[發明專利]一種芯片量產測試方法

有效

• 申請號: 202010158178.4
• 申請日: 2020-03-09
• 公開（公告）號: CN111366842B
• 公開（公告）日: 2022-04-22
• 發明（設計）人: 劉一杰;李建軍;莫軍
• 申請（專利權）人: 廣芯微電子（廣州）股份有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郭浩輝;麥小嬋

1.一種芯片量產測試方法，其特征在于，適用于芯片量產測試系統，所述芯片量產測試系統包括：

第一功能寄存器、第一選擇器、存儲器、第二選擇器、第二功能寄存器、旁路寄存器和控制器；

所述第一功能寄存器的輸出端與所述第一選擇器的第二輸入端連接；所述第一選擇器的輸出端分別與所述存儲器以及所述旁路寄存器的輸入端連接；

所述旁路寄存器的輸出端與所述第二選擇器的第二輸入端連接；

所述存儲器的輸出端分別與所述第二選擇器的第一輸入端和所述控制器的輸入端連接；所述第二功能寄存器的輸入端與所述第二選擇器的輸出端連接；

所述控制器的輸出端與所述第一選擇器的第一輸入端連接，所述控制器的輸入端與所述存儲器的輸出端連接；

所述芯片量產測試方法包括：

控制所述存儲器內建自測試控制邏輯，對所述第一功能寄存器插入掃描鏈，且所述掃描鏈的邏輯不包括所述自測試控制邏輯；

所述第一選擇器接收所述控制器發送的存儲器自測試模式信號，所述第一選擇器根據所述存儲器自測試模式信號選擇信號輸入端為所述第一功能寄存器或所述自測試控制邏輯；

當所述信號輸入端為所述第一功能寄存器，則通過時鐘系統控制邏輯識別所述第一功能寄存器中的掃描鏈工作模式；所述掃描鏈的工作模式包括低速工作模式和高速工作模式；

若識別到所述工作模式為低速掃描模式，通過所述時鐘控制邏輯控制所述存儲器自測試模式為0，以及控制旁路模式為1，對待測試芯片進行低速掃描；

若識別到所述工作模式為高速掃描模式，通過所述時鐘控制邏輯控制存儲器自測試模式為0，以及控制旁路模式為0，對所述待測試芯片進行高速掃描；

當所述信號輸入端為所述自測試控制邏輯，則通過所述時鐘控制邏輯控制所述存儲器自測試模式為1，以及控制所述旁路模式為0，對所述待測試芯片進行自測試。

2.如權利要求1所述的芯片量產測試方法，其特征在于，還包括通過所述時鐘控制邏輯控制存儲器自測試模式為1，以及控制旁路模式為1，同時對所述待測試芯片的進行低速掃描和自測試。

3.如權利要求1所述的芯片量產測試方法，其特征在于，所述通過所述時鐘控制邏輯控制所述存儲器自測試模式為1，以及所述控制旁路模式為0，具體為：

通過所述時鐘控制邏輯控制所述第一選擇器選擇所述存儲器自測試模式為1，通過所述時鐘控制邏輯控制所述第二選擇器選擇所述旁路模式為0。

4.如權利要求1所述的芯片量產測試方法，其特征在于，所述通過所述時鐘控制邏輯控制所述存儲器自測試模式為0，以及控制所述旁路模式為0，具體為：

通過所述時鐘控制邏輯控制所述第一選擇器選擇所述存儲器自測試模式為0，通過所述時鐘控制邏輯控制所述第二選擇器選擇所述旁路模式為0。

5.如權利要求1所述的芯片量產測試方法，其特征在于，通過所述時鐘控制邏輯控制所述存儲器自測試模式為0，以及控制所述旁路模式為1，具體為：

通過所述時鐘控制邏輯控制所述第一選擇器選擇所述存儲器自測試模式為0，通過所述時鐘控制邏輯控制所述第二選擇器選擇所述旁路模式為1。

6.如權利要求2所述的芯片量產測試方法，其特征在于，所述通過所述時鐘控制邏輯控制所述存儲器自測試模式為1，以及控制所述旁路模式為1，具體為：

通過所述時鐘控制邏輯控制所述第一選擇器選擇所述存儲器自測試模式為1，通過所述時鐘控制邏輯控制所述第二選擇器選擇所述旁路模式為1。

7.如權利要求1所述的芯片量產測試方法，其特征在于，所述第一選擇器用于選擇工作模式是否為存儲器自測試模式；所述第二選擇器用于選擇工作模式是否為旁路模式。