[發(fā)明專利]半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置及該半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置的制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010160335.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112310104A | 公開(公告)日: | 2021-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金南局;李南宰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 愛思開海力士有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/11568 | 分類號(hào): | H01L27/11568;H01L27/11582 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 劉久亮;黃綸偉 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 存儲(chǔ)器 裝置 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置,該半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置包括:
摻雜半導(dǎo)體圖案,該摻雜半導(dǎo)體圖案包括主體部分以及在第一方向上從所述主體部分突出的第一突起;
第一溝道圖案,該第一溝道圖案設(shè)置在所述第一突起的頂表面上并在所述第一方向上延伸;
第一存儲(chǔ)器圖案,該第一存儲(chǔ)器圖案圍繞所述第一溝道圖案的側(cè)壁并且延伸以圍繞所述第一突起的側(cè)壁;以及
在所述第一方向上彼此交替地層疊的多個(gè)層間絕緣層和多個(gè)導(dǎo)電圖案,
其中,多個(gè)所述層間絕緣層和多個(gè)所述導(dǎo)電圖案中的每一個(gè)圍繞所述第一存儲(chǔ)器圖案。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置,其中,所述主體部分包括:
上圖案,該上圖案從所述第一突起沿著所述第一存儲(chǔ)器圖案的底表面延伸;
第一水平圖案,該第一水平圖案從所述上圖案平行于層疊結(jié)構(gòu)的底表面延伸,所述層疊結(jié)構(gòu)包括多個(gè)所述層間絕緣層和多個(gè)所述導(dǎo)電圖案;
聯(lián)接圖案,該聯(lián)接圖案在與所述第一方向相反的第二方向上從所述第一水平圖案延伸;以及
第二水平圖案,該第二水平圖案從所述聯(lián)接圖案平行于所述第一水平圖案延伸。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置,其中,所述摻雜半導(dǎo)體圖案還包括在與所述第一方向相反的第二方向上從所述主體部分突出的第二突起。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置,該半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置還包括:
第二溝道圖案,該第二溝道圖案設(shè)置在所述第二突起的底表面上;
第二存儲(chǔ)器圖案的圍繞所述第二突起的側(cè)壁的第一部分以及所述第二存儲(chǔ)器圖案的從所述第一部分延伸以圍繞所述第二溝道圖案的底表面和側(cè)表面的第二部分;以及
第一半導(dǎo)體層,該第一半導(dǎo)體層圍繞所述第二存儲(chǔ)器圖案并且與所述主體部分接觸。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置,其中,所述主體部分包括:
上圖案,該上圖案從所述第一突起沿著所述第一存儲(chǔ)器圖案的底表面延伸;
下圖案,該下圖案從所述第二突起沿著所述第二存儲(chǔ)器圖案的頂表面延伸;
第一水平圖案,該第一水平圖案從所述上圖案平行于層疊結(jié)構(gòu)的底表面延伸,所述層疊結(jié)構(gòu)包括多個(gè)所述層間絕緣層和多個(gè)所述導(dǎo)電圖案;
第二水平圖案,該第二水平圖案從所述下圖案平行于所述第一半導(dǎo)體層的頂表面延伸;以及
聯(lián)接圖案,該聯(lián)接圖案從所述第一水平圖案朝著所述第二水平圖案延伸。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置,其中,所述第一半導(dǎo)體層包括摻雜半導(dǎo)體層或未摻雜半導(dǎo)體層。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置,該半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置還包括設(shè)置在層疊結(jié)構(gòu)與所述主體部分之間的第二半導(dǎo)體層,其中,所述層疊結(jié)構(gòu)包括多個(gè)所述層間絕緣層和多個(gè)所述導(dǎo)電圖案。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置,其中,所述第二半導(dǎo)體層包括硅。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置,該半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置還包括形成在層疊結(jié)構(gòu)的側(cè)壁上的側(cè)壁絕緣層,其中,所述層疊結(jié)構(gòu)包括多個(gè)所述層間絕緣層和多個(gè)所述導(dǎo)電圖案。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置,其中,所述摻雜半導(dǎo)體圖案包括摻雜硅。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于愛思開海力士有限公司,未經(jīng)愛思開海力士有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010160335.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 用于控制非易失性存儲(chǔ)器的控制器
- 處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、系統(tǒng)LSI及其驗(yàn)證方法
- 存儲(chǔ)和檢索處理系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)和性能監(jiān)視方法
- 用于控制半導(dǎo)體裝置的方法
- 存儲(chǔ)器存儲(chǔ)裝置及其測(cè)試方法
- 存儲(chǔ)器裝置及可促進(jìn)張量存儲(chǔ)器存取的方法
- 使用雙通道存儲(chǔ)器作為具有間隔的單通道存儲(chǔ)器
- 用于管理存儲(chǔ)器訪問操作的方法和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置和存儲(chǔ)裝置的操作方法
- 具有部分組刷新的存儲(chǔ)器
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法





