[發(fā)明專利]致密儲(chǔ)層物性下限的確定方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010160417.X
• 申請(qǐng)日: 2020-03-10
• 公開（公告）號(hào): CN113376069A
• 公開（公告）日: 2021-09-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張世銘;王建功;張小軍;張婷靜;吳梁宇;王樸
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N15/08
• 分類號(hào): G01N15/08;G01N24/08
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 王天堯;湯在彥

本發(fā)明提供了一種致密儲(chǔ)層物性下限的確定方法及裝置，該方法包括：獲得致密儲(chǔ)層的含油樣品的第一孔喉半徑分布范圍和第二孔喉半徑分布范圍；確定致密儲(chǔ)層的第三孔喉半徑分布范圍；獲得致密儲(chǔ)層的巖心樣品的第一核磁T2弛豫譜累積曲線和第二核磁T2弛豫譜累積曲線；根據(jù)第一核磁T2弛豫譜累積曲線和第二核磁T2弛豫譜累積曲線，確定致密儲(chǔ)層的可動(dòng)流體分布孔喉下限；在可動(dòng)流體分布孔喉下限在第三孔喉半徑分布范圍之內(nèi)時(shí)，根據(jù)第一孔喉半徑分布范圍和可動(dòng)流體分布孔喉下限，確定致密儲(chǔ)層的物性下限，所述物性下限包括孔隙度下限和滲透率下限。本發(fā)明實(shí)施例可以確定致密儲(chǔ)層物性下限，準(zhǔn)確度高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及石油勘探開發(fā)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種致密儲(chǔ)層物性下限的確定方法及裝置。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)中，有效儲(chǔ)層物性下限的確定方法主要包括兩類，一種是基于動(dòng)態(tài)生產(chǎn)資料的確定方法，主要包括測試法、試油法、分布函數(shù)法、含油產(chǎn)狀法等，以上方法多是根據(jù)試油資料、錄井資料與孔隙度、滲透率的分布關(guān)系的統(tǒng)計(jì)方法，是一種在常規(guī)砂巖儲(chǔ)層研究的基礎(chǔ)上建立的方法，受完井方式及試油工藝的影響較大，低產(chǎn)儲(chǔ)層與干層也不能較好的區(qū)分，受限于大量生產(chǎn)資料。另一種是基于巖心實(shí)驗(yàn)分析結(jié)果的確定方法，主要是依據(jù)物性、壓汞、核磁共振及流體飽和度測試結(jié)果，主要方法包括孔隙度-滲透率交匯法、經(jīng)驗(yàn)統(tǒng)計(jì)法、束縛水飽和度法、最小孔喉法，這些方法多是根據(jù)測試結(jié)果的分布變化特征、經(jīng)驗(yàn)值來進(jìn)行孔喉下限的確定，基于巖心的分析測試的方法受樣品代表性及測試條件的影響較大。

隨著國內(nèi)致密油勘探力度的加大，致密儲(chǔ)層的研究受到重視。由于致密儲(chǔ)層與常規(guī)儲(chǔ)層的在充注機(jī)理、孔喉尺度上的差異，以及測試精度的限制，上述方法不適用于致密儲(chǔ)層，而現(xiàn)有的針對(duì)致密儲(chǔ)層的物性下限確定方法存在準(zhǔn)確度不高的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提出一種致密儲(chǔ)層物性下限的確定方法，用以確定致密儲(chǔ)層物性下限，準(zhǔn)確度高，該方法包括：

獲得致密儲(chǔ)層的含油樣品的第一孔喉半徑分布范圍和第二孔喉半徑分布范圍，所述第一孔喉半徑分布范圍是對(duì)含油樣品進(jìn)行壓汞測試獲得的，所述第二孔喉數(shù)據(jù)是對(duì)含油樣品進(jìn)行掃描電鏡分析獲得的；

根據(jù)含油樣品的第一孔喉半徑分布范圍和第二孔喉半徑分布范圍，確定致密儲(chǔ)層的第三孔喉半徑分布范圍；

獲得致密儲(chǔ)層的巖心樣品的第一核磁T2弛豫譜累積曲線和第二核磁T2弛豫譜累積曲線，所述第一核磁T2弛豫譜累積曲線是對(duì)致密儲(chǔ)層的飽和流體后的巖心樣品進(jìn)行核磁共振測試獲得的；所述第二核磁T2弛豫譜累積曲線是對(duì)離心處理后的巖心樣品進(jìn)行核磁共振測試獲得，所述離心處理后的巖心樣品是通過對(duì)飽和流體后的巖心樣品進(jìn)行離心處理獲得的；

根據(jù)第一核磁T2弛豫譜累積曲線和第二核磁T2弛豫譜累積曲線，確定致密儲(chǔ)層的可動(dòng)流體分布孔喉下限；

在可動(dòng)流體分布孔喉下限在第三孔喉半徑分布范圍之內(nèi)時(shí)，根據(jù)第一孔喉半徑分布范圍和可動(dòng)流體分布孔喉下限，確定致密儲(chǔ)層的物性下限，所述物性下限包括孔隙度下限和滲透率下限。

本發(fā)明實(shí)施例提出一種致密儲(chǔ)層物性下限的確定裝置，用以確定致密儲(chǔ)層物性下限，準(zhǔn)確度高，該裝置包括：

第一數(shù)據(jù)獲得模塊，用于獲得致密儲(chǔ)層的含油樣品的第一孔喉半徑分布范圍和第二孔喉半徑分布范圍，所述第一孔喉半徑分布范圍是對(duì)含油樣品進(jìn)行壓汞測試獲得的，所述第二孔喉數(shù)據(jù)是對(duì)含油樣品進(jìn)行掃描電鏡分析獲得的；

第一分析模塊，用于根據(jù)含油樣品的第一孔喉半徑分布范圍和第二孔喉半徑分布范圍，確定致密儲(chǔ)層的第三孔喉半徑分布范圍；

第二數(shù)據(jù)獲得模塊，用于獲得致密儲(chǔ)層的巖心樣品的第一核磁T2弛豫譜累積曲線和第二核磁T2弛豫譜累積曲線，所述第一核磁T2弛豫譜累積曲線是對(duì)致密儲(chǔ)層的飽和流體后的巖心樣品進(jìn)行核磁共振測試獲得的；所述第二核磁T2弛豫譜累積曲線是對(duì)離心處理后的巖心樣品進(jìn)行核磁共振測試獲得，所述離心處理后的巖心樣品是通過對(duì)飽和流體后的巖心樣品進(jìn)行離心處理獲得的；