[發明專利]一種上電緩沖電阻的性能測試方法、裝置及設備

有效

• 申請號: 202010164844.5
• 申請日: 2020-03-10
• 公開（公告）號: CN111157831B
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發明（設計）人: 胡陳;陳楷盛;陳建權
• 申請（專利權）人: 浙江禾川科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R19/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 薛嬌

1.一種上電緩沖電阻的性能測試方法，其特征在于，應用于伺服驅動器或變頻器，包括：

控制直流電源通過待測緩沖電阻為儲能電容充電；

在所述儲能電容被充電預設時段后判斷所述儲能電容的電壓值是否大于預設閾值；

若否，則判定所述待測緩沖電阻失效；

其中，所述直流電源與所述待測緩沖電阻的第一端連接，所述待測緩沖電阻的第二端與所述儲能電容的第一端連接；

所述判斷所述儲能電容的電壓值是否大于預設閾值具體為：

通過電壓檢測模塊獲取所述儲能電容的電壓值；

判斷所述儲能電容的電壓值是否大于預設閾值；

所述電壓檢測模塊包括：

第一端與所述儲能電容的第一端連接，第二端分別與第二分壓電阻的第一端以及處理器連接的第一分壓電阻；

第二端分別與所述儲能電容的第二端以及所述處理器連接的所述第二分壓電阻。

2.根據權利要求1所述的上電緩沖電阻的性能測試方法，其特征在于，在所述儲能電容被充電預設時段后判斷所述儲能電容的電壓值是否大于預設閾值之后，該上電緩沖電阻的性能測試方法還包括：

若所述儲能電容的電壓值大于所述預設閾值，則控制所述直流電源停止為所述儲能電容供電，并控制電能泄放模塊泄放所述儲能電容中的電能。

3.根據權利要求2所述的上電緩沖電阻的性能測試方法，其特征在于，所述控制所述電能泄放模塊泄放所述儲能電容中的電能之后，該上電緩沖電阻的性能測試方法還包括：

將初始值為0的測試次數加一；

判斷所述測試次數是否達到預設次數；

若否，則返回控制直流電源通過待測緩沖電阻為儲能電容充電的步驟。

4.根據權利要求2所述的上電緩沖電阻的性能測試方法，其特征在于，所述控制所述直流電源停止為所述儲能電容供電，并控制所述電能泄放模塊泄放所述儲能電容中的電能具體為：

通過設置在所述直流電源與所述待測緩沖電阻之間的第一控制開關控制所述直流電源停止為所述儲能電容供電；

通過設置在所述儲能電容與電能泄放模塊之間的第二控制開關控制所述電能泄放模塊泄放所述儲能電容中的電能。

5.根據權利要求4所述的上電緩沖電阻的性能測試方法，其特征在于，該上電緩沖電阻的性能測試方法應用于處理器。

6.根據權利要求5所述的上電緩沖電阻的性能測試方法，其特征在于，所述處理器為可編程邏輯控制器PLC。

7.根據權利要求1至6任一項所述的上電緩沖電阻的性能測試方法，其特征在于，所述判定所述待測緩沖電阻失效之后，該上電緩沖電阻的性能測試方法還包括：

控制提示器提示所述待測緩沖電阻失效。

8.一種上電緩沖電阻的性能測試裝置，其特征在于，包括：

控制模塊，用于控制直流電源通過待測緩沖電阻為儲能電容充電；

判斷模塊，用于在所述儲能電容被充電預設時段后判斷所述儲能電容的電壓值是否大于預設閾值，若否，則觸發判定模塊；

所述判定模塊，用于判定所述待測緩沖電阻失效；

其中，所述直流電源與所述待測緩沖電阻的第一端連接，所述待測緩沖電阻的第二端與所述儲能電容的第一端連接；

所述判斷所述儲能電容的電壓值是否大于預設閾值具體為：

通過電壓檢測模塊獲取所述儲能電容的電壓值；

判斷所述儲能電容的電壓值是否大于預設閾值；

所述電壓檢測模塊包括：

第一端與所述儲能電容的第一端連接，第二端分別與第二分壓電阻的第一端以及處理器連接的第一分壓電阻；

第二端分別與所述儲能電容的第二端以及所述處理器連接的所述第二分壓電阻。

9.一種上電緩沖電阻的性能測試設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序時實現如權利要求1-7任一項所述的上電緩沖電阻的性能測試方法的步驟。