[發明專利]故障診斷模擬方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010179262.4
• 申請日: 2020-03-13
• 公開（公告）號: CN111382078B
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 龍婷;田申
• 申請（專利權）人: 龍婷
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06F11/22
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 蔣姍

1.一種故障模擬診斷方法，其特征在于，所述方法包括：

接收表征需要對待測對象進行測試的測試需求；

根據所述測試需求進行系統建模，構建出能夠實現所述測試需求中的功能的模擬系統；

根據所述測試需求，確定出測試數據；

針對所述測試需求中的每個功能，修改所述模擬系統，以使修改后的模擬系統無法實現該功能，得到所述修改后的模擬系統；

將所述測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到表征該功能存在故障的第一測試結果，以利用所述第一測試結果和與所述第一測試結果對應的測試數據測試所述待測對象的該功能是否存在故障；

所述將所述測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到表征該功能存在故障的第一測試結果，包括：

將所述測試數據輸入所述模擬系統，得到表征所述模擬系統的各個功能正常的測試結果；

將所述測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到所述第一測試結果；

在所述第一測試結果與所述測試結果不同時，所述第一測試結果表征該功能存在故障。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在得到所述修改后的模擬系統之后，所述方法還包括：

將所測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，未得到所述第一測試結果；

對所述修改后的模擬系統進行再次修改，得到再次修改后的模擬系統；

將所述測試數據輸入至所述再次修改后的模擬系統，得到表征該功能存在故障的第二測試結果，以利用所述第二測試結果和與所述第二測試結果對應的測試數據測試所述待測對象的該功能是否存在故障。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在未得到所述第一測試結果之后，所述方法還包括：

根據所述測試需求，生成新的測試數據；

將所述新的測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到表征該功能存在故障的第三測試結果，以利用所述第三測試結果和與所述第三測試結果對應的所述新的測試數據測試所述待測對象的該功能是否存在故障。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

確定所述測試需求中的全部功能對應的第一測試結果所對應的測試數據的數量是否小于等于預設值；

在確定所述測試需求中全部功能對應的第一測試結果所對應的測試數據的數量大于所述預設值時，根據所述測試需求，重新生成測試數據；

將重新生成的測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到表征該功能存在故障的第四測試結果；

在確定所述測試需求中全部功能對應的第四測試結果對應的測試數據的數量小于等于所述預設值時，表征所述第四測試結果對應的測試數據為測試待測試設備的最終的測試數據。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，若所述測試數據中存在對應至少兩個功能故障的不同測試結果的第一測試數據，所述方法還包括：

將所述第一測試數據作為測試所述待測對象的所述至少兩個功能的最終測試數據。

6.一種故障診斷模擬裝置，其特征在于，所述裝置包括：

接收單元，用于接收表征需要對待測對象進行測試的測試需求；

系統構建單元，用于根據所述測試需求進行系統建模，構建出能夠實現所述測試需求中的功能的模擬系統；

確定單元，用于根據所述測試需求，確定出測試數據；

系統修改單元，用于針對所述測試需求中的每個功能，修改所述模擬系統，以使修改后的模擬系統無法實現該功能，得到所述修改后的模擬系統；

測試結果獲得單元，用于將所述測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到表征該功能存在故障的第一測試結果，以利用所述第一測試結果和與所述第一測試結果對應的測試數據測試所述待測對象的該功能是否存在故障；

所述測試結果獲得單元，具體用于將所述測試數據輸入所述模擬系統，得到表征所述模擬系統的各個功能正常的測試結果；以及將所述測試數據輸入至所述修改后的模擬系統，得到所述第一測試結果；在所述第一測試結果與所述測試結果不同時，所述第一測試結果表征該功能存在故障。