[發明專利]故障診斷模擬方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010179262.4
• 申請日: 2020-03-13
• 公開（公告）號: CN111382078B
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 龍婷;田申
• 申請（專利權）人: 龍婷
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06F11/22
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 蔣姍

本申請提供一種故障模擬診斷方法、裝置、電子設備及存儲介質，包括：接收表征需要對待測對象進行測試的測試需求；根據所述測試需求進行系統建模，構建出能夠實現所述測試需求中的功能的模擬系統；根據所述測試需求，確定出測試數據；針對所述測試需求中的每個功能，修改所述模擬系統，以使修改后的模擬系統無法實現該功能，得到所述修改后的模擬系統；將所述測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到表征該功能存在故障的第一測試結果，以利用所述第一測試結果和與所述第一測試結果對應的測試數據測試所述待測對象的該功能是否存在故障，以在被測對象存在故障時，實現對被測對象故障類型的診斷。

技術領域

本申請涉及測試技術領域，具體而言，涉及一種故障診斷模擬方法、裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

基于功能和基于結構的測試數據自動生成是當前國內外較公認的主流技術。其中，前者出現較早，根據被測對象的功能生成測試數據，在功能測試中，將被測對象整體視為“黑盒”，僅考慮其輸入、輸出，不關心內部原理，將基于功能生成的測試數據作用于被測對象，在輸出端觀察響應結果，根據設定的功能指標判斷被測對象是否故障，然而該方式很難準確地確定出被測對象的故障類型。

為此，提出了基于結構的測試數據生成技術。基于結構的方法必須準確把握被測對象內部機理，根據被測對象的結構生成測試數據，這種數據生成方式被稱為“白盒測試”。該方式可將復雜的被測對象按規則劃分為若干功能模塊，分別測試各模塊來實現對整個被測對象的測試，其缺點是，由于各模塊僅能反映響應功能模塊，因此，該方式很難覆蓋整個被測對象的所有故障狀態，繼而導致被測對象的某些故障類型無法被診斷出。

發明內容

鑒于此，本申請實施例的目的在于提供一種故障診斷模擬方法、裝置、電子設備及存儲介質，以實現對被測設備的較全面的故障類型的診斷。

第一方面，本申請實施例提供一種故障診斷方法，所述方法包括：接收表征需要對待測對象進行測試的測試需求；根據所述測試需求進行系統建模，構建出能夠實現所述測試需求中的功能的模擬系統；根據所述測試需求，確定出測試數據；針對所述測試需求中的每個功能，修改所述模擬系統，以使修改后的模擬系統無法實現該功能，得到所述修改后的模擬系統；將所述測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到表征該功能存在故障的第一測試結果，以利用所述第一測試結果和與所述第一測試結果對應的測試數據測試所述待測對象的該功能是否存在故障。

在上述實現過程中，根據需要對待測對象進行測試的測試需求，構建出能夠實現所述測試需求中的功能的模擬系統，并根據測試需求中的每個功能，對所述模擬系統進行修改，以使修改后的模擬系統無法實現該功能，繼而將根據測試需求確定出的測試數據輸入到修改后的模擬系統中，得到表征該功能存在故障的第一測試結果，繼而得到能夠反映各種功能故障類型的測試數據和第一測試結果，繼而能夠利用故障類型、第一測試結果和對應的測試數據去測試所述待測對象是否存在故障，并在待測對象存在故障時，確定出待測對象的故障類型。

基于第一方面，在一種可能的設計中，所述將所述測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到表征該功能存在故障的第一測試結果，包括：將所述測試數據輸入所述模擬系統，得到表征所述模擬系統的各個功能正常的測試結果；將所述測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到所述第一測試結果；在所述第一測試結果與所述測試結果不同時，所述第一測試結果表征該功能存在故障。

在上述實現過程中，針對同一個測試數據，在該測試數據對應的第一測試結果和表征所述模擬系統的各個功能正常的測試結果相同時，可以初步確定該修改后的模擬系統的該功能不存在故障，反之，表征該功能存在故障，繼而能夠利用所述第一測試結果準確地反映該修改后的模擬系統的該功能存在故障。