[發明專利]一種NVME硬盤測試治具及測試方法在審
| 申請號： | 202010154807.6 | 申請日： | 2020-03-08 |
| 公開（公告）號： | CN111462809A | 公開（公告）日： | 2020-07-28 |
| 發明（設計）人： | 孫一心 | 申請（專利權）人： | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105 | 代理人： | 黃曉燕 |
| 地址： | 215100 江蘇省蘇州市吳*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 nvme 硬盤 測試 方法 | ||
本發明涉及硬盤測試技術領域，提供一種NVME硬盤測試治具及測試方法，NVME硬盤測試治具包括現場可編程門陣列、內存、硬盤接口、電源插槽和若干個LED；現場可編程門陣列，與所述內存、硬盤接口以及若干個所述LED連接，用于當識別到所述硬盤接口插入的待測NVME硬盤時，結合所述內存執行對所述待測NVME硬盤的測試項，并通過若干個所述LED分別顯示對應測試項的測試結果，從而提供一種專門的NVME硬盤的測試治具，提高NVME硬盤的測試效率，提高生產效率和生產直通率。
技術領域
本發明屬于硬盤測試技術領域，尤其涉及一種NVME硬盤測試治具及測試方法。
背景技術
非易失性存儲(Non-Volatile Memory，NVME)硬盤屬于目前較為高端的一種硬盤形態，屬于固態硬盤(Solid State Drive，SSD)的一種，具有穩定性高、傳輸速率快、壽命長、價格昂貴的特點，目前在服務器領域使用較多，主要應用在對存儲要求較高的領域，例如數據庫、金融以及通信等領域。由于NVME硬盤價格昂貴，所以在IQC階段，甚至在服務器生產之前都需要對NVME硬盤進行檢測，將存在質量隱患的硬盤剔除，保證生產效率和生產直通率。
目前，NVME硬盤的檢測主要是在服務器整機上進行檢測，具體方法是將某些服務器固化為測試設備，將硬盤插入服務器進行檢測，這種測試方法速度慢、效率低，很難滿足大規模生產檢測的要求。
發明內容
針對現有技術中的缺陷，本發明提供了一種NVME硬盤測試治具，旨在解決現有技術中硬盤的測試通過插入服務器，通過服務器進行測試，這種測試方法速度慢、效率低，很難滿足大規模生產檢測的要求的問題。
本發明所提供的技術方案是：一種NVME硬盤測試治具，包括現場可編程門陣列、內存、硬盤接口、電源插槽和若干個LED；
所述電源插槽，用于插入外接的供電單元PSU，為所述現場可編程門陣列和內存供電；
所述內存，用于為所述現場可編程門陣列提供運行緩存；
所述現場可編程門陣列，與所述內存、硬盤接口以及若干個所述LED連接，用于當識別到所述硬盤接口插入的待測NVME硬盤時，結合所述內存執行對所述待測NVME硬盤的測試項，并通過若干個所述LED分別顯示對應測試項的測試結果，其中，所述測試項包括帶寬測試項、速率測試項、SMART測試項以及讀寫測試項。
作為一種改進的方案，所述電源插槽引出的供電線路上級聯有四個電源穩壓器，分別記為第一電源穩壓器、第二電源穩壓器、第三電源穩壓器和第四電源穩壓器；
所述第一電源穩壓器設有兩個輸出端，一個輸出端與所述第二電壓穩壓器連接，另一個輸出端輸出5V電壓；
所述第二電源穩壓器設有兩個輸出端，一個輸出端與所述第三電壓穩壓器連接，另一個輸出端引出P3V3線路為所述現場可編程門陣列供電；
所述第三電源穩壓器設有兩個輸出端，一個輸出端與所述第四電壓穩壓器連接，另一個輸出端引出P1V8線路為所述現場可編程門陣列供電；
所述第四電源穩壓器設有一個輸出端，該輸出端引出P1V線路為所述現場可編程門陣列和內存供電。
作為一種改進的方案，所述現場可編程門陣列包括：
帶寬測試模塊，用于當識別到所述硬盤接口插入的待測NVME硬盤時，控制與待測NVME硬盤進行通信交互，獲取所述待測NVME硬盤的帶寬，并判斷獲取到的所述待測NVME硬盤的帶寬是否正常；
速率測試模塊，用于當識別到所述硬盤接口插入的待測NVME硬盤時，控制與待測NVME硬盤進行通信交互，獲取所述待測NVME硬盤的速率，并判斷獲取到的所述待測NVME硬盤的速率是否正常；
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