[發明專利]在具有機械的組裝環境中的接近檢測

在審

• 申請號: 202010150853.9
• 申請日: 2020-03-06
• 公開（公告）號: CN111796262A
• 公開（公告）日: 2020-10-20
• 發明（設計）人: K·鄭;F·蔡;F·西斯科
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01S13/04
• 分類號: G01S13/04;G01S13/46;G01S17/04;G01S17/48
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王小東;黃綸偉

1.一種在組裝環境(130)中報告接近的方法(200)，該方法(200)包括以下步驟：

為技術人員(150,920)配備(202)第一接近檢測器(160,300,410,1260)；

在所述組裝環境(130)的單元(132,133,910,1200)內移動的機器(140,950,1030,1250)處設置(204)第二接近檢測器(162,300,420,430,1290)；

當存在遮擋物(170,1000)時，操作(210)所述單元(132,133,910,1200)處的傳感器(120,940,1028,1270)以經由反射鏡(180,942,1299)間接檢測所述第一接近檢測器(160,300,410,1260)的位置和所述第二接近檢測器(162,300,420,430,1290)的位置；以及

如果所述第一接近檢測器(160,300,410,1260)和所述第二接近檢測器(162,300,420,430,1290)之間的距離小于閾值，則向所述技術人員(150,920)提供(214)警告。

2.根據權利要求1所述的方法(200)，該方法還包括以下步驟：

確定(206)所述單元(132,133,910,1200)內是否存在所述遮擋物(170,1000)；以及

當不存在所述遮擋物(170,1000)時，操作(208)所述單元(132,133,910,1200)處的所述傳感器(120,940,1028,1270)以直接檢測所述第一接近檢測器(160,300,410,1260)的位置和所述第二接近檢測器(162,300,420,430,1290)的位置。

3.根據權利要求2所述的方法(200)，其中：

確定(206)所述單元(132,133,910,1200)內是否存在所述遮擋物(170,1000)的步驟基于來自所述傳感器(120,940,1028,1270)的輸入來執行。

4.根據權利要求1所述的方法(200)，其中：

操作(210)所述單元(132,133,910,1200)處的傳感器(120,940,1028,1270)以經由反射鏡(180,942,1299)間接檢測所述第一接近檢測器(160,300,410,1260)的位置和所述第二接近檢測器(162,300,420,430,1290)的位置的步驟包括將所述傳感器(120,940,1028,1270)指向所述反射鏡(180,942,1299)中的至少一個。

5.根據權利要求1所述的方法(200)，其中：

操作(210)所述單元(132,133,910,1200)處的傳感器(120,940,1028,1270)以經由反射鏡(180,942,1299)間接檢測所述第一接近檢測器(160,300,410,1260)的位置和所述第二接近檢測器(162,300,420,430,1290)的位置的步驟包括調節通過所述傳感器(120,940,1028,1270)中的至少一個檢測信號的采樣窗口。

6.根據權利要求1所述的方法(200)，其中：

操作(210)所述傳感器(120,940,1028,1270)的步驟包括發送超寬帶UWB信號。

7.根據權利要求1所述的方法(200)，該方法還包括以下步驟：

基于來自所述第一接近檢測器(160,300,410,1260)處的慣性測量單元IMU(395)的輸入來更新所述距離。