
• 公開（公告）號: CN111239581A
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王智勇;楊逸飛;劉友強(qiáng);秦文斌;曹銀花
• 申請（專利權(quán)）人: 北京工業(yè)大學(xué)
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 沈軍

1.一種單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置，其特征在于，

包括搭載平臺、供電搭接件及探針組件；

所述搭載平臺用于搭載預(yù)測試的單管半導(dǎo)體激光器；

所述供電搭接件安裝在所述搭載平臺上，并與所述探針組件相連接，所述供電搭接件用于伸向預(yù)測試的單管半導(dǎo)體激光器上側(cè)的預(yù)設(shè)位置，以使得所述探針組件的端部與預(yù)測試的單管半導(dǎo)體激光器的電極相接觸。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置，其特征在于，所述搭載平臺上設(shè)有定位槽，所述定位槽與預(yù)測試的單管半導(dǎo)體激光器相適配。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置，其特征在于，所述定位槽包括多個，所述探針組件包括多組，所述探針組件與所述定位槽呈一一相對布置。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置，其特征在于，所述探針組件安裝在供電板上，所述供電板與所述供電搭接件相連接；

和/或，所述探針組件由陽極探針與陰極探針組成，所述陽極探針與所述陰極探針均為彈簧探針。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置，其特征在于，所述搭載平臺內(nèi)設(shè)置有散熱結(jié)構(gòu)，所述散熱結(jié)構(gòu)與所述定位槽相對應(yīng)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置，其特征在于，所述散熱結(jié)構(gòu)包括散熱通道，所述散熱通道中的至少一段與所述定位槽相對應(yīng)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置，其特征在于，所述供電搭接件包括翻蓋，所述翻蓋的一端與所述搭載平臺相鉸接，所述翻蓋的另一端連接所述探針組件；

其中，所述翻蓋用以沿著與所述搭載平臺的上表面相垂直的平面翻轉(zhuǎn)，所述翻蓋的端面與預(yù)測試的單管半導(dǎo)體激光器相對應(yīng)，所述翻蓋與所述上表面相平行的位置為所述預(yù)設(shè)位置。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置，其特征在于，所述搭載平臺的上表面設(shè)置有保護(hù)支撐柱，所述保護(hù)支撐柱用于在所述翻蓋達(dá)到所述預(yù)設(shè)位置時抵觸所述翻蓋。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置，其特征在于，所述翻蓋與所述搭載平臺之間還設(shè)有鎖緊結(jié)構(gòu)，所述鎖緊結(jié)構(gòu)用以在所述翻蓋翻轉(zhuǎn)至所述預(yù)設(shè)位置時實現(xiàn)與所述搭載平臺的鎖緊。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的單管半導(dǎo)體激光器老化測試裝置，其特征在于，所述鎖緊結(jié)構(gòu)包括鎖緊旋鈕、通孔及第一螺孔，所述通孔與所述第一螺孔相對應(yīng)，所述通孔開設(shè)在所述翻蓋上，所述第一螺孔開設(shè)在所述搭載平臺的上表面，所述鎖緊旋鈕的鎖緊端用于穿過所述通孔并與所述第一螺孔螺紋連接；

和/或，所述搭載平臺的底部開設(shè)有第二螺孔。