[發明專利]芯片測試驗證方法、計算機裝置及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010163486.6
• 申請日: 2020-03-10
• 公開（公告）號: CN111400116A
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發明（設計）人: 唐禹譜;鄒文歡;鐘午;匡雙鴿
• 申請（專利權）人: 珠海全志科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G01R31/3183
• 代理公司: 珠海智專專利商標代理有限公司 44262
• 代理人: 林永協

1.芯片測試驗證方法，包括：

將輸入數據輸入至待測試芯片，所述待測試芯片對所述輸入數據進行運算形成硬件輸出數據；

其特征在于：

對所述硬件輸出數據進行校驗計算，獲得硬件輸出數據校驗值；

獲取基準輸出數據校驗值，所述基準輸出數據校驗值是代碼模型對所述輸入數據進行運算形成的基準輸出數據經過校驗計算獲得的校驗值；

根據所述基準輸出數據校驗值與所述硬件輸出數據校驗值的一致性來確認所述待測試芯片是否通過驗證。

2.根據權利要求1所述的芯片測試驗證方法，其特征在于：

所述待測試芯片首次驗證時，獲取所述基準輸出數據校驗值包括：

將所述輸入數據輸入至所述代碼模型，所述代碼模型對所述輸入數據進行運算形成基準輸出數據；

對所述基準輸出數據進行校驗計算，獲得基準輸出數據校驗值；

該方法還包括：將所述基準輸出數據校驗值保存至預設文件夾。

3.根據權利要求2所述的芯片測試驗證方法，其特征在于：

所述待測試芯片回歸驗證時，獲取所述基準輸出數據校驗值包括：

從所述預設文件夾獲取所述基準輸出數據校驗值。

4.根據權利要求1至3任一項所述的芯片測試驗證方法，其特征在于，該方法還包括：

對輸入至所述待測試芯片的輸入數據進行校驗計算，獲取硬件輸入數據校驗值；

獲取基準輸入數據校驗值，所述基準輸入數據校驗值是對輸入至所述代碼模型的輸入數據進行校驗計算獲得的校驗值；

對所述基準輸出數據校驗值與所述硬件輸出數據校驗值的一致性判斷前，執行：

確認所述基準輸入數據校驗值與所述硬件輸入數據校驗值的一致性。

5.根據權利要求4所述的芯片測試驗證方法，其特征在于：

確認所述基準輸入數據校驗值與所述硬件輸入數據校驗值的一致性包括：

如確認所述基準輸入數據校驗值與所述硬件輸入數據校驗值不一致，發出輸入數據錯誤的提示信息。

6.根據權利要求5述的芯片測試驗證方法，其特征在于：

發出輸入數據錯誤的提示信息后，還執行：發出澄清輸入數據后重新驗證的提示信息。

7.根據權利要求4所述的芯片測試驗證方法，其特征在于：

所述待測試芯片首次驗證時，獲取所述基準輸入數據校驗值包括：

對輸入至所述代碼模型的輸入數據進行校驗計算，獲得基準輸入數據校驗值；

將所述基準輸入數據校驗值保存至預設文件夾。

8.根據權利要求7所述的芯片測試驗證方法，其特征在于，該方法還包括：

所述待測試芯片回歸驗證時，獲取所述基準輸入數據校驗值包括：

從所述預設文件夾獲取所述基準輸入數據校驗值。

9.計算機裝置，其特征在于，包括處理器以及存儲器，所述存儲器存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至8中任意一項所述芯片測試驗證方法的各個步驟。

10.計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于：所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至8中任意一項所述芯片測試驗證方法的各個步驟。