[發明專利]標定方法、位置確定方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010175090.3
• 申請日: 2020-03-13
• 公開（公告）號: CN111380502B
• 公開（公告）日: 2022-05-24
• 發明（設計）人: 馬政;黃瑞;閆國行;石建萍
• 申請（專利權）人: 商湯集團有限公司
• 主分類號: G01C3/00
• 分類號: G01C3/00;G01C25/00;G06T7/80;G06T7/73
• 代理公司: 北京中知恒瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 11889
• 代理人: 王文紅

1.一種標定方法，其特征在于，包括：

獲取圖像采集設備拍攝的樣本圖像；

基于所述樣本圖像，確定所述樣本圖像中多個樣本參照物在圖像坐標系中的初始像素坐標；其中，所述多個樣本參照物構成樣本參照物陣列；

基于確定的每個樣本參照物在圖像坐標系中的初始像素坐標，在不同方向上分別對位于同一條直線上的所述樣本參照物進行直線擬合，并基于擬合后得到的不同方向上的多條直線對參與擬合的初始像素坐標進行修正，得到修正像素坐標；

基于所述樣本圖像中的每個樣本參照物在世界坐標系下的世界坐標、以及得到的修正像素坐標，確定所述圖像采集設備的單應性矩陣。

2.根據權利要求1所述的標定方法，其特征在于，所述基于確定的每個樣本參照物在圖像坐標系中的初始像素坐標，在不同方向上分別對位于同一條直線上的所述樣本參照物進行直線擬合，并基于擬合后得到的不同方向上的多條直線對參與擬合的初始像素坐標進行修正，得到修正像素坐標，包括：

基于確定的每個樣本參照物在圖像坐標系中的初始像素坐標，對位于沿第一方向的直線上的樣本參照物分別進行直線擬合，得到多條第一直線；

基于多條第一直線，對每個樣本參照物在圖像坐標系中的初始像素坐標進行修正，得到中間像素坐標；并基于每個樣本參照物的中間像素坐標，對位于沿第二方向上的直線上的樣本參照物分別進行直線擬合，得到多條第二直線，其中，沿第一方向上的直線與沿第二方向上的直線相交；

基于多條所述第一直線和多條所述第二直線，得到所述修正像素坐標。

3.根據權利要求2所述的標定方法，其特征在于，所述初始像素坐標包括初始第一坐標值和初始第二坐標值，所述初始第一坐標值對應的第一坐標軸與所述初始第二坐標值對應的第二坐標軸相互垂直；

基于多條第一直線，對每個樣本參照物在圖像坐標系中的初始像素坐標進行修正，得到中間像素坐標，包括：

將每個樣本參照物的初始像素坐標中的初始第一坐標值，代入該樣本參照物所在的所述第一直線的直線方程，得到中間第二坐標值；一個樣本參照物的中間像素坐標包括該樣本參照物的初始第一坐標值和中間第二坐標值；

基于每個樣本參照物的中間像素坐標，對位于沿第二方向上的直線上的樣本參照物分別進行直線擬合，得到多條第二直線，包括：

基于每個樣本參照物的中間像素坐標中的初始第一坐標值和中間第二坐標值，對位于沿第二方向的直線上的所述樣本參照物進行直線擬合，得到多條第二直線。

4.根據權利要求2或3所述的標定方法，其特征在于，所述基于多條所述第一直線和多條所述第二直線，得到所述修正像素坐標，包括：

將多條所述第一直線和多條所述第二直線的交點對應的像素坐標，作為所述修正像素坐標。

5.根據權利要求3所述的標定方法，其特征在于，所述第一坐標軸為圖像坐標系中的橫坐標軸，所述第二坐標軸為圖像坐標系中的縱坐標軸；或者，所述第一坐標軸為圖像坐標系中的縱坐標軸，所述第二坐標軸為圖像坐標系中的橫坐標軸。

6.根據權利要求1所述的標定方法，其特征在于，確定所述圖像采集設備的單應性矩陣之后，還包括：

獲取所述圖像采集設備拍攝的多個測試圖像；

針對每個所述測試圖像，確定所述測試圖像中每個測試參照物在圖像坐標系中的測試像素坐標；

基于所述測試像素坐標和所述單應性矩陣，確定所述測試參照物在所述世界坐標系中的測試世界坐標；

基于多個所述測試圖像中所述測試參照物的真實世界坐標和所述測試世界坐標，確定所述單應性矩陣的準確度。

7.一種位置確定方法，其特征在于，包括：

獲取圖像采集設備拍攝目標物后得到的目標圖像；

基于所述目標圖像，確定所述目標物在圖像坐標系下的像素坐標；

基于所述像素坐標和所述圖像采集設備的單應性矩陣，確定所述目標物在世界坐標系下的世界坐標，所述圖像采集設備的單應性矩陣采用權利要求1-6任一所述的標定方法確定。