[發(fā)明專(zhuān)利]一種表面劃痕檢測(cè)方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010166733.8
• 申請(qǐng)日: 2020-03-10
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113376164A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-09-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馬宏
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 覺(jué)芯電子（無(wú)錫）有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01N21/88
• 分類(lèi)號(hào): G01N21/88;H05B45/30
• 代理公司: 廣州三環(huán)專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;賈允

本發(fā)明公開(kāi)了一種表面劃痕檢測(cè)方法及裝置，所述方法包括以下步驟：生成時(shí)序控制信號(hào)；根據(jù)所述時(shí)序控制信號(hào)，向待測(cè)件表面發(fā)射準(zhǔn)直的照明光束；接收所述待測(cè)件表面的反射光，并對(duì)所述待測(cè)件表面成像；根據(jù)所述待測(cè)件表面成像信息，得到所述待測(cè)件表面的劃痕信息，本發(fā)明采用時(shí)序電信號(hào)對(duì)不同照明單元進(jìn)行控制，使系統(tǒng)更為簡(jiǎn)單，控制更加靈活便捷和高效，從不同角度對(duì)待測(cè)件進(jìn)行照明，使劃痕的成像清晰度顯著提高，漏檢率大大降低。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種表面劃痕檢測(cè)方法及裝置。

背景技術(shù)

在許多工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域，如手機(jī)屏幕、手表玻璃殼、液晶顯示屏、相機(jī)鏡頭等的生產(chǎn)過(guò)程中，都需要對(duì)其表面劃痕進(jìn)行檢測(cè)，以確定產(chǎn)品是否滿(mǎn)足質(zhì)量要求。劃痕的存在一方面會(huì)影響產(chǎn)品性能，如顯示效果變差或影響成像效果等，另一方面影響產(chǎn)品的美觀(guān)度，因此，是產(chǎn)品質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié)。常規(guī)的表面劃痕檢測(cè)，通常是靠人工目檢，這種方式不僅效率低下，人力成本高，而且對(duì)于許多細(xì)小劃痕很容易漏檢。隨著工業(yè)自動(dòng)化水平的不斷提高，基于機(jī)器視覺(jué)的檢測(cè)設(shè)備已越來(lái)越多，使檢測(cè)效率大大提高，可檢測(cè)的最小劃痕可達(dá)到微米級(jí)。然而，由于表面劃痕的不規(guī)則性，其形狀、方向和尺寸都存在很大的隨機(jī)性，往往需要在特定角度下進(jìn)行照明才能獲得較好的檢測(cè)效果。目前通常采用平行光源進(jìn)行照明，為了檢測(cè)不同的劃痕，需要通過(guò)移動(dòng)和旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)改變光源的照明方向，這種方法檢測(cè)效率低，系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜。

因此急需新的檢測(cè)裝置來(lái)解決現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于，提供一種表面劃痕檢測(cè)方法及裝置，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中檢測(cè)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜并且檢測(cè)效率低下的問(wèn)題，可在極短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)待測(cè)件表面不同角度的照明，降低漏檢率，提高檢測(cè)效率。

為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的具體技術(shù)方案如下：

本發(fā)明提供一種表面劃痕檢測(cè)方法，包括以下步驟：

生成時(shí)序控制信號(hào)；

根據(jù)所述時(shí)序控制信號(hào)，向待測(cè)件表面發(fā)射準(zhǔn)直的照明光束；

接收所述待測(cè)件表面的反射光，并對(duì)所述待測(cè)件表面成像；

根據(jù)所述待測(cè)件表面成像信息，得到所述待測(cè)件表面的劃痕信息。

進(jìn)一步地，根據(jù)所述時(shí)序控制信號(hào)，控制或改變所述照明光束的狀態(tài)；

進(jìn)一步地，所述表面成像的幀頻大于等于所述時(shí)序控制信號(hào)的頻率。

另一方面，本發(fā)明還提供一種表面劃痕檢測(cè)裝置，用于執(zhí)行上述提供的方法，所述裝置包括：

照明控制模塊，用于生成時(shí)序控制信號(hào)，并控制照明模塊的工作狀態(tài)；

照明模塊，用于根據(jù)所述時(shí)序控制信號(hào)，向待測(cè)件表面發(fā)射準(zhǔn)直的照明光束；

成像模塊，用于接收所述待測(cè)件表面的反射光，并對(duì)所述待測(cè)件表面成像；

數(shù)據(jù)處理模塊，用于根據(jù)所述待測(cè)件表面成像信息，通過(guò)計(jì)算分析得到所述待測(cè)件表面的劃痕信息。

進(jìn)一步地，所述裝置還包括固定模塊，用于固定所述照明模塊和所述成像模塊，所述照明模塊和所述成像模塊按照預(yù)設(shè)的空間相對(duì)關(guān)系設(shè)置，以使所述照明模塊發(fā)射的照明光束經(jīng)所述待測(cè)件反射后被所述成像模塊接收。

進(jìn)一步地，所述照明模塊包括多個(gè)照明單元，所述多個(gè)照明單元按照預(yù)設(shè)布局固定在所述固定模塊上，其中每個(gè)所述照明單元包括：

發(fā)光器件；

準(zhǔn)直器件，用于將所述發(fā)光器件發(fā)出的光準(zhǔn)直成近平行光束。

進(jìn)一步地，所述成像模塊的響應(yīng)譜段與所述照明模塊發(fā)出的光波譜段相匹配。