[發(fā)明專利]一種插件夾爪檢測(cè)工藝、系統(tǒng)及夾爪在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010160202.8 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111336918A | 公開(公告)日: | 2020-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林靜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市興華煒科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/00 | 分類號(hào): | G01B11/00;G01B11/26;G06K7/10 |
| 代理公司: | 深圳市科冠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44355 | 代理人: | 蔣芳霞 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 插件 檢測(cè) 工藝 系統(tǒng) | ||
1.一種插件夾爪檢測(cè)工藝,其特征在于,實(shí)現(xiàn)方法如下:在夾爪上對(duì)稱位置標(biāo)記兩個(gè)以上標(biāo)記點(diǎn),在檢測(cè)時(shí),采集含有多個(gè)所述標(biāo)記點(diǎn)的圖像,通過識(shí)別所述圖像中的標(biāo)記點(diǎn)狀態(tài)及位置來判斷夾爪的傾斜狀態(tài)以及中心位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的插件夾爪檢測(cè)工藝,其特征在于,還包括方法:在夾爪上不影響物料識(shí)別的位置設(shè)置可識(shí)別的識(shí)別碼,檢測(cè)時(shí),通過識(shí)別所述識(shí)別碼來判定夾爪的型號(hào),并根據(jù)夾爪的型號(hào)調(diào)整需要的對(duì)標(biāo)記點(diǎn)識(shí)別的參數(shù)設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的插件夾爪檢測(cè)工藝,其特征在于,還包括方法:通過識(shí)別所述識(shí)別碼的位置,判斷夾爪的高度,根據(jù)對(duì)標(biāo)記點(diǎn)識(shí)別需要對(duì)夾爪的高度進(jìn)行調(diào)整。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的插件夾爪檢測(cè)工藝,其特征在于,還包括方法:所述識(shí)別碼采用激光標(biāo)記的2D條碼,以底光相機(jī)識(shí)別該2D條碼,并與設(shè)定的夾爪型號(hào)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較判斷是否相符,如果無法識(shí)別或者識(shí)別不符合,則報(bào)警。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一所述的插件夾爪檢測(cè)工藝,其特征在于,還包括方法:設(shè)置標(biāo)記點(diǎn)的顏色參數(shù),在對(duì)標(biāo)記點(diǎn)的識(shí)別包括顏色的識(shí)別,當(dāng)識(shí)別的顏色參數(shù)與設(shè)置的顏色參數(shù)超出一設(shè)定值時(shí),進(jìn)行脫色報(bào)警。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一所述的插件夾爪檢測(cè)工藝,其特征在于,對(duì)夾爪的中心位置判斷包括方法:旋轉(zhuǎn)夾爪,并多次曝光夾爪,獲得多個(gè)旋轉(zhuǎn)后的圖像,通過測(cè)試標(biāo)記點(diǎn)的一系列旋轉(zhuǎn)后的位置,獲取夾爪的實(shí)際中心旋轉(zhuǎn)位置,并計(jì)算其與理論中心位置的差值,如果差值超過設(shè)定值,則判定為出現(xiàn)偏移情況。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一所述的插件夾爪檢測(cè)工藝,其特征在于,還包括方法:設(shè)置標(biāo)記點(diǎn)的數(shù)量、位置以及形狀,將所述圖像中的標(biāo)記點(diǎn)的數(shù)量、位置以及形狀與預(yù)設(shè)的值進(jìn)行比較,判定是否到位和是否傾斜。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一所述的插件夾爪檢測(cè)工藝,其特征在于,還包括方法:設(shè)置夾爪距離采集所述圖像的采集設(shè)備的焦點(diǎn)距離,采集設(shè)備采用由下至上或由上至下的方向采集圖像,根據(jù)圖像的清晰度判定夾爪高度是否到位。
9.一種插件夾爪檢測(cè)系統(tǒng),根據(jù)權(quán)利要求1-8任一所述的插件夾爪檢測(cè)工藝,其特征在于,包括采集圖像的采集設(shè)備和處理主機(jī);所述處理主機(jī)設(shè)置有識(shí)別分析模塊、標(biāo)記點(diǎn)設(shè)置模塊以及識(shí)別碼設(shè)置模塊;
所述識(shí)別分析模塊,用于接收并處理所述采集設(shè)備采集的圖像,通過識(shí)別所述圖像中的標(biāo)記點(diǎn)狀態(tài)及位置來判斷夾爪的傾斜狀態(tài)以及中心位置,還用于識(shí)別所述圖像中的識(shí)別碼;
標(biāo)記點(diǎn)設(shè)置模塊,用于設(shè)置標(biāo)記點(diǎn)位置、數(shù)量、顏色和形狀中一種或多種,以及設(shè)置夾爪高度,和測(cè)試中心位置與理論夾爪中心位置允許的最大誤差范圍值;
識(shí)別碼設(shè)置模塊,用于設(shè)置識(shí)別碼位置、夾爪高度和底光亮度中一種或多種。
10.一種夾爪,根據(jù)權(quán)利要求1-8任一所述的插件夾爪檢測(cè)工藝,其特征在于,包括夾爪本體和設(shè)置在其一側(cè)的L型的安裝板;所述安裝板的橫向邊的上表面或下表面設(shè)置有標(biāo)記所述夾爪型號(hào)的識(shí)別碼,所述安裝板的橫向邊的上表面或下表面對(duì)稱設(shè)置有多個(gè)標(biāo)記點(diǎn)。
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