[發(fā)明專利]致密儲層物性下限的確定方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010160417.X | 申請日： | 2020-03-10 |
| 公開（公告）號： | CN113376069A | 公開（公告）日： | 2021-09-10 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張世銘;王建功;張小軍;張婷靜;吳梁宇;王樸 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N15/08 | 分類號： | G01N15/08;G01N24/08 |
| 代理公司： | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人： | 王天堯;湯在彥 |
| 地址： | 100007 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 致密 物性 下限 確定 方法 裝置 | ||
1.一種致密儲層物性下限的確定方法，其特征在于，包括：
獲得致密儲層的含油樣品的第一孔喉半徑分布范圍和第二孔喉半徑分布范圍，所述第一孔喉半徑分布范圍是對含油樣品進(jìn)行壓汞測試獲得的，所述第二孔喉數(shù)據(jù)是對含油樣品進(jìn)行掃描電鏡分析獲得的；
根據(jù)含油樣品的第一孔喉半徑分布范圍和第二孔喉半徑分布范圍，確定致密儲層的第三孔喉半徑分布范圍；
獲得致密儲層的巖心樣品的第一核磁T2弛豫譜累積曲線和第二核磁T2弛豫譜累積曲線，所述第一核磁T2弛豫譜累積曲線是對致密儲層的飽和流體后的巖心樣品進(jìn)行核磁共振測試獲得的；所述第二核磁T2弛豫譜累積曲線是對離心處理后的巖心樣品進(jìn)行核磁共振測試獲得，所述離心處理后的巖心樣品是通過對飽和流體后的巖心樣品進(jìn)行離心處理獲得的；
根據(jù)第一核磁T2弛豫譜累積曲線和第二核磁T2弛豫譜累積曲線，確定致密儲層的可動流體分布孔喉下限；
在可動流體分布孔喉下限在第三孔喉半徑分布范圍之內(nèi)時，根據(jù)第一孔喉半徑分布范圍和可動流體分布孔喉下限，確定致密儲層的物性下限，所述物性下限包括孔隙度下限和滲透率下限。
2.如權(quán)利要求1所述的致密儲層物性下限的確定方法，其特征在于，還包括：
采集對含油樣品進(jìn)行壓汞測試時注汞過程獲得的孔喉半徑分布范圍和退汞過程獲得的孔喉半徑分布范圍；
根據(jù)注汞過程獲得的孔喉半徑分布范圍和退汞過程獲得的孔喉半徑分布范圍，獲得含油樣品的第一孔喉半徑分布范圍。
3.如權(quán)利要求1所述的致密儲層物性下限的確定方法，其特征在于，還包括：
采集對氬離子拋光的含油樣品進(jìn)行掃描電鏡拍攝獲得的二次電子圖像；
將所述二次電子圖像轉(zhuǎn)化為黑白圖像；
計算黑白圖像中每個孔喉的半徑，多個孔喉的半徑形成第二孔喉半徑分布范圍。
4.如權(quán)利要求1所述的致密儲層物性下限的確定方法，其特征在于，根據(jù)第一核磁T2弛豫譜累積曲線和第二核磁T2弛豫譜累積曲線，確定致密儲層的可動流體分布孔喉下限，包括：
確定第一核磁T2弛豫譜累積曲線和第二核磁T2弛豫譜累積曲線的分離點對應(yīng)的弛豫時間；
根據(jù)所述分離點對應(yīng)的弛豫時間，確定致密儲層的可動流體分布孔喉下限。
5.如權(quán)利要求4所述的致密儲層物性下限的確定方法，其特征在于，采用如下公式，根據(jù)所述分離點對應(yīng)的弛豫時間，確定致密儲層的可動流體分布孔喉下限：
r＝C·T2
其中，r為致密儲層的可動流體分布孔喉下限；
C為系數(shù)；
T2為分離點對應(yīng)的弛豫時間。
6.如權(quán)利要求1所述的致密儲層物性下限的確定方法，其特征在于，還包括：
在可動流體分布孔喉下限不在第三孔喉半徑分布范圍之內(nèi)時，重新執(zhí)行以下步驟，直至新的可動流體分布孔喉下限在第三孔喉半徑分布范圍之內(nèi)：
獲得致密儲層的巖心樣品的新的第一核磁T2弛豫譜累積曲線和新的第二核磁T2弛豫譜累積曲線；
根據(jù)新的第一核磁T2弛豫譜累積曲線和新的第二核磁T2弛豫譜累積曲線，確定新的致密儲層的可動流體分布孔喉下限。
7.如權(quán)利要求1所述的致密儲層物性下限的確定方法，其特征在于，根據(jù)第一孔喉半徑分布范圍和可動流體分布孔喉下限，確定致密儲層的物性下限，包括：
根據(jù)第一孔喉半徑分布范圍，確定孔喉半徑與孔隙度的擬合公式的擬合系數(shù)；
將所述可動流體分布孔喉下限輸入至所述擬合公式中，確定致密儲層的孔隙度下限；
根據(jù)致密儲層的孔隙度下限，確定致密儲層的滲透率下限。
8.如權(quán)利要求7所述的致密儲層物性下限的確定方法，其特征在于，根據(jù)第一孔喉半徑分布范圍，確定孔喉半徑與孔隙度的擬合公式的擬合系數(shù)，包括：
獲得致密儲層的第一孔喉半徑分布范圍內(nèi)的多個孔喉中值半徑對應(yīng)的孔隙度；
根據(jù)每個孔喉中值半徑對應(yīng)的孔隙度，確定孔喉半徑與孔隙度的擬合公式的擬合系數(shù)。
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