[發(fā)明專(zhuān)利]存儲(chǔ)器的測(cè)試方法及相關(guān)設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010167406.4
• 申請(qǐng)日: 2020-03-11
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113393893A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-09-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 章恒嘉;丁麗;史傳奇
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 長(zhǎng)鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G11C29/56
• 分類(lèi)號(hào): G11C29/56
• 代理公司: 北京律智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11438
• 代理人: 袁禮君;闞梓瑄

1.一種存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

測(cè)試第一存儲(chǔ)器，獲取所述第一存儲(chǔ)器的缺陷信息；

根據(jù)所述第一存儲(chǔ)器的缺陷信息，獲得所述第一存儲(chǔ)器的修復(fù)信息；

將所述第一存儲(chǔ)器的修復(fù)信息存儲(chǔ)于第二存儲(chǔ)器中。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，在測(cè)試所述第一存儲(chǔ)器之前，所述方法還包括：

測(cè)試所述第二存儲(chǔ)器，獲取所述第二存儲(chǔ)器的缺陷信息；

存儲(chǔ)所述第二存儲(chǔ)器的缺陷信息；

根據(jù)所述第二存儲(chǔ)器的缺陷信息，獲得所述第二存儲(chǔ)器的修復(fù)信息；

利用所述第二存儲(chǔ)器的修復(fù)信息修復(fù)所述第二存儲(chǔ)器。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，所述第一存儲(chǔ)器和所述第二存儲(chǔ)器屬于同一存儲(chǔ)設(shè)備。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，所述存儲(chǔ)設(shè)備還包括控制芯片，所述第一存儲(chǔ)器和所述第二存儲(chǔ)器依次垂直堆疊于所述控制芯片之上或者之下。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，所述第一存儲(chǔ)器和所述第二存儲(chǔ)器屬于不同存儲(chǔ)設(shè)備，所述不同存儲(chǔ)設(shè)備的類(lèi)型相同或者不同。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：

測(cè)試第三存儲(chǔ)器，獲取所述第三存儲(chǔ)器的缺陷信息；

根據(jù)所述第三存儲(chǔ)器的缺陷信息，獲得所述第三存儲(chǔ)器的修復(fù)信息；

將所述第三存儲(chǔ)器的修復(fù)信息存儲(chǔ)于所述第二存儲(chǔ)器中。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：

從所述第二存儲(chǔ)器中讀取所述第一存儲(chǔ)器和所述第三存儲(chǔ)器的修復(fù)信息；

根據(jù)所述第一存儲(chǔ)器的修復(fù)信息修復(fù)所述第一存儲(chǔ)器，并根據(jù)所述第三存儲(chǔ)器的修復(fù)信息修復(fù)所述第三存儲(chǔ)器。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：

從所述第二存儲(chǔ)器中讀取所述第一存儲(chǔ)器的修復(fù)信息；

根據(jù)所述第一存儲(chǔ)器的修復(fù)信息修復(fù)所述第一存儲(chǔ)器。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：

測(cè)試第四存儲(chǔ)器，獲取所述第四存儲(chǔ)器的缺陷信息；

根據(jù)所述第四存儲(chǔ)器的缺陷信息，獲得所述第四存儲(chǔ)器的修復(fù)信息；

將所述第四存儲(chǔ)器的修復(fù)信息存儲(chǔ)于所述第一存儲(chǔ)器中。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取所述第一存儲(chǔ)器的測(cè)試數(shù)據(jù)；

將所述第一存儲(chǔ)器的測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于所述第二存儲(chǔ)器中。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備執(zhí)行。

12.一種存儲(chǔ)器的測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

缺陷信息獲取單元，用于測(cè)試第一存儲(chǔ)器，獲取所述第一存儲(chǔ)器的缺陷信息；

修復(fù)信息獲得單元，用于根據(jù)所述第一存儲(chǔ)器的缺陷信息，獲得所述第一存儲(chǔ)器的修復(fù)信息；

修復(fù)信息存儲(chǔ)單元，用于將所述第一存儲(chǔ)器的修復(fù)信息存儲(chǔ)于第二存儲(chǔ)器中。

13.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：

一個(gè)或多個(gè)處理器；

存儲(chǔ)裝置，用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序；

當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行，使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-11中任一項(xiàng)所述的方法。

14.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-11中任一所述的方法。